孔内表面的光学检测方法
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101109716A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710142856.2

    申请日:2007-08-01

    Abstract: 本发明提供一种孔内表面的光学检测方法,其具体包括以下步骤:a.将照明光源放入孔内并使其发光照明孔内周面;b.用沿孔轴线方向设置的成像装置拾取照明光源照射到孔内壁上反射回来的光;c.使照明光源和成像装置沿孔轴线同步移动,并对由成像装置识别到的信号进行处理,获得孔内表面展开图像。可实现对孔内表面的精确检测,而且条件限制小,检测速度快,检测范围广,检测精度高,检测结果容易进行图形化直观表达。

    光学测孔方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101109623A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710142862.8

    申请日:2007-08-01

    Abstract: 本发明提供一种光学测孔方法,包括如下步骤:a.将激光光源放入待测孔内并使其发光;b.用与激光光源相间设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光;c.对由光拾取装置拾取到的信号进行处理。通过使用该方法,可非接触、高效且精度较高地测孔。

    孔容积的光学测量方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101109621A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710142859.6

    申请日:2007-08-01

    Abstract: 本发明提供一种孔容积的光学测量方法,其包括以下步骤:a.将激光光源放入待测孔内并使其发光;b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光;c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进;d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射的光,取得孔待测终点前的所有数据,对所述数据进行处理得出孔容积。这样,可通过非接触的方式实现孔容积的高精度的测量。

    光学测孔装置
    15.
    实用新型

    公开(公告)号:CN201837368U

    公开(公告)日:2011-05-18

    申请号:CN201020201509.X

    申请日:2010-05-25

    Abstract: 本实用新型提供一种光学测孔装置,其具有同向配置的用于发出激光的激光光源和光拾取装置,还具有反光构件,所述光拾取装置用于接收被待测表面反射的来自所述激光光源的光,所述反光构件配设在所述光学测孔装置的一端,所述激光光源或光拾取装置配设在所述光学测孔装置的另一端。该装置结构简单、可非接触测量、测量效率高、测量准确。

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