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公开(公告)号：CN119544570A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411406770.6
申请日：2024-10-10
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04L43/18 , H04L12/40 , H04L41/147 , H04L41/14
Abstract: 本发明提供一种光伏设备的协议识别方法、系统、计算机设备及存储介质。本发明首先对可能存在光伏设备的地址进行预测，以提高查询效率，节约查询时间，从预先构建的Modbus协议库中选取目标Modbus协议对预测的地址进行轮询，以确认该预测地址是否存在光伏设备以及存在的光伏设备是否为目标光伏设备，在预测地址存在光伏设备的情况下，再次向该光伏设备发送目标Modbus协议，以进一步核实该光伏设备的类型，降低了误识别率，提高了光伏设备的协议匹配过程的识别准确率，保证了整个协议自动识别过程的效率。
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公开(公告)号：CN110008169A
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201910288665.X
申请日：2019-04-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F13/42
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的通信方法，其中，安全芯片与主控芯片通过SPI接口进行通信，通信方法包括：主控芯片对SPI接口进行初始化；主控芯片将SIP接口的片选信号置低，向安全芯片发送指令信息，发送完成后将该片选信号置高，其中，指令信息包括起始标识以及指令内容；安全芯片执行指令内容，在执行完成后，发送响应信息，其中，响应信息包括：起始标识以及响应状态字；主控芯片将片选信号置低，获取安全芯片的响应信息；主控芯片判断响应信息的起始标识是否为第一预设标识，若是则读取响应信息，并将片选信号置高。本发明提供的安全芯片的通信方法，提高了安全芯片的处理效率，提高数据传输的安全性。
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公开(公告)号：CN119211067A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411334822.3
申请日：2024-09-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明实施例公开了一种物联表管理模组检测装置及方法。该物联表管理模组检测装置包括：手柄控制模块、主控模块、检测模块、接口模块以及上位模块；物联表管理模组包括单相物联表管理模组和三相物联表管理模组；主控模块控制手柄控制模块固定物联表管理模组与检测模块连接，产生检测起始指令；上位模块根据检测起始指令下发目标程序和检测指令；主控模块在物联表管理模组运行目标程序时根据检测指令控制检测模块对物联表管理模组进行硬件检测、软件检测或入库抽检，获得检测结果；主控模块将检测结果反馈给上位模块。本案可以自动对不同类型的物联表管理模组的软硬件进行检测、兼顾程序发行，从而提高物联表管理模组的检测成本和检测效率。
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公开(公告)号：CN109254929B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201811029997.8
申请日：2018-09-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F12/0811 , G06F12/0877 , G06F11/14
Abstract: 本发明公开了一种实现数据被可靠写入芯片的方法。该方法包括：将写保护标志位进行置位，将数据写入RAM缓冲区，若完成该写入操作，则将该写保护标志清除；将写入RAM缓冲区的数据提交到镜像缓冲区；将镜像缓冲区保护标记进行置位，将所述镜像缓冲区的数据写入目标区，该目标区具有一个或多个目标地址。根据本发明的实现数据被可靠写入芯片的方法能够避免发生意外掉电时写入芯片的数据不可靠。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119997258A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510005042.2
申请日：2025-01-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04W76/10 , G08C17/02 , H04W72/0453
Abstract: 本申请公开了一种通信方法、通信装置、电子设备和可读存储介质，属于通信技术领域。该方法包括：根据接收到的目标被测表计的表号，查询当前各检测装置的空余检定位，确定目标被测表计对应的目标检测装置的目标检定位；确定目标被测表计对应的表号、通信频率和通信地址间的绑定关系；向目标检测装置发送所述绑定关系，以使得目标被测表计根据通信频率和通信地址，与目标检测装置建立通信连接。本申请根据检测装置的坐标和检定位的位号确定通信频率，优化了被测表计与检测装置之间的通信连接建立过程，提高了通信频率的利用率。
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公开(公告)号：CN119106436A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202411250520.8
申请日：2024-09-06
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F21/57
Abstract: 本发明公开了一种系统启动时的安全校验方法、装置、设备、介质和产品。该方法包括：响应于上电复位操作，确定第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序；按照软件启动顺序进行逐次循环校验，得到对应的校验结果；其中，校验至少包括下述之一：第一类型软件和第二类型软件之间的安全校验、接入系统的第三方机构校验、反校验；在校验结果通过的情况下，确定系统安全启动。本发明实施例，通过在系统启动过程中，确定所包含第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序，按照软件启动顺序进行逐次循环校验和反校验，形成三方循环校验的方式，实现系统的安全启动校验。
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公开(公告)号：CN112416669B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202011171244.8
申请日：2020-10-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。
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公开(公告)号：CN112416669A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN202011171244.8
申请日：2020-10-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。
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公开(公告)号：CN109254929A
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201811029997.8
申请日：2018-09-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F12/0811 , G06F12/0877 , G06F11/14
Abstract: 本发明公开了一种实现数据被可靠写入芯片的方法。该方法包括：将写保护标志位进行置位，将数据写入RAM缓冲区，若完成该写入操作，则将该写保护标志清除；将写入RAM缓冲区的数据提交到镜像缓冲区；将镜像缓冲区保护标记进行置位，将所述镜像缓冲区的数据写入目标区，该目标区具有一个或多个目标地址。根据本发明的实现数据被可靠写入芯片的方法能够避免发生意外掉电时写入芯片的数据不可靠。
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