一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面及测试系统

    公开(公告)号:CN117784291B

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202311810095.9

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本发明提供了一种基于光子晶体的宽谱段多光谱超表面,包括阵列的多个光子晶体单元结构;每一个所述光子晶体单元结构包括3×3组光子晶体阵列,每一组光子晶体具有不同周期的光子晶体;每一组光子晶体阵列的参数如下:光子晶体的厚度为光子晶体的晶格常数的一半,光子晶体的孔穴半径为0.4μm~2.8μm,光子晶体的晶格常数为1μm~3.6μm;光子晶体阵列的相邻两行之间,对应的光子晶体之间的连线与水平线的夹角θ为30°~90°。本发明实现对不同波段光的准确识别和测量,长波红外8‑10μm激光的多光谱兼容和识别。

    一种片上单模光波导有效折射率的测量方法

    公开(公告)号:CN118392825A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410323959.2

    申请日:2024-03-20

    Abstract: 本申请涉及片上单模光波导测量领域,公开了一种片上单模光波导有效折射率的测量方法,包括以下步骤:S1、提供一个测量系统;S2、输入光,并获取两个马赫曾德干涉结构的归一化光谱;S3、在相同波段内,记录光谱中多个连续波谷的波长值;S4、确定第一马赫曾德干涉结构第一个波谷的级次系数K;S5、利用级次系数K,构建第一和第二散点集,并计算对应的有效折射率;S6、对相同K取值时的第一和第二散点集进行合并,并进行曲线拟合;S7、通过比较不同K值时的曲线拟合度,确定最高拟合度对应的K值。本发明能够高效地确定片上单模波导有效折射率的实际值和干涉光谱中波谷的级次,解决了片上单模波导有效折射率难以准确测量的问题。

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