公开(公告)号：CN112435706B

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN202011226061.1

申请日：2020-11-05

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 蒋玉茜 ,  王西国 ,  董攀

IPC: G11C16/34 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种非易失性存储器应用级擦写寿命评价方法。针对不同应用领域对非易失性存储器擦写寿命要求不同的情况，在芯片可靠性认证中加入应用级擦写寿命测试，尽可能多地覆盖应用场景，统计和分析应用场景中的应用文件和应用数据更新频次，模拟应用中的存储空间分配和擦写寿命频次，测试非易失性存储器应用级擦写寿命。本发明提出的应用级擦写寿命测试方法，有效地评价非易失性存储器的应用级可靠性水平。

公开(公告)号：CN115391842A

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202211017010.7

申请日：2022-08-22

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 王哲 ,  董攀

IPC: G06F21/71 ,  G06F9/445 ,  G06F9/50 ,  G06F3/06

Abstract: 一种可动态配置安全算法库的芯片设计方法，可以实现安全算法存储空间的动态映射，从而在算法应用需求与用户空间大小达到动态平衡，满足安全需求和应用需求。首先将安全算法划分为若干个最小单元，芯片生产时将最小单元合集下载到存储器中，通过软硬件配合实现算法区多次重映射，释放用户空间，适配多种应用领域的需求。本专利仅提供一种设计方法，并不局限于开发者使用任何软硬件实施方式实现。

公开(公告)号：CN114064367A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202111267455.6

申请日：2021-10-29

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 杨帆 ,  王哲 ,  董攀

IPC: G06F11/22

Abstract: 一种多种接口时序兼容性验证方法，设计并开发FPGA芯片电路，包括5个模块，分别是接口解析模块、存储模块、主控电路单元模块、时钟处理模块、协议处理模块。配置上位机与FPGA芯片电路的通讯接口，使用上位机软件下发测试时序向量存储指令、时钟配置指令、接口协议选择指令、测试指令、测试结果读取指令。通过接口解析模块解析上位机指令，通过主控电路单元模块协调控制FPGA电路各模块，实现验证时序向量存储功能、选择高频时钟并对时钟信号进行处理功能、选择接口协议并对目标接口时序进行协议特性配置功能、时序测试功能、测试结果读取功能。通过灵活的指令配置，从而满足对从设备接口时序验证的要求，直观准确的测试出从设备的时序兼容性性能。

公开(公告)号：CN112435706A

公开(公告)日：2021-03-02

申请号：CN202011226061.1

申请日：2020-11-05

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 蒋玉茜 ,  王西国 ,  董攀

IPC: G11C16/34 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种非易失性存储器应用级擦写寿命评价方法。针对不同应用领域对非易失性存储器擦写寿命要求不同的情况，在芯片可靠性认证中加入应用级擦写寿命测试，尽可能多地覆盖应用场景，统计和分析应用场景中的应用文件和应用数据更新频次，模拟应用中的存储空间分配和擦写寿命频次，测试非易失性存储器应用级擦写寿命。本发明提出的应用级擦写寿命测试方法，有效地评价非易失性存储器的应用级可靠性水平。

公开(公告)号：CN205158348U

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201520850399.2

申请日：2015-10-30

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 董攀 ,  温家宝 ,  刘剑峰 ,  王西国 ,  王丰

IPC: G06F13/40

Abstract: 本实用新型公开了一种USB设备热插拔检测系统，包括：USB设备自动热插拔平台、USB集线器、主控计算机以及程控电源；其中，所述USB设备自动热插拔平台用于连接待检测USB设备，所述USB设备自动热插拔平台还通过USB集线器连接主控计算机；所述主控计算机连接程控电源，所述程控电源连接所述USB设备自动热插拔平台。

公开(公告)号：CN207516987U

公开(公告)日：2018-06-19

申请号：CN201721318310.3

申请日：2017-10-12

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 董攀 ,  蒋玉茜

IPC: G06F11/22

Abstract: 本实用新型公开了一种支持多USB接口设备的可靠性同测装置，该装置包括：多通道可编程电源控制模块、USB多通道连接模块、多通道电流监控模块、微控制器和USB接口插件。所述的支持多USB接口设备可靠性同测装置，能够在-40℃和125℃下工作，具有能够控制USB接口设备的工作电源、控制USB接口设备与PC机的切断和连接以及在USB接口设备工作过程中检测每个USB接口设备的工作电流的能力，具有对多USB接口设备实现高低温下长时通讯的可靠性同测能力。