公开(公告)号：CN103698682A

公开(公告)日：2014-04-02

申请号：CN201310714296.9

申请日：2013-12-20

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 张大宇 ,  宁永成 ,  刘迎辉 ,  齐向昆 ,  张海明 ,  张红旗 ,  蒲瑞民 ,  刘艳秋 ,  王贺 ,  丛山

IPC: G01R31/26 ,  G05B19/042

CPC classification number: Y02P90/265

Abstract: 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。

公开(公告)号：CN118449093A

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202410514121.1

申请日：2024-04-26

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 谷重阳 ,  郑岩 ,  李培蕾 ,  吕倩倩 ,  于利夫 ,  张伟 ,  张海明 ,  谷瀚天 ,  宋春蕊

IPC: H02H3/24 ,  H02H7/20

Abstract: 本发明公开了一种大功率航天器用模块电源输入欠压保护电路，本发明提出了一个结构简单、高可靠的大功率航天器用模块电源输入欠压保护电路，电路中外部输入电压通过电压检测分压电阻串联分压后与精密电压源的基准电压端相连，限流电阻位于外部输入电压正线与精密电压源阴极之间，第一分压电阻串联后设置于精密电压源阴极、外部输入电压回线间，旁路三极管的集电极、发射极分别与电压检测分压电阻中电阻两端相连，旁路三极管、控制三极管的集电极接第一分压电阻的中点，控制三极管的发射级与外部输入电压的回线相连，控制三极管的集电极输出欠压保护电路的控制信号。

公开(公告)号：CN111125876B

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN201911129146.5

申请日：2019-11-18

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 张伟 ,  李楠 ,  张海明 ,  吴照玺 ,  谷瀚天

IPC: G06F30/20

Abstract: 本发明提供了一种无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估方法，该方法包括以下步骤：步骤1：进行锡须生长激发试验；步骤2：锡须特征参数测定；步骤3：锡须生长分布规律分析及锡须生长特征模型建立；步骤4：无铅元器件互连焊点锡须触碰风险评估。本发明以无铅元器件为研究对象，针对无铅元器件互连焊点的锡须生长问题，进行锡须生长试验，结合锡须生长特征参数，进行锡须生长长度、锡须生长密度、锡须生长角度的测定，针对试验数据进行统计分析，得到锡须的生长分布规律和生长特征模型，利用蒙特卡洛分析算法评估无铅元器件互连焊点锡须的触碰风险。本发明为评估无铅元器件互连焊点锡须触碰风险提供了可靠的技术基础。

公开(公告)号：CN114155197A

公开(公告)日：2022-03-08

申请号：CN202111314595.4

申请日：2021-11-08

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 张海明 ,  唐章东 ,  李璇 ,  王征 ,  范晓明 ,  辛奇 ,  王雪生 ,  王贺 ,  刘敏 ,  范壮壮 ,  高华兴

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/10 ,  G06T7/194 ,  G06T7/73 ,  G01N23/04 ,  G06V10/74 ,  G06T5/00 ,  G06T5/10

Abstract: 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标元器件图像；通过预设图像分割算法，将目标元器件图像从所述第二图像中分割出来；基于局部信息熵结合区域生长算法，对所述X射线图像中的多余物进行检测，以检测到所述目标元器件的缺陷。本申请实施例提供的元器件缺陷检测方法，高效且可节省大量人力资源，所得检测结果准确、可靠。

公开(公告)号：CN102332307A

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：CN201110214108.7

申请日：2011-07-28

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 刘迎辉 ,  张大宇 ,  于庆奎 ,  唐民 ,  宁永成 ,  孟猛 ,  张海明 ,  李鹏伟 ,  罗磊

IPC: G11C29/08

Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。

公开(公告)号：CN119518594A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411610684.7

申请日：2024-11-12

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 梅博 ,  孙毅 ,  莫日根 ,  吕贺 ,  刘景怡 ,  张延伟 ,  张海明 ,  张洪伟

IPC: H02H3/08 ,  G01R19/165 ,  G01R19/25 ,  H02H1/00

Abstract: 本发明公开了一种电子元器件单粒子锁定防护装置，包括主控模块、电源模块、开关模块、数据采集模块、数据储存模块、阈值比较模块、通信协议模块、负载模块等。主要原理是，通过检测被试器件的工作电流和输出功能，判定器件是否发生单粒子锁定效应；当检测到器件电流异常增大或减小时，读取被试器件的工作状态，如果工作状态也发生异常，则认为发生单粒子锁定效应，此时控制模块通过控制开关电源给被试器件断电，确保器件完全断电后，再控制电源模块给器件重新上电，并检测被试器件电流和功能是否正常，如果正常，则认为器件单粒子锁定效应防护成功。

公开(公告)号：CN119517144A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411627727.2

申请日：2024-11-14

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 张海明 ,  张大宇 ,  万旺 ,  祝名 ,  宁永成 ,  梁培哲 ,  王贺 ,  张松

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明涉及一种宇航用双倍速率同步动态随机存储器的压力测试装置，属于宇航元器件质量保证和测试技术领域。采用本发明的装置可用于宇航高可靠领域用双倍速率同步动态随机存储器的压力测试，作为所选用双倍速率同步动态随机存储器在宇航应用场景下的性能和稳定性测试平台，配合测评软件和典型用例评价全温度范围内双倍速率同步动态随机存储器的性能指标。