用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备

    公开(公告)号:CN108562612A

    公开(公告)日:2018-09-21

    申请号:CN201810607814.X

    申请日:2018-06-13

    Abstract: 本发明公开了一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备。其中样品杆装置包括真空管,真空罩体,悬置在真空罩体容腔内的导热板以及放置在导热板板面上的样品组件;样品组件包括稳温端底座,发射端顶座以及屏蔽罩体;稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔;样品组件还包括有悬置于所述容纳腔内的吸收端样品件以及发射端样品件。本发明提供的样品杆装置可实现低温环境下不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试;此外本发明提供的测试设备,通过以制冷机为冷源的低温装置与样品杆装置的配合,使得低温环境下对不同材料的样品件的吸收率和发射率的测试操作更简便,测试的可靠性及效率更高。

    一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置

    公开(公告)号:CN106442895B

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201611042824.0

    申请日:2016-11-21

    Abstract: 本发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置,包括低温装置、气体吸附仪和进气管路;低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩;所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源,其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖,导致实验操作复杂,造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。

    材料表面发射率测量装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119354924A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202310909525.6

    申请日:2023-07-24

    Abstract: 本发明提供一种材料表面发射率测量装置,包括真空罩、发射率测量组件和制冷设备。发射率测量组件设置在真空罩的内部,发射率测量组件用于测量黑体和样品的发射率,真空罩用于为发射率的测量提供真空环境。制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部,制冷设备用于为发射率测量组件提供冷量。真空罩和制冷设备为发射率的测量提供真空低温环境,可以有效的降低背景噪声。与相关技术中制冷设备与发射率测量组件刚性连接传递冷量的方式相比,本发明中的制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部,可以有效阻断制冷设备的振动传递至发射率测量组件,使测量过程中,发射率测量组件更加稳定,有效提高测量的准确率。

    热开关装置及低温测试设备

    公开(公告)号:CN114486980B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202011147201.6

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本发明适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

    一种阀门低温检漏系统及检漏方法

    公开(公告)号:CN110082046B

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN201910343563.3

    申请日:2019-04-26

    Abstract: 本发明涉及阀门低温检漏测试技术领域,尤其涉及一种阀门低温检漏系统及检漏方法,包括:供配气装置、制冷装置、第一氦质谱检漏仪、第二氦质谱检漏仪、多条进气管路、多条出气管路以及真空检测平台,供配气装置通过进气管路与真空检测平台连通,第一氦质谱检漏仪与真空检测平台连通,第二氦质谱检漏仪通过出气管路与真空检测平台连通,每一对进气管路与出气管路分别连接在对应待测阀门的两端,在第一氦质谱检漏仪、第二氦质谱检漏仪、进气管路以及出气管路分别设有阀。本发明利用制冷装置作为冷源,提高了试验的安全性和可靠性,降低人力成本和测试费用,样品温度精确可控,一次试验能够检测多个待测阀门,测试周期短。

    超流氦系统的预冷装置
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114279167B

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202011040133.3

    申请日:2020-09-28

    Abstract: 本发明的实施例提供了一种超流氦系统的预冷装置,包括:真空罩、制冷机、换热器、冷凝器、超流氦腔、低温节流阀和机械热开关。制冷机设有一级冷头和二级冷头,一级冷头和二级冷头均位于真空罩的真空腔内。一级冷头与换热器连接,二级冷头与冷凝器连接,低温节流阀与冷凝器和超流氦腔连接,使得液氦转化为超流氦。机械热开关可升降地插装在真空罩内,机械热开关的一端穿入真空罩的内腔并延伸至超流氦腔处,且机械热开关的下端设有导热法兰,导热法兰能够与超流氦腔进行接触或分离。导热法兰通过导热件与一级冷头连接以将一级冷头的冷量传递至导热法兰上。该预冷装置能够极大缩短超流氦系统的预冷时间。

    热开关装置及低温测试设备

    公开(公告)号:CN114486980A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202011147201.6

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本发明适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

    一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置

    公开(公告)号:CN106442895A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201611042824.0

    申请日:2016-11-21

    CPC classification number: G01N33/00

    Abstract: 本发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置,包括低温装置、气体吸附仪和进气管路;低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩;所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源,其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖,导致实验操作复杂,造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。

    一种自动平面微调定位装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN119871264A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510319611.0

    申请日:2025-03-18

    Abstract: 本发明提供一种自动平面微调定位装置及其使用方法,该自动平面微调定位装置包括定位件;用以固定具有调整平面的待调产品的调整件;设置于定位件上的第一配合件;设置于调整件上的第二配合件;及两端分别与定位件和调整件连接的弹性件;所述第一配合件和第二配合件相抵接且在弹性件的弹性力作用下形成静摩擦配合;所述调整件被配置为可在外力作用下克服第一配合件和第二配合件之间的静摩擦力,使所述调整件相对于定位件产生位移以调整调整平面的倾斜度;所述第一配合件和第二配合件被配置为可在调整平面达到预定倾斜度时,通过静摩擦力使定位件和调整件的相对位置固定。解决了现有的装置集成度低、操作便捷性差、对温度变化敏感的问题。

    一种环氧拉环及制作该环氧拉环的模具及方法

    公开(公告)号:CN108242313B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN201810011689.6

    申请日:2018-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种环氧拉环及制作该环氧拉环的模具及方法,所述环氧拉环包括第一环体、与所述第一环体相对设置且不相接触的第二环体、及固定套设在第一环体和第二环体上的环状绝缘带;所述第一环体的周向侧壁上和第二环体的周向侧壁上分别设有用于容纳绝缘带的第一槽口和第二槽口;所述绝缘带为经过加热固化的预浸渍环氧玻纤布。本发明所提供的环氧拉环通过采用加热固化后的预浸渍环氧玻纤布作为绝缘及抗拉介质材料,其具有抗拉强度高,漏热低等特点,在低温条件要求高的磁体系统中对磁体系统的稳定性不会产生影响,特别适用于大型、高精度超导磁体系统。

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