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公开(公告)号：CN119207994A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202310754428.4
申请日：2023-06-26
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本申请提供的超导带材的环氧树脂固化装置及固化方法，将所述树脂注入管(10)关闭，开启所述真空泵(25)抽气，使得所述真空袋膜(19)呈真空状态；开启所述树脂注入管(10)，所述环氧树脂(9)经所述树脂注入管(10)进入所述真空区域；所述环氧树脂(9)在所述真空区域内浸润充分后关闭所述树脂注入管(10)及树脂导出管(21)，并对所述真空区域进行固化处理；固化完成后，从所述玻璃板(11)上得到环氧树脂固化后的超导带材，本申请提供的超导带材的环氧树脂固化装置及固化方法，通过模拟真空压力浸渍环氧树脂的过程，将超导带材与环氧树脂结合，保证胶体内部无气泡且在带材表面均匀铺开。
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公开(公告)号：CN105886981B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201610298497.9
申请日：2016-05-06
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本发明公开一种具有负热膨胀性质的合金密封件，该密封件的制备材料为负热膨胀合金。所述负热膨胀性质的合金密封件适合于热胀冷缩的器件配合使用如陶瓷与金属，在剧烈温度变化下陶瓷与金属都会发生热胀冷缩，而具有负热膨胀性质的密封件会发生热缩冷胀，从而使得待密封的器件和密封件直接的结合变得更加紧密，有利于提高界面的气密性。
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公开(公告)号：CN106872294A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710200144.5
申请日：2017-03-30
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
CPC classification number: G01N3/26 , G01N3/32 , G01N2203/0073
Abstract: 本发明公开一种材料扭转及扭转疲劳测试装置，包括疲劳试验机、真空杜瓦容器、控温系统和夹具组件，夹具组件包括：与疲劳试验机的负荷传感器连接的上连接法兰、与疲劳试验机的横梁固定连接的上连接盘、通过上支撑杆与上连接盘固定连接的上法兰、一端与上法兰固定连接的支撑管，与支撑管的另一端固定连接的上支撑盘、通过下支撑杆与上支撑盘固定连接的下支撑盘、一端与上连接法兰连接另一端穿过上连接盘和上法兰以及支撑管和上支撑盘的中心杆、与中心杆的另一端固定连接的下内支撑盘和分别与下内支撑盘和下支撑盘连接的夹具，真空杜瓦容器与上法兰密封连接，试样位于真空杜瓦容器内部，温控系统用来控制真空杜瓦容器内的温度，为试样提供所需的环境温度。
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公开(公告)号：CN106802308A
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201710200153.4
申请日：2017-03-30
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/20
CPC classification number: G01N25/20
Abstract: 本发明公开一种材料弹热性能测试装置，包括：真空杜瓦容器，试样放置在所述真空杜瓦容器内并对试样进行保温减少漏热；控温系统，用来控制所述真空杜瓦容器内的温度，为试样提供所需的环境温度；力学试验机，在进行材料弹热性能测试过程中，为试样提供负荷及卸载负荷；数据输入及采集的程序控制系统，该系统通过程序向所述力学试验机输入试验参数，并采集力学试验机传感器和试样处温度计的测试数据；以及引伸计，用于测量试样的应变。本发明的测试装置可实现材料的任意应变下的拉伸、弯曲等形变；并能实现4.2K‑573K温区内任意环境温度下的弹热性能测量；同时环境温度精确可控可调，能准确测量出材料发生相变时的温度变化。
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公开(公告)号：CN105886981A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610298497.9
申请日：2016-05-06
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
CPC classification number: C22F1/183 , B22F3/105 , B22F9/04 , B22F2009/043 , B22F2999/00 , C22C1/0458 , C22C14/00 , B22F2201/20 , B22F2201/10
Abstract: 本发明公开一种具有负热膨胀性质的合金密封件，该密封件的制备材料为负热膨胀合金。所述负热膨胀性质的合金密封件适合于热胀冷缩的器件配合使用如陶瓷与金属，在剧烈温度变化下陶瓷与金属都会发生热胀冷缩，而具有负热膨胀性质的密封件会发生热缩冷胀，从而使得待密封的器件和密封件直接的结合变得更加紧密，有利于提高界面的气密性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114486981B
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202011147230.2
申请日：2020-10-23
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/00
Abstract: 本发明涉及材料发射率测量技术领域，尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统及方法。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置，真空泵和制冷装置分别与测试装置相连，测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台，样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片，各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各金属片上分别设有温度计，电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本发明提供的材料低温半球发射率的测试系统，可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量，可测量温度范围更大，进而提高了测量准确度。
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公开(公告)号：CN114597618B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202011431983.6
申请日：2020-12-07
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本发明涉及低温科学技术领域，尤其涉及高温超导滤波器低温系统，包括两组超导滤波器装置，每组超导滤波器装置包括制冷组件、真空腔和超导滤波器，超导滤波器设置于真空腔内，制冷组件穿入真空腔与超导滤波器连接。本发明的高温超导滤波器低温系统输出信号连续稳定、所需冷量稳定，可连续稳定运行，针对特殊工作环境可持续工作，大幅提高了系统的稳定性和寿命。相比于传统的两个系统才能具有两套超导滤波器装置，能够达到系统整体体积小，质量轻，结构紧凑，外部影响小的目的，同时满足降温时间快的要求，极大地推动了超导滤波器系统的小型化进程。
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公开(公告)号：CN118168690A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211581506.7
申请日：2022-12-09
Applicant: 中国科学院理化技术研究所 , 松山湖材料实验室
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种低温温度计标定装置，该低温温度计标定装置包括真空罩、设置在真空罩内的防辐射屏、设置在防辐射屏内的超导磁体组件、设置在超导磁体组件的中心孔内的温度计标定台、设置在温度计标定台上的加热器、用于支撑温度计标定台和加热器的测量与冷却底座、用于测量超导磁体组件产生的磁场强度的磁场测量件以及设置在真空罩上的制冷机，本发明通过超导磁体提供磁场，并通过从制冷机的二级冷头引出三路导冷桥，分别冷却超导磁体的上下两部分和温度计标定台的方式，和通过对加热器的加热功率调控的方式，实现了在4K‑300K下、0‑8T磁场下连续可调标定温度计。
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公开(公告)号：CN116078385B
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202310031122.6
申请日：2023-01-10
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: B01J23/755 , B01J35/33 , B01J35/40 , B01J35/60 , C01B13/02
Abstract: 本发明提供一种多孔纳米片状NiCo1.48Fe0.52O4电催化剂，制备及其应用。所述电催化剂通过水热法和热退火的方法使多孔纳米片状NiCo1.48Fe0.52O4负载在泡沫镍上；其中，所述电催化剂的厚度为20～60nm，直径为400～800nm，表面分布着孔径为10～60nm的孔洞。通过调配原料中Co源与Fe源的投料比例，使电催化剂的OER性能最优，进一步在还原性气氛中热退火，实现在纳米片状NiCo1.48Fe0.52O4的表面造孔，形成大量尺寸不一的孔洞结构，该孔洞结构有利于暴露电催化剂内部的活性位点，同时，通过进一步的电化学活化处理，有利于电催化剂与溶液之间进行电荷传输，加快化学反应动力学速率，在上述结构的共同作用下该电催化剂在三电极电化学体系进行电催化氧化水析氧，展现了高效的析氧能力，有望广泛应用于电催化领域。
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公开(公告)号：CN114486981A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202011147230.2
申请日：2020-10-23
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N25/00
Abstract: 本发明涉及材料发射率测量技术领域，尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统及方法。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置，真空泵和制冷装置分别与测试装置相连，测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台，样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片，各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各金属片上分别设有温度计，电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本发明提供的材料低温半球发射率的测试系统，可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量，可测量温度范围更大，进而提高了测量准确度。
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