热开关装置及低温测试设备

    公开(公告)号:CN114486980B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202011147201.6

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本发明适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

    热开关装置及低温测试设备

    公开(公告)号:CN114486980A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202011147201.6

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本发明适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

    材料低温半球发射率的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN114486981B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202011147230.2

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及材料发射率测量技术领域,尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统及方法。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置,真空泵和制冷装置分别与测试装置相连,测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台,样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片,各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层,且各金属片上分别设有温度计,电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本发明提供的材料低温半球发射率的测试系统,可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量,可测量温度范围更大,进而提高了测量准确度。

    材料低温半球发射率的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN114486981A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202011147230.2

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明涉及材料发射率测量技术领域,尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统及方法。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置,真空泵和制冷装置分别与测试装置相连,测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台,样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片,各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层,且各金属片上分别设有温度计,电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本发明提供的材料低温半球发射率的测试系统,可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量,可测量温度范围更大,进而提高了测量准确度。

    材料低温半球发射率的测试系统

    公开(公告)号:CN213544448U

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202022386379.8

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本实用新型涉及材料发射率测量技术领域,尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置,真空泵和制冷装置分别与测试装置相连,测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台,样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片,各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层,且各金属片上分别设有温度计,电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本实用新型提供的材料低温半球发射率的测试系统,可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量,可测量温度范围更大,进而提高了测量准确度。

    热开关装置及低温测试设备

    公开(公告)号:CN213544447U

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202022383657.4

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本实用新型涉及热开关技术领域,尤其涉及一种热开关装置及低温测试设备。该热开关装置包括调节机构、夹持机构以及辐射屏罩,夹持机构包括两个定位板、两个第一连接板、两个第二连接板、两个夹持部以及一个固定部,固定部通过第一转动轴分别与两个第一连接板的上端转动连接,两个第一连接板的下端分别通过第二转动轴与两个第二连接板的上端对应转动连接,两个第二连接板之间通过第三转动轴相互交叉转动连接,两个第二连接板的下端分别与两个夹持部对应固定连接,两个定位板的上端分别与辐射屏罩的上顶板固定连接,两个定位板的下端分别与第三转动轴的两端对应固定连接。本实用新型适用于悬挂样品的降温控制,结构简单,操作方便。

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