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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115753599A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202111032570.5
申请日：2021-09-03
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N21/01 , G01N21/552
Abstract: 本发明提供一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，包括真空罩和制冷机，真空罩内设有铜屏，铜屏内设有测量组件；制冷机，与真空罩相连接，且制冷机的制冷端与测量组件相连接；测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，反射机构适于转至黑体或者样品台，接收黑体或者样品台发射的辐射能量并传输至测量机构。通过上述方式，真空罩内设有测量组件，且测量组件包括至少一个样品台和黑体，反射机构可以转至黑体或者样品台对黑体和样品台发射的辐射能量向测量机构进行传输，以实现对黑体和样品台上放置的材料样品辐射能量的测量，进而对比黑体与样品台上放置样品的辐射能量，实现低温下样品表面辐射性能的测量。
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公开(公告)号：CN119354924A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202310909525.6
申请日：2023-07-24
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本发明提供一种材料表面发射率测量装置，包括真空罩、发射率测量组件和制冷设备。发射率测量组件设置在真空罩的内部，发射率测量组件用于测量黑体和样品的发射率，真空罩用于为发射率的测量提供真空环境。制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，制冷设备用于为发射率测量组件提供冷量。真空罩和制冷设备为发射率的测量提供真空低温环境，可以有效的降低背景噪声。与相关技术中制冷设备与发射率测量组件刚性连接传递冷量的方式相比，本发明中的制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，可以有效阻断制冷设备的振动传递至发射率测量组件，使测量过程中，发射率测量组件更加稳定，有效提高测量的准确率。
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公开(公告)号：CN118687689A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202310303027.7
申请日：2023-03-23
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本发明提供一种适用于微弱红外光谱信号的低温辐射测量装置，包括真空罩与制冷机；真空罩内设有铜屏，铜屏内设置有测量总成；制冷机与真空罩相连接，且测量总成与制冷机的制冷端连接；测量总成包括积分球、光源发生器、样品支架、反射机构与测量机构；其中，积分球配置成适于汇聚光源发生器和样品支架发出的辐射能量，反射机构配置成适于接收积分球输出的辐射能量并传输至测量机构；直接控制整个装置冷却减小了光信号在传输过程中的损失，以及背景噪声的干扰，而通过加热部能够实现样品材料的温度调控，从而实现微弱信号探测，一次降温可同时实现能量法和反射法的切换，相互印证提高了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN216350272U
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202122128812.2
申请日：2021-09-03
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
IPC: G01N21/01 , G01N21/552
Abstract: 本实用新型提供一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，包括真空罩和制冷机，真空罩内设有铜屏，铜屏内设有测量组件；制冷机，与真空罩相连接，且制冷机的制冷端与测量组件相连接；测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，反射机构适于转至黑体或者样品台，接收黑体或者样品台发射的辐射能量并传输至测量机构。通过上述方式，真空罩内设有测量组件，且测量组件包括至少一个样品台和黑体，反射机构可以转至黑体或者样品台对黑体和样品台发射的辐射能量向测量机构进行传输，以实现对黑体和样品台上放置的材料样品辐射能量的测量，进而对比黑体与样品台上放置样品的辐射能量，实现低温下样品表面辐射性能的测量。
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公开(公告)号：CN220568657U
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202321956346.X
申请日：2023-07-24
Applicant: 中国科学院理化技术研究所
Abstract: 本实用新型提供一种材料表面发射率测量装置，包括真空罩、发射率测量组件和制冷设备。发射率测量组件设置在真空罩的内部，发射率测量组件用于测量黑体和样品的发射率，真空罩用于为发射率的测量提供真空环境。制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，制冷设备用于为发射率测量组件提供冷量。真空罩和制冷设备为发射率的测量提供真空低温环境，可以有效的降低背景噪声。与相关技术中制冷设备与发射率测量组件刚性连接传递冷量的方式相比，本实用新型中的制冷设备通过柔性连接件悬挂在真空罩的底部，可以有效阻断制冷设备的振动传递至发射率测量组件，使测量过程中，发射率测量组件更加稳定，有效提高测量的准确率。
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