公开(公告)号：CN106442895A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201611042824.0

申请日：2016-11-21

Applicant: 中国科学院理化技术研究所

Inventor： 沈福至 ,  李来风 ,  刘辉明 ,  卢峻峰 ,  黄荣进 ,  张恒成 ,  赵玉强 ,  徐冬 ,  李旭 ,  李健 ,  李墨囡 ,  单奕

IPC: G01N33/00

CPC classification number: G01N33/00

Abstract: 本发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置，包括低温装置、气体吸附仪和进气管路；低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩；所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源，其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖，导致实验操作复杂，造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。

公开(公告)号：CN106442895B

公开(公告)日：2018-08-28

申请号：CN201611042824.0

申请日：2016-11-21

Applicant: 中国科学院理化技术研究所

Inventor： 沈福至 ,  李来风 ,  刘辉明 ,  卢峻峰 ,  黄荣进 ,  张恒成 ,  赵玉强 ,  徐冬 ,  李旭 ,  李健 ,  李墨囡 ,  单奕

IPC: G01N33/00

Abstract: 本发明公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置，包括低温装置、气体吸附仪和进气管路；低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩；所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本发明所提供的测试装置以制冷机作为冷源，其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖，导致实验操作复杂，造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。

公开(公告)号：CN206177929U

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201621262738.6

申请日：2016-11-21

Applicant: 中国科学院理化技术研究所

Inventor： 沈福至 ,  李来风 ,  刘辉明 ,  卢峻峰 ,  黄荣进 ,  张恒成 ,  赵玉强 ,  徐冬 ,  李旭 ,  李健 ,  李墨囡 ,  单奕

IPC: G01N33/00

Abstract: 本实用新型公开了一种用于测试气体低温吸附性能的测试装置，包括低温装置、气体吸附仪和进气管路；低温装置包括制冷机、设置在制冷机二级冷头上的用于放置测试用样品的样品腔、罩设在制冷机二级冷头及样品腔外的屏蔽罩及罩设在所述屏蔽罩外使制冷机一级冷头、制冷机二级冷头和样品腔处在真空环境下的真空罩；所述样品腔通过输气管路与所述气体吸附仪内吸附仪参考腔连接。本实用新型所提供的测试装置以制冷机作为冷源，其解决了现有技术中气体低温吸附性能测试装置对低温液体的过分依赖，导致实验操作复杂，造成作为低温液体的原材料大量浪费的问题。