光学角度测量方法
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108759723B

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201810813080.0

    申请日:2018-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种光学角度测量方法,包括以下步骤,第一步,待测元件就位;第二步,将待测面的表面法线过渡至第一反射镜上;第三部,将待测面的表面法线过渡至第二反射镜上;第四步,对第二反射镜进行准直;第五步,转动第二反射镜,并通过自准直仪测出其转动角度;第六步,对第二反射镜进行准直;第七步,多次重复第五和第六两步中的操作,依次测出第二反射镜转动的角度,直至自准直仪经由第一反射镜和第二反射镜的反射面反射回的叉丝像均出现在自准直仪的视场内时停止,最后计算两待测面夹角。本方法利用微分思想,使得利用自准直仪测量超视场大角度成为可能,同时为非接触式测量,不会对元件表面造成破坏污染,可靠性安全性好,精度高。

    光学角度测量方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108759723A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810813080.0

    申请日:2018-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种光学角度测量方法,包括以下步骤,第一步,待测元件就位;第二步,将待测面的表面法线过渡至第一反射镜上;第三部,将待测面的表面法线过渡至第二反射镜上;第四步,对第二反射镜进行准直;第五步,转动第二反射镜,并通过自准直仪测出其转动角度;第六步,对第二反射镜进行准直;第七步,多次重复第五和第六两步中的操作,依次测出第二反射镜转动的角度,直至自准直仪经由第一反射镜和第二反射镜的反射面反射回的叉丝像均出现在自准直仪的视场内时停止,最后计算两待测面夹角。本方法利用微分思想,使得利用自准直仪测量超视场大角度成为可能,同时为非接触式测量,不会对元件表面造成破坏污染,可靠性安全性好,精度高。

    光学元件三自由度检测装置

    公开(公告)号:CN108709722A

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201810814639.1

    申请日:2018-07-23

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明公开了一种光学元件三自由度检测装置,包括光学平台,其上正对设置有仪器平台和元件框架,仪器平台通过旋转调整模块可转动地支撑在光学平台上,通过旋转调整模块可以调整仪器平台相对于元件框架的角度,元件框架通过偏摆基座活动支撑在光学平台上,且元件框架与偏摆基座之间设有俯仰调整模块和偏摆调整模块,通过俯仰调整模块和偏摆调整模块能够对元件框架俯仰及偏摆角度进行调整。通过分离式的调整模块,充分利用光学仪器和光学元件的支撑结构,整体结构简单易行,加工速度快捷,其安全可靠性高,可满足激光装置光学元件的大批量、大口径、多样化、高精度、高效率以及高洁净度的快速检测要求。

    用于光学元件的真空吸附抓取机构及其控制方法

    公开(公告)号:CN105729493B

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201610243104.4

    申请日:2016-04-19

    Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件的真空吸附抓取机构及其控制方法,包括机械手臂,所述机械手臂通过机械手法兰盘连接于固定盘上表面;在固定盘的下表面上沿边缘线均匀分布有多个朝下的真空吸盘,用于吸附待抓取的光学元件;所述固定盘的四周侧壁固接有至少两个平移气缸;该平移气缸呈纵向设置,在每个平移气缸的活塞杆上均连接有一个夹紧气缸,夹紧气缸的活塞杆呈水平设置并朝向光学元件侧面,平移气缸驱动夹紧气缸纵向运动,通过所述夹紧气缸侧向夹持所述光学元件;所述机械手臂、真空吸盘、平移气缸以及夹紧气缸均连接在控制装置上。本发明能够牢固地抓住光学元件并将其逐步稳妥地装入光学元件的安装框中,快速方便,不会损坏光学元件。

    基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法

    公开(公告)号:CN104501742B

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201410672006.3

    申请日:2014-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法,首先利用单色光自准直仪对待测劈板前表面进行自准直,测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角;然后利用单色光自准直仪对待测劈板后表面进行自准直,测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角;最后基于反射、折射定律,得出劈板劈角计算公式并将两次测量结果联立二元一次方程组,解出劈板劈角。其显著效果是:本发明基于光学自准直、折射、反射定律的基本光学原理,测量精度高,成本低,操作简单,具有很高的通用性与实用性;通过本方法不仅能准确测出待测劈板劈角,还能测出待测劈板材料对于自准直仪光源的折射率。

    一种大径厚比光学元件的支撑系统和方法

    公开(公告)号:CN107037558A

    公开(公告)日:2017-08-11

    申请号:CN201710367052.6

    申请日:2017-05-23

    CPC classification number: G02B7/00

    Abstract: 本发明公开了一种大径厚比光学元件的支撑系统和方法,该方法采用四个支撑点替代了常规的巨大环形支撑面对光学元件进行支撑,有效的利用了光学元件自身的重力来降低重力对光学元件面型的影响,在理论上实现了完全的自相互补偿。所提出的方法大大的降低的对于光学元件支撑表面的加工精度要求,减少了制造成本,提高了光学元件支撑系统工程实施过程的效率。支撑系统采用弧形面与平面之间的点接触对作为光学元件支撑模块的传递环节,能够自适应的将顶壳的上支撑表面调整到与光学元件下表面完全接触的状态,能够有效的减少支撑过程中对光学元件产生的局部应力集中,提高光学元件的面型精度。

    共轴透镜精密定轴方法
    19.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104483740B

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201410671103.0

    申请日:2014-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种共轴透镜精密定轴方法,该方法基于反射成像的原理,通过基准传递、粗调和精调的方式,利用内调焦望远镜出射锥光对共轴透镜前后表面进行迭代自准直,最终实现共轴透镜定轴。本发明的显著效果是:本发明将定轴精度最终过渡到内调焦望远镜的测量精度,即透镜定轴精度内调焦望远镜精度一致,保证了定出的共轴透镜光轴的精确性;可实现不同口径、不同曲率半径的共轴透镜精密定轴,具有很高的通用性和实用性。

    一种零件关键工艺表面的创成式精细化表征方法

    公开(公告)号:CN103810343B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410062520.5

    申请日:2014-02-24

    Abstract: 一种零件关键工艺表面的创成式精细化表征方法,先对表面进行网格划分形成离散点集合,并基于轮廓公差要求生成带随机偏差的新离散点集合;再将该离散点集合插值成为样条曲面,形成理想表面的一个带轮廓误差的实例;在轮廓误差表面上继续进行高密度网格划分形成离散点集合,并基于粗糙度要求生成带随机偏差的新离散点集合;继续将该离散点集合插值成为样条曲面,形成零件表面的一个带制造误差的精细化表征实例;用新的精细化表面替换零件名义模型上的原表面,可以生成一个原零件模型带制造误差的新实例,重复上述进程能够多次重建带制造误差的零件实例集,这些实例从整体上反映出该零件关键工艺表面的实际工程状态,具有高效、准确、低成本的优点。

Patent Agency Ranking