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公开(公告)号：CN110441035A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201910772671.2
申请日：2019-08-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法，属于光学测量领域，本发明包括：发射器组件，用于发出一束垂直偏振光；分光镜，用于将所述垂直偏振光分为第一光束、第二光束；第一探测器，用于记录第一光束的参量；第二光路，所述第二光路包括依次设置的起偏器、待测晶体、以及与所述起偏器正交布置的检偏器，还包括用于驱动所述起偏器和/或检偏器分别绕起偏器/或检偏器的轴线转动的旋转组件；第二探测器，用于记录第二光束通过第二光路后的参量；其中，所述第一光束与第二光束之间的参量变化限定所述垂直偏振光，本发明可极大地消除了用于发射激光的激光器功率随时间变化的影响。
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公开(公告)号：CN106441816A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610951248.5
申请日：2016-10-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02 , G01M11/0207 , G01M11/0235
Abstract: 本发明公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法，属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路，干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时，一束由标准平面镜参考面反射形成标准参考光束，另一束透过被测长焦距透镜透射、经波带片反射沿原路返回形成测试光束；测试光束与标准参考光束发生干涉，调整被测长焦距透镜，使干涉条纹最少，即可测量得到被测长焦距透镜的透射波前。本发明适用于长焦距透镜的透射波前的检测。
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公开(公告)号：CN118518596A
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202410592441.9
申请日：2024-05-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/17 , G01N21/3586 , G01N21/47 , G06V10/10 , G06V10/80
Abstract: 本发明公开一种基于脉冲太赫兹自由电子激光器的复振幅成像系统及方法，涉及太赫兹相干衍射成像领域。该系统包括：太赫兹自由电子激光系统、成像目标、平移台、太赫兹阵列探测器和处理器；太赫兹自由电子激光系统发射相干脉冲平面太赫兹波经过成像目标后被太赫兹阵列探测器接收；太赫兹阵列探测器接收多个位置处的成像目标的衍射图像，并将衍射图像发送至处理器；处理器根据衍射图像和对应的接收距离确定成像目标的复振幅成像；接收距离为太赫兹阵列探测器与成像目标之间的距离。本发明实现脉冲太赫兹波的面阵探测，并能够抑制共轭像，获得高质量复振幅重建结果。
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公开(公告)号：CN109932826B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN201910354065.9
申请日：2019-04-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置，涉及光学元件检测装置技术领域，本发明包括若干组水平布置的光束形成机构，光束形成机构均包括从右到左依次布置的基础光源、准直透镜、扩束凹镜和柱面准直镜，准直透镜为平凸柱面透镜A，平凸柱面透镜A的平面一端靠近基础光源，扩束凹镜为平凹柱面透镜A，柱面准直镜包括组合在一起的平凹柱面透镜B和平凸柱面透镜B，平凹柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜A，平凸柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜B，平凸柱面透镜B的凸面为出光面，本发明具有加工成本低、加工难度低、输出光束质量高的优点。
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公开(公告)号：CN109540926A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106018345A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610349666.7
申请日：2016-05-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/45
CPC classification number: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法，该系统包括迈克尔逊干涉仪，由短相干光源、分光棱镜、参考反射镜、和半透半反镜组成迈克耳逊干涉光路，利用迈克耳逊干涉光路等臂原理,参考反射镜可前后移动从而匹配半透板反镜与反射镜之间光程,通过光栅尺测量参考镜移动距离则可计算出半透半反镜与反射镜间光程。分别测量放入样品前后半透半反镜与反射镜间光程和测量旋转样品一定角度后半透半反镜与反射镜间光程，从而可计算得到样品的折射率。本装置结构简单，回避了测量光学玻璃物理厚度，实现了光学玻璃折射率的高精度测量，提出采用迭代的方法，可快速计算出光学玻璃折射率。
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公开(公告)号：CN106018345B
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201610349666.7
申请日：2016-05-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法，该系统包括迈克尔逊干涉仪，由短相干光源、分光棱镜、参考反射镜、和半透半反镜组成迈克耳逊干涉光路，利用迈克耳逊干涉光路等臂原理,参考反射镜可前后移动从而匹配半透板反镜与反射镜之间光程,通过光栅尺测量参考镜移动距离则可计算出半透半反镜与反射镜间光程。分别测量放入样品前后半透半反镜与反射镜间光程和测量旋转样品一定角度后半透半反镜与反射镜间光程，从而可计算得到样品的折射率。本装置结构简单，回避了测量光学玻璃物理厚度，实现了光学玻璃折射率的高精度测量，提出采用迭代的方法，可快速计算出光学玻璃折射率。
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公开(公告)号：CN106441816B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610951248.5
申请日：2016-10-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法，属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路，干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时，一束由标准平面镜参考面反射形成标准参考光束，另一束透过被测长焦距透镜透射、经波带片反射沿原路返回形成测试光束；测试光束与标准参考光束发生干涉，调整被测长焦距透镜，使干涉条纹最少，即可测量得到被测长焦距透镜的透射波前。本发明适用于长焦距透镜的透射波前的检测。
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公开(公告)号：CN209624911U
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201920603954.X
申请日：2019-04-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本实用新型公开了一种用于光学元件缺陷检测的拼接式条形激光装置，涉及光学元件检测装置技术领域，本实用新型包括若干组水平布置的光束形成机构，光束形成机构均包括从右到左依次布置的基础光源、准直透镜、扩束凹镜和柱面准直镜，准直透镜为平凸柱面透镜A，平凸柱面透镜A的平面一端靠近基础光源，扩束凹镜为平凹柱面透镜A，柱面准直镜包括组合在一起的平凹柱面透镜B和平凸柱面透镜B，平凹柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜A，平凸柱面透镜B的平面一端靠近平凹柱面透镜B，平凸柱面透镜B的凸面为出光面，本实用新型具有加工成本低、加工难度低、输出光束质量高的优点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209624003U
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201920604950.3
申请日：2019-04-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本实用新型公开了一种光学元件多姿态检测通用工装，涉及光学元件检测装置技术领域，本实用新型包括夹持框，夹持框包括依次铰接的夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D，夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D可围成一个矩形，其中夹持梁A与夹持梁B、夹持梁B与夹持梁C、夹持梁C与夹持梁D的铰接处均设置有铰接活页，铰接活页的展开角度为90°-180°，本实用新型具有结构简单、操作方便快捷、夹持稳定的优点。
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