锥束XCT系统中进行图像重建坐标系原点标定的方法

    公开(公告)号:CN101832954B

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN201010123892.6

    申请日:2010-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种适用于锥束XCT系统的移动组件以及用其进行图像重建坐标系原点标定方法,其主要针对基于FDK算法的圆轨迹扫描成像系统投影坐标原点的标定。由于射线源焦点和探测器成像平面的准确空间位置无法直接测量得到,从而使得投影坐标原点难以精确测量。本发明提出利用单圆球目标体在锥束场不同位置多次成像获得的DR图像序列,基于图像、图形处理方法和最小二乘拟合技术,重构超定方程组,然后求解出射线源焦点在成像平面上的投影坐标点,利用此方法得到的参数值进行三维重建,得到了精确的重建结果。

    锥束XCT系统用移动组件以及用其进行图像重建坐标系原点标定的方法

    公开(公告)号:CN101832954A

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN201010123892.6

    申请日:2010-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种适用于锥束XCT系统的移动组件以及用其进行图像重建坐标系原点标定方法,其主要针对基于FDK算法的圆轨迹扫描成像系统投影坐标原点的标定。由于射线源焦点和探测器成像平面的准确空间位置无法直接测量得到,从而使得投影坐标原点难以精确测量。本发明提出利用单圆球目标体在锥束场不同位置多次成像获得的DR图像序列,基于图像、图形处理方法和最小二乘拟合技术,重构超定方程组,然后求解出射线源焦点在成像平面上的投影坐标点,利用此方法得到的参数值进行三维重建,得到了精确的重建结果。

    一种用于微波等离子体化学气相沉积法制备金刚石膜的基片台

    公开(公告)号:CN106929828B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN201710334592.4

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 本发明公开一种用于微波等离子体化学气相沉积法制备金刚石膜的基片台,属于晶体合成技术领域。该基片台置于微波等离子体化学气相沉积金刚石膜装置反应腔体内的水冷台上,其结构包含用于放置沉积基底的中心凹槽、环形外凸出部、环形内凸出部、介于内外凸出部之间的环形凹槽及位于外凸出部外侧的外表面。该基片台独立于反应腔体及水冷台,用于放置沉积基底并在其上方形成均匀稳定的电场及等离子体分布,提高所制备的金刚石膜的均匀性,同时能够有效防止基片台非沉积区域生成的杂质溅射至沉积基底上污染金刚石膜。本发明具有设计制作简单、能够制备大面积金刚石膜、易于调节尺寸以适合制备不同尺寸及厚度的金刚石膜、制备的金刚石膜品质高等优点。

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