公开(公告)号：CN205539067U

公开(公告)日：2016-08-31

申请号：CN201620205419.5

申请日：2016-03-17

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 罗宇华 ,  刘伟鑫 ,  孔泽斌

IPC: G01R1/04

Abstract: 本实用新型提出一种继电器的测试夹具，包括：盖板和印刷板，所述印刷板包括正面及对应的背面，其中，所述盖板和所述印刷板的正面相对设置；还包括位于所述盖板和所述印刷板相对空间内的接触弹簧，及位于所述印刷板背面的接口。本实用新型用于解决焊杯式、焊孔式等继电器的大尺寸引出端，检测系统制造商无法提供适用的接口板的问题，使得此类大尺寸引出端的继电器可以在检测系统上测试、运行。

公开(公告)号：CN213042271U

公开(公告)日：2021-04-23

申请号：CN202021356576.9

申请日：2020-07-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王立恒 ,  刘大鹏 ,  王华铭 ,  罗宇华

IPC: G06F11/22

Abstract: 本实用新型提供一种V4型FPGA在线配置测试接口板，所述接口板上设置有I/O接口、电源接口和配置接口；I/O接口连接被测FPGA的I/O引脚与测试设备的数字通道，对FPGA输入信号以及对输出信号进行比较判断；电源接口连接被测FPGA的电源引脚与测试设备的电源模块，对FPGA电源进行供电；配置接口与测试设备的数字通道直接连接。本实用新型解决的问题是提供一种在线配置FPGA的测试接口板，以解决配置程序容量有限的问题，以及每次配置程序加载，操作复杂、无法自动测试、效率不高的问题和减少硬件资源配置，降低测试接口板成本的问题，并且解决J750‑EX测试设备硬件资源与FPGA电源驱动电流无法匹配的问题。

公开(公告)号：CN207866969U

公开(公告)日：2018-09-14

申请号：CN201820238552.X

申请日：2018-02-10

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  杭州三海电子有限公司

Inventor： 徐广文 ,  洪森亮 ,  陈龙 ,  罗宇华 ,  黄立达 ,  朱敏蔚 ,  李春

IPC: G01R31/26

Abstract: 本实用新型涉及电子产品老练设备，具体涉及一种晶振高温老练设备。本实用新型中的一种晶振高温老炼设备，包括依次相连的匹配电路、运算放大器、电子开关、上位机和二级电源，晶振一侧与二级电源相连、另一侧与匹配电路相连；晶振工作电源、使能信号由二级电源提供；匹配电路包括放大器U2、第一电容C1、第三电阻R3、第五电阻R5、第九电阻R9、第十三电阻R13和第七电容C7。本实用新型的有益效果：可以同时测量不同类型、不同规格的晶振，在高温条件下的频率变化率和稳定度，不同晶振之间相互独立，避免干扰，数量最多可达1024枚，测量的精确度在2个PPM以内。