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公开(公告)号：CN102713576A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180006463.3
申请日：2011-01-19
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N15/14 , G01N33/483
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1459 , G01N21/645 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441
Abstract: 本发明提供一种荧光检测方法、荧光微球的制备方法以及荧光微球，荧光微球包含荧光强度、荧光波长以及荧光弛豫时间相互不同的至少两种基本荧光色素，至少两种基本荧光色素的比率和绝对含有量按照与其它种类的荧光微球不同的方式设定，流式细胞仪利用该荧光微球进行荧光检测，由此，与现有的技术相比，通过一次测量能够高精度地识别多种微球。
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公开(公告)号：CN101960289B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200980107755.9
申请日：2009-02-18
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1427 , G01N2015/1438
Abstract: 本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
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公开(公告)号：CN101688836B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200780053706.2
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6408 , G01N2021/6441
Abstract: 一种FRET检测方法和检测装置，其中，在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时，获得预先被存储在存储装置的校准信息，所述校准信息至少包括：测量对象样品的荧光中，供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外，利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率，求出供体荧光成分的FRET荧光寿命，且求出FRET效率。
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公开(公告)号：CN102272584A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080004403.3
申请日：2010-01-15
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/147 , G01N21/6428 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6441
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置及荧光检测方法，在该荧光检测装置中，相对于n种测量对象物发出的各荧光，在按照测量对象物k(k＝1～n的整数)发出的荧光的荧光强度相对于其它测量对象物发出的荧光的荧光强度高的方式设定的多个波段FLk(k＝1～n的整数)接收荧光，并得到对应于波段FLk的荧光信号，通过将该各荧光信号与对对应于波段FLk的至少一个波段的激光Lk(k＝1)进行强度调制的调制信号混合并进行降频转换，生成包括荧光信号的相位滞后和强度振幅的荧光数据，对该荧光数据进行校正，由此计算出相位滞后，并根据该相位滞后计算出荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102159937A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200980136546.7
申请日：2009-09-16
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N21/6428
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，在利用流式细胞仪的荧光检测装置中，照射通过调制信号进行强度调制的激光，由此获得以横切激光测量点的方式通过测量点的测量对象物所发出的荧光的荧光信号。在所述荧光检测装置另生成与所述调制信号不同的、所具有的频率与所述调制信号频率不同且与所述调制信号的相位同步的参照信号。荧光检测装置利用参照信号从荧光信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102792153A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201180013071.X
申请日：2011-05-06
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N33/542 , G01N33/566
CPC classification number: G01N33/542 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N2021/6441
Abstract: 本发明提供一种FRET测量方法及FRET测量装置，在FRET测量方法中，对于感受体和向心配合体结合、且设置有第一分子和第二分子的测量样品照射激光，由此测量能量从第一分子转移到第二分子的FRET，该方法包括：将激光照射至样品上的步骤；对测量样品所发出的荧光进行测量的步骤；计算第一分子的荧光寿命的步骤；计算结合比率的步骤；设定测量样品的结合条件的步骤；计算解离常数的步骤，其中，在解离常数计算步骤中利用最小二乘法将样品中的感受体的全体浓度和解离常数作为变量的函数通过向结合比率计算步骤中计算出的结合比率拟合，由此求出解离常数。
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公开(公告)号：CN102317761A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201080007693.7
申请日：2010-02-08
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N15/147 , G01N21/6428 , G01N2015/1477 , G01N2015/149
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，该荧光检测装置在接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，生成用来对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制，并获得测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并利用该荧光信号计算出荧光强度和荧光相对于调制信号的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号DC成分的信号电平和刚刚输出荧光信号的放大增益的操作量进行控制，以使荧光强度信号值进入预先设定的范围内，操作量处于稳定状态后，计算出荧光强度，且利用相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102308200A
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN201080007040.9
申请日：2010-02-08
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/147 , G01N2015/0038
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，当所述荧光检测装置接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，荧光检测装置生成用于对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制。所述荧光检测装置获得测量对象物被所述激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并根据所述荧光信号计算出相对于所述调制信号的荧光的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号的频率进行控制，以使相位滞后值接近于预先设定值，利用在所述控制处于稳定状态时的频率条件下所得到的相位滞后，计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN102150035A
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200980135824.7
申请日：2009-09-16
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459
Abstract: 一种荧光检测装置和荧光检测方法，在所述荧光检测装置中，朝向测量对象物照射进行强度调制的激光，由此获得测量对象物所发出的荧光的荧光信号。此时，生成与调制信号不同的、与调制信号的频率相同或大致相同且与调制信号的相位同步的参照信号。在荧光检测装置中，利用参照信号与所获得的荧光信号进行混合处理后计算出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。本发明的荧光检测装置中，根据通过混合处理而得到的混合信号计算出的荧光弛豫时间，与以往的方式相比精度高。
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公开(公告)号：CN101939633A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200980104324.7
申请日：2009-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1459 , G01N21/51 , G01N2015/149 , G01N2021/4707 , G01N2021/6482
Abstract: 提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，其中，接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光，通知测量对象物通过测量点的情况，且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面，通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
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