公开(公告)号：CN109196560A

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201680065625.3

申请日：2016-05-03

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马丁·斯约林

IPC: G06T11/00 ,  G01T1/24 ,  A61B6/00

Abstract: 本发明提供了一种用于X射线检测器(5)的测量电路(30)。所述测量电路(30)是被配置为对测量数据进行采样以生成数据点，并在读出之前处理所述数据点，以通过组合在不同时间已经获得的两个或多个数据点来产生新的数据点，以致用于读出的数据点的数量小于原始数据点的数量。

公开(公告)号：CN110869811B

公开(公告)日：2023-11-17

申请号：CN201880043400.7

申请日：2018-06-20

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马茨·丹尼尔松 ,  刘学进 ,  马丁·舍林

IPC: G01T1/24 ,  A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01T1/29

Abstract: 本发明提供了一种用于管理X射线成像系统中的几何失准的方法，该X射线成像系统具有X射线源、光子计数的X射线检测器和在X射线源和X射线检测器之间的X射线路径上的中间准直器结构。X射线检测器包括多个像素，并且准直器结构包括多个准直器单元，其中准直器单元的至少一个子集中的每一个对应于像素的N×M矩阵，其中N和M中的至少一个大于1。该方法包括：针对包括至少两个像素的指定像素子集，监测(S1)来自指定像素子集的像素的输出信号，该至少两个像素由于几何失准而受到来自所述准直器结构的阴影的不同影响；以及基于来自所述指定像素子集的所述像素的所述监测输出信号来确定(S2)几何失准的发生。

公开(公告)号：CN116724251A

公开(公告)日：2023-09-08

申请号：CN202080106216.X

申请日：2020-08-18

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： C·桑德伯格 ,  F·贝根托夫特 ,  M·佩尔松 ,  M·丹尼尔松

IPC: G01T1/172

Abstract: 提供了一种X射线检测器系统(5)，该X射线检测器系统包括用于检测来自X射线源的X射线辐射的光子计数X射线检测器(20)，以及被配置为基于关于所述X射线检测器中的光子相互作用的时间的信息和关于该X射线源相对于该X射线检测器的定位的信息，来确定和/或获得关于入射在该X射线检测器上的该辐射的信息的符合检测系统(60)。还提供了包括这样的X射线检测器系统的X射线成像系统，以及对应的符合检测系统和对应的方法。

公开(公告)号：CN116249489A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202180057643.8

申请日：2021-07-06

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： A·埃吉扎瓦尔 ,  F·格伦伯格 ,  M·佩尔松

IPC: A61B6/03

Abstract: 本发明提供了一种用于基于能量分辨X射线数据的图像重建的方法和对应系统。该方法包括：收集(S1)能量分辨X射线数据的至少一个表示；以及基于能量分辨X射线数据的所述至少一个表示来执行(S2)至少两个基材料分解，以生成至少两个原始基图像表示集。该方法还包括：从所述原始基图像表示集中的至少两个原始基图像表示集获得或选择(S3)至少两个基图像表示；以及通过基于机器学习的数据处理来处理(S4)所述获得或选择的基图像表示，以生成输出图像数据的至少一个表示。

公开(公告)号：CN110603464B

公开(公告)日：2023-05-26

申请号：CN201880029904.3

申请日：2018-04-25

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马茨·丹尼尔松 ,  斯塔凡·卡尔松 ,  许成 ,  马丁·舍林

IPC: G01T1/24 ,  A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01T1/29

Abstract: 公开了一种用于x射线成像的探测器系统。该探测器系统包括具有多个侧立探测器模块的探测器。每个侧立探测器模块包括适于朝向x射线源定向的第一边缘和基本上平行于入射x射线的方向延伸的正面。该正面包括至少一个电荷收集电极。多个侧立探测器模块中的至少一个子集从正面到正面成对布置，由此在所述成对布置的侧立探测器模块的正面之间限定正面到正面的间隙。成对布置的侧立探测器模块与布置在x射线源与侧立探测器模块之间的x射线路径中并且与正面到正面的间隙重叠的防散射准直器相关联。

公开(公告)号：CN109601011B

公开(公告)日：2023-04-21

申请号：CN201780048117.9

申请日：2017-07-14

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马特斯·丹尼尔松 ,  斯塔凡·卡尔森 ,  刘学进 ,  马丁·斯约林 ,  安德斯·贝约克利德 ,  托比昂恩·哈夹恩

IPC: G01T1/24 ,  A61B6/03 ,  G01N23/046

Abstract: 本发明涉及一种光子计数探测器，它包括探测器模块的第一子集和至少一个第二子集。每个探测器模块都具有功耗电路。在所述探测器模块被通电的操作模式中，在第一子集中的探测器模块的功耗电路是被配置以消耗第一功率量。相应地，在所述操作模式中，在所述至少一个第二子集中的探测器模块的功耗电路是被配置以消耗低于所述第一功率量的第二功率量。

公开(公告)号：CN110494770A

公开(公告)日：2019-11-22

申请号：CN201880024382.8

申请日：2018-03-06

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马茨·丹尼尔松 ,  斯塔凡·卡尔松 ,  刘学进

IPC: G01T1/24 ,  A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01N23/046 ,  G01N23/083 ,  G01T1/36

Abstract: X射线检测器系统包括光子计数检测器(20)，其具有多个包括相应的耗电电路(30)的检测器模块。至少一些检测器模块包括温度传感器，以监测检测器模块上的温度并生成温度表示信号。对于检测器模块中的至少一个子集，检测器控制器选择性地在检测器模块的至少相应部分断电的空闲模式和检测器模块接通的运行模式之间切换检测器模块。检测器模块中的至少一个子集的耗电电路(30)基于温度表示信号生成校准数据，以校正由光子计数检测器(20)生成的图像数据的任何温度引起的变化。

公开(公告)号：CN110113994A

公开(公告)日：2019-08-09

申请号：CN201780048118.3

申请日：2017-05-15

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马丁·斯约林 ,  马特斯·佩尔松

IPC: A61B6/00 ,  G01T1/29 ,  G06T11/00

Abstract: 本发明提供了一种用于计算机断层扫描(CT)的数据采集方法及相应的系统，基于具有多个像素(13)的探测器(12)的X射线成像系统(10)，其中，数据采样是利用由探测器的相邻像素获取的测量值之间的时间偏移来执行的。

公开(公告)号：CN107004281A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201480083319.3

申请日：2014-11-10

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 马特斯·佩尔松 ,  汉斯·波拿佛克 ,  刘学进 ,  本·休伯 ,  陈汉

IPC: G06T11/00 ,  A61B6/03 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明提供了一种用于基于来自光子计数的多仓X‑射线检测器的图像数据的图像重建方法以及相应的系统与装置。该方法包括：确定(S1)给出的函数形式的参数，所述函数形式表示在X‑射线检测器的读出链中以电压表示的比较器设置与基于拟合过程的以能量表示的相应的能量阈值之间的关系，所述拟合过程是在测量的脉冲高度谱的第一组数据代表与参考脉冲高度谱的第二组数据代表之间的拟合过程。该方法还包括：基于该图像数据与所确定的参数执行图像重建。通过这种方式，可以实现高效的高质量图像重建。

公开(公告)号：CN113678025B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN201980095004.3

申请日：2019-10-02

Applicant: 棱镜传感器公司

Inventor： 埃里克·弗雷登伯格 ,  约翰内斯·洛伯格 ,  马特斯·丹尼尔松

IPC: A61B6/42 ,  A61B6/40 ,  A61B6/50 ,  A61B6/03

Abstract: 提供了一种装置，该装置包括与被配置用于在医学透射射线照相中操纵x射线的同轴x射线聚焦光学器件(15)结合布置的x射线检测器(20)，其中，该同轴x射线光学器件(15)包括透镜阵列，其中，这些透镜覆盖部分或整个视场，并且其中，该x射线检测器(20)是光子计数检测器。此外，该x射线检测器(20)是能量分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或源的有限相干性通过该能量分辨检测器的能量分辨率来补偿，以及/或者，该x射线检测器(20)是深度分辨检测器，并且该透镜阵列的色差和/或该源(10)的有限相干性通过该检测器(20)中的深度分辨率或体积分辨率来补偿。