细胞培养装置及细胞培养方法

    公开(公告)号:CN107532131A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680019753.4

    申请日:2016-03-08

    Abstract: 本发明涉及一种细胞培养装置,其具备:连结培养容器,所述连结培养容器具有保持被接种的细胞的细胞保持部、分别具有所述细胞保持部且贮存有液体培养基并沿着第一方向并列配置的m个培养室、以及使所述m个培养室间相互连通的1个以上的连接用流路,由所述m个培养室和所述连接用流路构成单元,将n个所述单元沿着与所述第一方向不同的方向即第二方向并列配置;以及,多个气压管,所述多个气压管在所述连结培养容器中使沿着所述第二方向配置于同列的同列配置培养室之间连通,可对所述同列配置培养室间同时进行加压或同时释放至大气压,利用所述m个培养室内的压力差,可通过所述连接用流路在所述m个培养室之间输送所述液体培养基,所述m是2以上的整数,所述n是2以上的整数。

    半导体装置的评价方法及半导体装置的评价装置

    公开(公告)号:CN106601641B

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201610796634.1

    申请日:2016-08-31

    Abstract: 本发明提供即使对栅极施加AC电压,也能够正确测定导通时的阈值电压的波动的半导体装置的评价方法及半导体装置的评价装置。作为被测定物的MOSFET的漏极与恒定电压源连接,源极和基体接地。AC电压源通常对MOSFET的栅极持续施加最大电压为MOSFET的阈值电压以上的应力电压。恒定电压源在MOSFET被施加有应力电压时,向MOSFET的源极‑漏极间施加源极‑漏极间电压,并且持续测定并监视流通于MOSFET的源极‑漏极间电流。MOSFET的阈值电压的波动量基于由恒定电压源测定的MOSFET的源极‑漏极间电流的波动量而得到。

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