一种力平衡推挽式光纤二维倾斜测量装置

    公开(公告)号:CN112902921A

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN202110105066.7

    申请日:2021-01-26

    Abstract: 本发明提供一种力平衡推挽式光纤二维倾斜测量装置,属于光纤干涉测量领域,它主要包括信号处理系统、信号采集系统、二维倾斜仪、光电复合缆以及通信线缆,二维倾斜仪主要包括内部框架、外部壳体、倾斜摆、光纤器件盒、光电转换电路,倾斜摆悬挂于内部框架顶部并能绕顶部一点做定点摆动,四个敏感光纤均匀分布于倾斜摆四周,通过与内部框架、倾斜摆等机械结构组件复合,同时以一定的预应力缠绕于倾斜摆和内部框架的两对缠纤柱上构成力平衡式推挽结构,两对推挽结构同时共用一个倾斜摆。本装置的优点是可以实现对空间一点的二维倾斜角度测量,而且可以实现较高的测量灵敏度。

    一种基于Sagnac结构的光纤敏感环双向同步测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112082735A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010919139.1

    申请日:2020-09-04

    Abstract: 本发明提供一种基于Sagnac结构的光纤敏感环双向同步测量装置及方法,包括低偏宽谱光源模块、信号分离与提取模块、Sagnac环、差分解调干涉仪、偏振串扰记录及处理模块,其特征是:在传统的测试装置中引入Sagnac结构,利用不同偏振方向的光,对光纤敏感环的正向和反向同步测量,采用差分扫描的解调干涉仪,可同时获得光纤敏感环中任意一点的双向测量结果。本发明结构简单、新颖,正向和反向测量差异性非常小,能够有效排除测试中伪干涉峰的影响,提高了测试效率,对光纤敏感环的互易性测量、评估,甚至优化光纤敏感环绕制工艺具有重大意义。

    一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法

    公开(公告)号:CN112082651A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010919156.5

    申请日:2020-09-04

    Abstract: 本发明提供一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法:将用于全保偏Sagnac闭合光路装配的Y波导和保偏光纤环先后连接成非闭合光路和闭合光路,并分别接入光学相干域偏振测量仪中进行测量,结合二阶偏振串扰效应,可以获得闭合光路中所有连接点的一阶偏振串扰、保偏光纤环全长度的分布式偏振串扰和Y波导芯片消光比等全部偏振特性信息。该方法实现了全保偏Sagnac闭合光路装配过程中偏振特性的测量,可广泛用于闭合光路中所有光学器件和连接点的分布式偏振串扰的监测和评价,对于高性能干涉型光学传感器的研制具有重要意义。

    一种有源光纤分布式测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN111947893A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN202010729078.2

    申请日:2020-07-27

    Abstract: 本发明提供一种有源光纤分布式测量装置及测量方法,属于有源光纤的测量表征领域,有源光纤的测量装置包括宽谱光源、光纤环形器、泵浦光源、光纤波分复用器、待测有源光纤、光纤耦合器、光纤布拉格光栅组、扫描延迟线、光电探测器,装置中的光学元件由单模光纤连接。并匹配该测量装置提出一种有源光纤分布式测量表征的系统化方法流程,通过干涉测量结果,区分出有源光纤的各项参数,尤其是利用光纤布拉格光栅组,识别有源光纤在不同波长下的吸收和增益。本发明改进现有低相干反射计装置,创新性引入光纤布拉格光栅作为干涉仪中的反射镜,可以针对性测量有源光纤在某一波长下的参数。

    一种提高板条键合面光斑扫描测量分辨率的方法

    公开(公告)号:CN111829988A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN202010606876.6

    申请日:2020-06-29

    Abstract: 本发明提供一种提高板条键合面光斑扫描测量分辨率的方法,本发明属于键合激光板条晶体的质量检测领域,板条键合面测量装置基于光纤白光干涉系统,通过光纤探头出射的光斑对键合面扫描,干涉探测获取键合面反射率信息,针对传统光斑检测方法分辨率受限于光斑尺寸的问题,提出利用光纤探头出射光束在轴向不同距离处的光强分布变化,进行“米”字路径光斑堆叠式扫描,在截面横向的四个角度上,实现不同距离位置处的反射率结果变化分析,有效推算出更高分辨率的反射率分布情况,同时对待测微尺寸键合面区域进行缺陷表征。

    一种单层光纤应变盘装置与制作方法

    公开(公告)号:CN109828339B

    公开(公告)日:2020-09-25

    申请号:CN201910199842.7

    申请日:2019-03-15

    Abstract: 一种单层光纤应变盘装置与制作方法,属于光纤传感技术领域。一种单层光纤应变盘装置,结构包括上光纤盘缠绕压片、下光纤盘缠绕压片、弹性盘片、固定螺母,下光纤盘缠绕压片的中心螺纹柱依次穿过弹性盘片的中心孔、上光纤盘缠绕压片的中心孔,固定螺母与中心螺纹柱相连接。本发明装置结构简单、易于加工,使用该装置制作单层光纤应变盘的方法容易、方便操作,且单层光纤应变盘的制作尺寸不受限制,可实现弹性盘片上、下表面上光纤缠绕区域对称,实现较好的推挽效果;在批量制作单层光纤应变盘中,使用该方法不仅可以实现快速高效的完成光纤应变盘制作,还可以保证单层光纤应变盘样品之间的一致性,进而提高传感器的一致性。

    一种键合板条键合面相对损耗值的获取方法

    公开(公告)号:CN111624177A

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN202010488263.7

    申请日:2020-06-02

    Abstract: 本发明提供一种键合板条键合面相对损耗值的获取方法,属于激光键合晶体板条的质量检测领域,首先运用已知反射率的标准反射面获取白光干涉装置回损校对值;然后通过干涉仪的延迟线结构,对待测板条中垂直键合面的深度方向扫描测试,获取各个反射面的分布式干涉强度信号,以及键合面的深度定位;进一步利用探头中已知反射率薄膜为标准,将干涉信号转化为反射率的分布式结果,并结合标准反射面的损耗校对值对测量结果校准;再利用菲涅尔反射公式将表面反射率测量结果转化为晶体的折射率,进而计算出键合面处理想的菲涅尔反射率理论值;最后通过键合面的反射率测量值与菲涅尔反射率理论值对比,得到键合面相对损耗值,以此评价键合面质量。

    一种单光源Michelson-Sagnac复合双偏振光纤干涉仪

    公开(公告)号:CN111426856A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010203946.3

    申请日:2020-03-21

    Abstract: 本发明提供一种单光源Michelson-Sagnac复合双偏振光纤干涉仪,包括输入光源、起偏器、45度保偏光纤焊点、第一环形器、耦合器、相位调制器、第一光纤环、1号光栅、第二光纤环、第二环形器、2号光栅、1号探测器、1号偏振分束器、2号探测器、3号探测器、第三环形器、3号光栅、4号探测器、2号偏振分束器、5号探测器和6号探测器。本发明在传感臂和保偏轴上复用光路,使Michelson光纤干涉仪和Sagnac光纤干涉仪共用光源和双偏振传感臂,与盘式加速度探头组合后能够同时测量加速度和角速度并且抑制温度对加速度测量的影响。

    一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法

    公开(公告)号:CN108106817B

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201711307932.0

    申请日:2017-12-11

    Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°,得到第一次的偏振参数测量结果;然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°,得到第二次的测量结果;最后计算两次测量结果的平均值,作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构,具有简单有效、易于实现等特点,有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差,从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。

Patent Agency Ranking