-
公开(公告)号：CN104535191B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410857811.3
申请日：2014-12-31
Applicant: 中北大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，属于偏振光谱成像测量结构技术领域；提供一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，该结构完全通过电脑控制磁旋光线圈电压和AOTF的驱动频率实现偏振光谱成像，无运动部件，且只需一个面阵列光电探测器；包括前置望远准直光学模块、磁致旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块、面阵列光电探测器和控制电脑，所述前置望远准直光学模块、磁致旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块和面阵列光电探测器依次放置，所述面阵列光电探测器与控制电脑连接；本发明主要应用在偏振光谱成像测量方面。
-
公开(公告)号：CN105865637A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610201344.8
申请日：2016-04-01
Applicant: 中北大学
CPC classification number: G01J9/0246 , G01C1/00
Abstract: 本发明涉及激光告警探测技术领域，更具体而言，涉及一种星载高角度分辨率激光告警探测方法及装置；该系统只需一个焦平面探测器即可实现激光高角度分辨率探测，通过光栅衍射获得激光波长信息，该系统具有结构紧凑、大视场、高角度分辨率、探测波长数多、体积小等优点，适用于星载激光告警；通过闪耀光栅、短焦透镜和焦平面探测器实现被测激光波长和粗略入射方向的测量，入射方向的粗测量是为透镜阵列的高精度角度测量提供大致的入射角范围，透镜阵列中的每一个透镜都对应很小的激光入射角范围，在小的入射角范围内对应到焦平面探测器的每个象元上就可实现高分辨率的角度测量，大大提高激光告警系统的角度定位精度；本发明主要应用在激光探测方面。
-
公开(公告)号：CN105373671A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510870759.X
申请日：2015-12-02
Applicant: 中北大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明为一种基于随机Mulkums带模式的氧分子带平均吸收率计算方法；是一种基于氧分子吸收带的新型红外目标透过率理论计算模型，主要以大气中的氧分子为吸收介质，随机Mulkums带模式、无需知道被测目标先验知识、高速红外目标的带平均吸收率的计算方法；该方法根据HITRAN数据库，以当前的大气条件为基础，即可通过该理论模型高速实时获得被测目标的吸收率；首先依据HITRAN数据库计算氧气A带平均谱线间隔、平均谱线半宽度、平均谱线线强，然后通过当前大气参数和测量环境条件，计算被测目标传输路径上氧分子的柱密度；由公式得到被测目标在探测路径上氧气A带的带平均吸收率；本发明主要应用在计算红外目标透过率方面。
-
公开(公告)号：CN103644969B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310669458.1
申请日：2013-12-04
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明一种弹光调制干涉信号预处理的方法，属于弹光调制干涉信号的数据处理领域；提供一种对高分辨率弹光调制干涉信号的采样、对一幅完整干涉图的提取并检测干涉图瞬态最大光程差的弹光调制干涉信号预处理的方法；所述高分辨率弹光调制干涉信号的采样，是指采用时钟芯片作为AD转换器的时钟，实现对干涉信号的等时间采样，并以非均匀傅里叶变换算法实现干涉信号的快速傅里叶变换，所述提取一幅完整的干涉图，是指在辐射源为复色光源时，利用零光程差点幅值绝对最大的特性，通过检测相邻两幅干涉图最大值之间的数据量，确定一幅完整干涉图；本发明主要应用在弹光调制干涉信号的数据处理方面。
-
公开(公告)号：CN105157837A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510278825.4
申请日：2015-05-28
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明涉及高光谱成像仪技术领域，具体涉及一种基于声光滤光和电光相位调谐的高光谱全偏振成像仪，是一种高光谱成像与全偏振成像相结合的成像装置，涉及对观测目标的空间、光谱和偏振信息同时探测获取的方法；该光谱偏振成像仪基于声光可调谐滤光器实现分光和DKDP纵向电光相位调制器实现偏振探测；包括：前置成像镜头，对被测目标辐射、反射、散射和透射光进行收集准直缩束，并一次成像于AOTF；DKDP纵向电光相位调制器，进行相位调谐，AOTF，进行滤光和检偏，遮光板，将通过AOTF的0级和+1级衍射光遮挡；二次成像传导镜头，将-1级衍射光二次成像于面阵列成像CCD上；和控制计算机；本发明主要应用在高光谱成像仪方面。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104977084A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201510391690.2
申请日：2015-07-06
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及AOTF光谱成像技术领域，涉及一种提高AOTF成像空间分辨率和光谱分辨率的方法；提出一种采用多次迭代去逼近真值的优化算法，在某波长下，将CCD成像的每个象元得到的光强减去由于光谱和衍射角展宽的干扰光，从而获得光强真值，该真值是经过多次迭代获得，因此方法将AOTF获得的二维图像和一维光谱的数据立方经过多次迭代来提高最终的成像空间分辨率和光谱分辨率；首先对AOTF衍射角展宽进行测量，然后对AOTF衍射光谱展宽进行测量，经过上述两者的测量得出衍射效率η(xi+m,yj,λk,mdλ)；通过AOTF光谱成像获得被测目标在CCD的象元(xi,yj)探测的光强I0(xi,yj,λk)；通过公式进行多次迭代；本发明主要应用在AOTF光谱成像方面。
-
公开(公告)号：CN104964750A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201510355428.2
申请日：2015-06-25
Applicant: 中北大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种弹光调制测旋光的装置及方法，属于弹光偏振调制的应用研究领域；提供一种实时、高速、高精度和高灵敏的光学旋光测量装置及方法；本发明是基于弹光偏振调制技术、差分平衡探测技术和数字锁相放大技术实现的，检测激光被扩束准直后经分光棱镜一分为二，一束光构成检测光路，另一束光构成参考光路，参考光路和检测光路光强相同时，差分输出携带旋光信息的调制交流信号，探测器输出直流信号，交流信号经前置放大后，经AD采集输入FPGA完成数字锁相，直流信号经低通滤波后，由AD采集输入FPGA，连同数字锁相数据传入计算机，最后，计算机完成旋光数据处理，存储和显示；本发明主要应用在弹光偏振调制的应用和旋光测量方面。
-
公开(公告)号：CN119867641A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510110365.8
申请日：2025-01-23
Applicant: 中北大学
IPC: A61B3/14
Abstract: 本发明公开了一种眼前和眼后节的一体图像测量系统和方法，扫频光源用于发射近红外光，耦合器用于将接收的近红外光按照比例分成两束光，第一束光被输送到参考臂，第二束光被输送到样品臂，样品臂用于在第二光束通过所述衍射光学元件后得到贝塞尔光束，且在贝塞尔光束进入到第一4f组合透镜和第二4f组合透镜后聚焦在眼睛上产生后向散射光束，平衡探测器用于将后向散射光束和参考臂输出的光束发生干涉，并将干涉后的光束转换为电信号，数据采集卡用于将电信号转换为数字信号，计算机用于基于数字信号获取眼睛的眼前和眼后节的一体图像。本发明在大焦深范围内，使得眼前节和眼后节能同一时间周期间隔内清晰成像。
-
公开(公告)号：CN114894311B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202210296662.2
申请日：2022-03-24
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明属于广义椭偏仪技术领域，具体涉及一种宽光谱双变入射角系统广义椭偏仪，包括高波段测量系统、样品和低波段测量系统，所述低波段测量系统包括起偏臂一和检偏臂一，所述样品设置在起偏臂一的光路方向上，所述检偏臂一设置在样品的透射光路方向上，所述高波段测量系统包括起偏臂二和检偏臂二，所述样品设置在起偏臂二的光路方向上，所述检偏臂二设置在样品的反射光路方向上。本发明使用两个系统去单次完成整个宽光谱范围的测量，只需要将整个宽谱段进行合理的分解，使得每个分解出来的谱段能在单独的系统中完成测量即可，通过本发明结构所设计出的广义椭偏仪单次可测得的光谱范围可以比现有的广义椭偏仪的单次可测得的光谱范围都宽。
-
公开(公告)号：CN115791636B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202211572147.9
申请日：2022-12-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于在线镀膜检测技术领域，具体涉及一种基于参考光路光谱椭偏技术的在线镀膜检测装置，包括光源、起偏臂、第一可移动反射镜、镀膜箱、被镀薄膜、被镀薄膜衬底、第二可移动反射镜、检偏器和探测器，所述光源的光路方向上设置有起偏臂，所述起偏臂的光路方向上设置有镀膜箱，所述被镀薄膜设置在镀膜箱内，所述被镀薄膜设置在起偏臂的光路方向上，所述被镀薄膜的反射光路方向上设置有检偏器，所述检偏器的光路方向上设置有探测器。本发明的第一可移动反射镜和第二可移动反射镜可移动改变光路，通过外加参考光路实现镀膜箱内部环境光学参数变化、镀膜窗口污染的检测，进而修正椭偏在线镀膜检测结果，提高了镀膜中薄膜测量精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
184
records
(took 0.075 seconds)
