一种基于偏振成像的高反光金属表面缺陷检测装置及方法

    公开(公告)号:CN118032787A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410286931.6

    申请日:2024-03-13

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于分焦面偏振成像及缺陷检测技术领域,具体涉及一种基于偏振成像的高反光金属表面缺陷检测装置及方法,包括USB信号传输接口、分焦面偏振探测器、放大光学显微镜镜头、多波长环形照明光源、高精度载物二维位移平台、高反光金属缺陷样品、环形光源驱动控制器、显微镜支架和计算机。本发明利用散射偏振成像技术,获得滤除杂散光后的偏振图像。通过对亮部失真部分进行降饱和,获得初步滤光降曝光的图像。进一步利用环形光源进行暗场成像,获得整个镜面金属的暗场图像,获得进一步的降曝图像,经过两步降曝过程得到少曝光或无曝光图像,为下一步的数据处理提供真实完善的细节和纹理的图像。

    一种双目强弱激光同时探测的星载高精度激光告警装置

    公开(公告)号:CN115752719A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211458972.6

    申请日:2022-11-17

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于激光告警装置技术领域,具体涉及一种双目强弱激光同时探测的星载高精度激光告警装置,包括遮光罩、接受窗口、损伤类激光告警模块、致盲类激光告警模块、控制及数据处理模块,所述遮光罩的一侧设置有接受窗口,所述接受窗口的光路方向上分别设置有损伤类激光告警模块和致盲类激光告警模块,所述损伤类激光告警模块和致盲类激光告警模块均电性连接在控制及数据处理模块上。本发明通过强激光探测模块添加反射式光学衰减方式,实现损伤类激光的能量衰减;同时结合高速光电探测器,快速获得强激光能量,弱激光模块根据其强度高速条件快门,实现强弱激光的大动态多参数告警,解决无法同时强弱激光探测难题。

    一种模糊图像的复原方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN114723616A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202111583737.7

    申请日:2021-12-22

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本申请提供一种模糊图像的复原方法、装置及设备,从设定的光路组件中采集在第一场景下成像的第一条纹信息,并将第一条纹信息转化为用于表示在第一场景下感光场强度的第一电信号;并依据第一电信号和所述第二电信号的比值以及参考光振幅,从第一电信号中去除电路组件中散射介质衍射干扰的干扰信息,得到用于表示在光路组件中未射入散射介质前的干涉光场的电信号。这样,能够从第一电信号中去除散射介质衍射干扰带来的影响,得到目标物在未射入散射介质前的干涉光场的电信号。可见,应用本申请实施例提供的复原方法能够在散射介质存在的情况下去除散射介质的干扰影响,实现散射成像,提高成像深度和成像质量。

    基于局部特征的航拍绝缘子图像的定位方法

    公开(公告)号:CN109712112B

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN201811401151.2

    申请日:2018-11-22

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于计算机视觉中的图像处理技术领域,应用在电力系统中输电线路巡检方面。基于局部特征的航拍绝缘子图像的定位方法,通过无人机采集沿着输电线路拍摄采集图像,对采集和参考绝缘子图像均进行灰度化处理;在MATLAB平台上利用Harris‑Laplace检测方法提取灰度化处理后图像的特征点,在MATLAB平台上,用SURF算法提取经过步骤二处理的灰度化处理后图像的特征点,在MATLAB平台上,用估计几何变换进行图像配准,绝缘子定位。本发明充分发挥局部特征的旋转、尺度、仿射不变性的优势,并且局部特征点配准定位的话,特征点数量少,计算量降低。

    一种采用脉冲激光加工全息金光栅的装置及方法

    公开(公告)号:CN108549124B

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN201810324012.8

    申请日:2018-04-12

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于光栅加工技术研究领域,具体涉及一种采用脉冲激光加工全息金光栅的装置及方法,该装置包括脉冲激光器、扩束准直系统、第一反射镜、玻璃基底、角度调节间隔子、第二反射镜、电动位移平台和控制电脑,加工全息金光栅的方法采用固体脉冲激光器,并结合全息成像技术,利用等厚干涉的全息记录技术,使得加工的系统采用共光路结构,加工过程不需要对脉冲激光进行分光束干涉,提高了系统的稳定度,并且能够实现光栅刻线周期以及光栅面积的灵活调节,是一种稳定性好、加工效率高、光栅刻线周期及光栅面积可灵活调节的光栅加工技术。该光栅加工的装置及方法是基于脉冲激光和等厚干涉技术实现的。

    一种弹光调制傅里叶光谱仪中干涉具稳定控制装置及方法

    公开(公告)号:CN111272281A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN202010143488.9

    申请日:2020-03-04

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于干涉具稳定控制技术领域,具体涉及一种弹光调制傅里叶光谱仪中干涉具稳定控制装置及方法,卡塞格林望远镜的一侧依次设置有起偏器、弹光调制干涉具,弹光调制干涉具分别连接有第一分束器、第二分束器,第一分束器设置在参考激光的出射光路上,第二分束器的分束光路上设置有第二探测器,第二探测器连接有高速比较器;弹光调制干涉具的一侧依次设置有解偏器、第一探测器,高速比较器和AD采集电路均连接在数据处理控制模块上,弹光调制干涉具通过LC驱动电路与数据处理控制模块连接。本发明实现弹光调制干涉具的电-力-光闭环自适应稳定控制,最终实现弹光调制干涉具的高效稳定工作。本发明用于弹光调制干涉具的控制。

    一种用于多种芯片测试的SMT夹具

    公开(公告)号:CN111122923A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN202010068483.4

    申请日:2020-01-21

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明属于SMT夹具技术领域,具体涉及一种用于多种芯片测试的SMT夹具,包括底层结构、中层结构、顶层结构,所述底层结构包括底座,所述中层结构包括芯片限位块、弹片限位块,所述顶层结构包括夹具盖、限位按压块,所述底座上设置有芯片限位块,所述芯片限位块的中心设置有按压方形槽,所述按压方形槽顶部的中心处设有芯片限位槽,所述芯片限位块的侧面设置有三个弹片限位块,所述弹片限位块固定在底座上,所述弹片限位块的中部设置有弹片限位槽,所述限位按压块固定在夹具盖的中心处。本发明可以直接固定于测试板上,利用弹片作为测试板与夹具的衔接便可以进行芯片测试。本发明用于芯片的测试。

    基于知识迁移学习的航拍电力部件图像的分类方法

    公开(公告)号:CN110472545A

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201910721060.5

    申请日:2019-08-06

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及人工智能中深度学习和机器视觉相结合的领域,基于知识迁移学习的航拍电力部件图像的分类方法,按照如下的步骤进行,建立卷积神经网络GoogLeNet;对卷积神经网络GoogLeNet进行调优,在卷积神经网络GoogLeNet的基础上,将卷积神经网络GoogLeNet的最后三层用一个全连接层、一个softmax层和分类输出层所代替,进行优化设置;在训练网络时,网络参数是结合多次仿真实验和贝叶斯优化算法获取的;将采集到的电力部件图像经过归一化预处理后输入步骤二获得且设置好的新的深度卷积神经网络进行学习,按照绝缘子、金具、杆塔等类别进行分类;进行仿真实验进行验证。

    一种基于弹光调制的光谱椭偏测量装置及方法

    公开(公告)号:CN108519335A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810314306.2

    申请日:2018-04-10

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及领域椭偏测量方法及仪器设备技术领域,更具体而言,涉及一种基于弹光调制的光谱椭偏测量装置及方法,该光谱椭偏测量装置及方法是基于45°双驱动对称结构弹光偏振调制和FPGA的弹光驱动控制及数据信号处理技术实现的。复色光源经单色仪输出准单色光后,经过光速整形及准直,通过起偏器、待测样品、弹光调制器,最后经检偏器出射,并被光电倍增管探测接收。在FPGA单元中实现调制光信号倍频项的同相分量和正交分量解调,并传入控制电脑。该光谱椭偏测量装置无需机械调节,测量速度快,精度和灵敏度较高、便于自动化控制,能够为椭偏测量技术相关领域提供新理论和新方法。

    一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法

    公开(公告)号:CN105954014B

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201610560092.8

    申请日:2016-07-15

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及中红外波片位相延迟的测量技术领域,具体涉及一种基于双PEM的中红外波片位相延迟精确测量方法,是一种采用两个弹光调制器差频调制、可实现低速、高精度的中红外位相延迟测量方法;将中红外激光器、起偏器、PEM1调制器、被测中红外波片、PEM2调制器、检偏器、红外点探测器依次排列构成测量光路,双PEM驱动控制电路将PEM1调制器和PEM2调制器差频调制降低调制频率,使红外点探测器可进行有效探测,并将差频信号提供给数字锁相放大器,数字锁相放大器对红外点探测器获得的调制信号进行锁相放大,获得锁相频率信号的幅值,最后通过计算机数据处理获得被测中红外波片的位相延迟;本发明主要应用在中红外波片方面。

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