用于低维量子结构的光电测量装置

    公开(公告)号:CN108572028A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201710140647.8

    申请日:2017-03-10

    IPC分类号: G01J1/42 G01J1/04

    CPC分类号: G01J1/42 G01J1/0411

    摘要: 本发明提供了一种用于低维量子结构的光电测量装置,包括:光源,其用于发射连续光谱;在所述光源和低维量子结构之间的光路上依次布置的第一单色仪和第一光学会聚装置,所述第一单色仪用于从所述连续光谱中分离出单色光,所述第一光学会聚装置用于会聚所述单色光;第二光学会聚装置,其用于会聚所述低维量子结构激发的荧光;第二单色仪,其用于接收经所述第二光学会聚装置会聚的荧光;光电倍增管,其用于将所述第二单色仪分离的荧光转换成对应的电信号;以及电流测量装置,其用于测量所述低维量子结构中的光电流。本发明的光电测量装置能同时测量低维量子结构在不同波长激发光激发下的荧光强度和光电流。

    光斑形状检测装置
    125.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108340071A

    公开(公告)日:2018-07-31

    申请号:CN201810029001.7

    申请日:2018-01-12

    IPC分类号: B23K26/073

    摘要: 提供光斑形状检测装置,在短时间内高效地对从激光振荡器照射的激光光线的准确的光斑形状进行检测。光斑形状检测装置(1)对从激光振荡器(30)振荡出的激光光线(LB1)的光斑形状进行检测,其中,该光斑形状检测装置具有:聚光透镜(31),其对激光振荡器所振荡的激光光线进行会聚;旋转体(镜保持器6),其将对通过了聚光透镜的激光光线进行反射的多个镜(6a’~6q’)配设在同心圆上;驱动源(电动机7),其使旋转体按照规定的周期进行旋转;分束器(32),其对由旋转体的多个镜反射的激光光线的返回光(LB2)进行分支;拍摄组件(33),其配设在返回光借助分束器而分支的方向上,对返回光的光斑形状进行拍摄;以及显示单元(m),其使由拍摄组件拍摄的图像与多个镜相关联地进行显示。

    光学探测组件、探测器及激光测距系统

    公开(公告)号:CN107290049A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201710661927.3

    申请日:2017-08-04

    发明人: 石昕 邢星

    IPC分类号: G01J1/42 G01J1/04 G01S11/12

    摘要: 本发明涉及一种光学探测组件,该光学探测组件包括:感光元件,感光元件被构造用于接收光学信号并将其转换为电学信号;以及导光部件,导光部件包括用于接收光束并将光束导向至感光元件的第一部分和用于接收光束并将光束导向至感光元件的第二部分。本发明利用了导光部件的光学特性,即该导光部件能够将其所接收到的光束导向至与之配套的感光元件之处,从而使得感光元件能够将该光学信号转换成电学信号,以便后续处理之用。依据本发明所提出的光学探测组件通过设置导光部件能够仅仅使用一套感光元件便能够实现不同位置的光学信号的处理,从而简化了现有技术中的光学探测组件的结构并且相应地降低了现有技术中的光学探测组件的制造成本。