用于检测三轴金刚石车床轴系误差的特征样件及方法

    公开(公告)号:CN104596465A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510053028.6

    申请日:2015-01-31

    CPC classification number: G01B21/20 G01B21/22 G01B21/30

    Abstract: 本发明公开了一种用于检测三轴金刚石车床轴系误差的特征样件及方法。所述特征样件由基座和特征主体两部分构成,特征主体设置在基座顶部端面上且与其同轴设置,所述特征主体的整体形状为圆柱体,所述圆柱体高度方向的中间位置设置有环状内凹曲面。所述检测方法如下:一、使用T形布局的三轴金刚石车床加工特征样件;二、加工完成后采用圆柱度仪测量特征样件的外圆柱面,采用圆柱度仪测量特征样件的端面以及环状内凹曲面;三、根据步骤二的检测结果,推断出三轴金刚石车床的轴系误差。本发明所设计样件具有结构简单、加工方便、且能有效反映出轴系误差等特点,为三轴金刚石车床误差检测及机床验收提供了一种新方法。

    利用三棱锥微探针轨迹运动加工微结构的装置及方法

    公开(公告)号:CN104528632A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201410813219.3

    申请日:2014-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种利用三棱锥微探针轨迹运动加工微结构的装置及方法。所述装置由支座、z向粗动定位台、三维压电位移台、三棱锥微探针、光学显微镜、二维调平台和二维工作台构成,其中:二维工作台固定在支座上,二维调平台固定在二维工作台,三棱锥微探针位于二维调平台上方并与三维压电位移台刚性连接,三维压电位移台与z向粗动定位台连接,光学显微镜固定在支座上,用于观测三棱锥微探针与金属样品间的距离。本发明通过采用几何非对称的三棱锥探针进行圆周公转轨迹运动,可以使得在每一次的旋转切削中刀具的前角不断变化,控制确定的进给方向进行加工,能够在金属样品表面加工得到毛刺较小的微结构。

    采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置及方法

    公开(公告)号:CN104150433A

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201410385711.5

    申请日:2014-08-07

    Abstract: 一种采用AFM探针纳米刻划加工复杂三维微纳米结构的装置及方法,属于微纳米结构加工领域。为了解决复杂三维微纳米结构加工问题,所述装置包括AFM、X方向精密工作台、Y方向精密工作台,X方向精密工作台底座固连在在Y方向精密工作台的滑块上,X方向定位工作台的滑块进行X方向运动,Y方向精密工作台底座固连在AFM样品台上,Y方向定位工作台的滑块进行Y方向运动。本发明提出的三种方法分别通过对同一套商用AFM以及高精度定位平台系统的不用控制和参数设置,实现采用AFM探针纳米刻划技术加工复杂三维微纳米结构的加工。本发明能够在较低成本下解决复杂三维微纳米结构的加工问题,且方法简单,装置及加工实现成本相对较低。

    一种适合于钻石切片刀机械刃磨的装置

    公开(公告)号:CN104070428A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201410341790.X

    申请日:2014-07-17

    CPC classification number: B24B3/36 B24B47/04 B24B47/20

    Abstract: 一种适合于钻石切片刀机械刃磨的装置,它涉及一种超精密加工装置,以解决钻石切片刀刃磨过程不稳定以及钻石切片刀大范围角度调节不便的问题,它包括刃磨角度与进给机构、水平往复运动机构和机床基座,所述刃磨角度与进给机构包括钻石切片刀夹具、水平仪、第一丝杠副、连杆、连杆座、固定座、竖直平移台、固定块、锁紧螺钉和挡圈;所述水平往复运动机构包括水平平移台、机架、伺服电机、联轴器和第二丝杠;机架固装在机床基座的上端面上,连杆座固装在竖直平移台上,挡圈安装在锁紧螺钉上,连杆的一端通过锁紧螺钉和挡圈转动安装在连杆座上,连杆的另一端安装有竖向设置的钻石切片刀夹具。本发明用于钻石切片刀的机械刃磨加工。

    电化学体系中工件的水平检测装置、调平装置及调平方法

    公开(公告)号:CN103837708A

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201210492775.6

    申请日:2012-11-27

    Abstract: 本发明提供了一种电化学体系中工件的水平检测装置、调平装置及调平方法。该水平检测装置包括:宏微位移平台;位移台,固设于宏微位移平台确定的X-Y平面上,可在该X-Y平面上进行位移,电解池与该位移台相对静止;探针电极,固设于宏微位移平台确定的Z方向上,其检测端浸入垂直向下进入电解池内的电解液中,距离电解池内的工件预设距离;以及电化学工作站,其工作电极连接至探针电极,其辅助电极和参比电极均连接浸入电解池内的电解液中,控制工作电极电位恒定,检测该工作电极随位移台的运动而变化的电流信号,获得电流信号曲线,由电流信号曲线的起伏幅度获知电解池内工件的倾斜程度。本发明可提高电解液中工件水平检测的精度。

    一种超精密车削对刀装置

    公开(公告)号:CN103706816A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201310730009.3

    申请日:2013-12-26

    CPC classification number: B23B25/06

    Abstract: 一种超精密车削对刀装置,属于超精密加工技术领域。其安装方便快捷,成本低廉,对刀精度高,对刀分辨率可调,是解决超精密车削对刀难题的有效手段。对刀装置基座固定于机床主轴的上端,对刀装置基座的前端固定安装有快换夹头,光学系统安装座通过快换夹头夹持固定,光学显微镜固定在光学系统安装座上,CCD图像传感器与光学显微镜连接,且光学显微镜位于CCD图像传感器的下端,刀具安装在刀架上,刀架的滑块滑动设置在刀架安装座的滑槽内,刀架安装座的滑槽与机床Z向导轨滑动配合,机床主轴固定在超精密机床上,超精密机床的滑槽与机床X向导轨滑动配合。本发明用于超精密车削对刀。

    基于纳米氧化铜的天然金刚石刀具真空热化学腐蚀方法

    公开(公告)号:CN102531676B

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201210053742.1

    申请日:2012-03-03

    Abstract: 基于纳米氧化铜的天然金刚石刀具真空热化学腐蚀方法。属于超精密切削加工技术领域。可去除或修复机械刃磨工艺环节导入刀具表面的损伤层,使刀具表面微硬度和弹性模量等力学参数接近固有值,从而提高刀具刃口耐磨损性能。采用机械刃磨工艺方法刃磨天然金刚石刀具表面,用丙酮超声清洗干净;取2-5g纳米氧化铜粉末置于金属铜器皿中,把天然金刚石刀具的刀头置于金属铜器皿内的纳米氧化铜粉末上,向天然金刚石刀具的刀柄上面施加138g的配重块;把盛有纳米氧化铜的金属铜器皿、天然金刚石刀具和配重块一起放到真空热处理炉内的工作台上进行热处理;完成后取出天然金刚石刀具,用丙酮把刀具表面擦拭干净。本发明用于去除或修复天然金刚石刀具表面的损伤层。

    一种基于形貌配准分析的精密主轴回转精度检测方法

    公开(公告)号:CN102252617A

    公开(公告)日:2011-11-23

    申请号:CN201110084661.3

    申请日:2011-04-06

    Abstract: 本发明提供了一种基于形貌配准分析的精密主轴回转精度检测方法,将表面样品安装在待测精密主轴上,控制系统控制待测精密主轴到一个角度θ位置,依次采集待测精密主轴在完整圆周位置上表面样品的表面形貌图;形貌数据配准分析处理系统将所获得的若干表面形貌图进行分析,并进行误差评价。本发明对随精密主轴回转的表面样品形貌进行测量及后续形貌配准分析处理,表面样品没有很高的精度要求,不需要昂贵的标准外圆轮廓或复杂测试系统及测试过程,如果选用二维形貌/图像传感器,可测量主轴的径向回转误差;如果选用三维形貌测量传感器,可同时测量主轴径向和轴向回转误差;采用高分辨率的测量传感器,则可实现纳米级精度的主轴回转误差检测。

    原位纳米拉伸实验测量检测装置

    公开(公告)号:CN101285747B

    公开(公告)日:2010-09-08

    申请号:CN200810064383.3

    申请日:2008-04-25

    Abstract: 原位纳米拉伸实验测量检测装置,它涉及一种拉伸实验测量检测装置。本发明解决了现有的机械性能的测量及微观形貌的检测是独立的、分离的两个过程的问题。本发明的步进电机(1)的输出轴与联轴器(2)固接,机架底板(4)上固装有导轨(7),导轨(7)上安装有左车架组(42)和右车架组(43),左右旋丝杠(8)的两端分别与联轴器(2)和轴承座(21)连接,力传感器(18)的左右端面分别与右夹具连接块(14)和力传感器保持架(19)固接,读数装置(44)安装在机架底板(4)上,拉伸测量装置(41)固装在检测装置的工作台(46)上。本发明促进了需要对样品在受力状态下微观形貌变化进行动态观察的研究领域的进一步发展,对纳米复合功能材料的机械性能的测量及微观形貌的检测具有重要的理论意义和良好的应用前景。

    基于AFM的纳米机械性能检测装置

    公开(公告)号:CN101000295A

    公开(公告)日:2007-07-18

    申请号:CN200610151235.6

    申请日:2006-12-31

    Abstract: 基于AFM的纳米机械性能检测装置,它涉及的是纳米机械性能检测的技术领域。它是为解决现有测量方法存在其检测设备价格昂贵,现有的AFM系统不能够直接提供反映表面机械性能的压痕过程曲线及不能测量按一定速率加载的刻划过程的摩擦力信号的问题。主控计算机(1)通过串行通信电路(2)、第一单片机(4)、光电隔离电流环串行接口通道(8)、第三单片机(11)、三路D/A转换电路(12)及第二单片机(9)、两路A/D转换电路(10)分别连接二维工作台控制器(13)、二维工作台(14)与AFM系统(15)。它还具有制造成本价格便宜,能够直接提供反映表面机械性能的压痕过程曲线及能按一定速率加载的刻划过程的摩擦力信号。点阵压痕的最大范围为100μm×100μm,刻划长度为100nm~100μm。

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