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公开(公告)号：CN106055902A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610389839.8
申请日：2016-06-03
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F19/00
CPC classification number: G06F19/00
Abstract: 本发明涉及面板随机和系统误差下反射面天线电性能的区间分析方法，包括：步骤1，依据面天线理论，变形的面天线远场可以描述为：步骤2，将积分区域离散为N个三角形单元；步骤3，引入系统误差和随机误差的区间参数步骤4，计算相差的区间；步骤5，计算单个离散单元在远区某点的电场值区间；步骤6，计算复变函数电场值的相角的区间；步骤7，计算全部单元在远区某点的电场值区间，步骤8，计算远场平均功率方向图的区间；利用区间分析研究结构变形对电性能的影响，通过结构变形或误差的区间，分析得到电性能变化的区间。从理论上解决了无限工况载荷分析的问题。
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公开(公告)号：CN105977631A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610389644.3
申请日：2016-06-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明涉及一种复合材料天线罩远场方向图区间分析；其特征是：至少包括如下步骤：第一步，确定复合材料天线罩材料厚度的误差区间；第二步，引入变量：X＝cos(Vd),Y＝sin(Vd)，计算变量X和Y的上下边界分别为；第三步，计算传输复数矩阵的区间上下边界；第四步，计算系数的区间上下边界；第六步，计算单个单元的系数Fi(θ,φ)＝TMiEi(θ,φ)的区间上下边界；第七步，计算全部单元系数的区间上下边界；第八步，计算功率方向图区间上下边界。本发明将区间分析应用于天线罩远场方向图的分析中，可在给定材料厚度误差区间的基础上，通过一次分析，即可得到对应的远场方向图区间，大大节省了分析时间和计算资源。
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公开(公告)号：CN105606907A
公开(公告)日：2016-05-25
申请号：CN201610038119.7
申请日：2016-01-20
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 本发明涉及一种面向智能蒙皮天线测试的变形实验装置，底板紧固在测试架上，两底座固定在底板上，第一支座和第二支座固定在底座的两端，平行滑轨安装在第一支座和第二支座的孔内，器件放置板安装在第一支座和第二支座上，并可调节板面高度，单片机控制板以及其他器件平放在器件放置板上；扭转系统固定在第一支座上，第一弯曲系统和第二弯曲系统分别安装在平行滑轨上。本发明的优点体现在：利用单片机通信模块对实验装置进行远程操控，不仅简单方便，而且可减少微波暗室的辐射，并且利用步进电机驱动控制，能够精确控制和调整变形量，满足于天线结构变形下的电磁性能测试和调试的实验需求。
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公开(公告)号：CN103116677B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310057042.4
申请日：2013-02-22
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种面向有源相控阵天线的微通道冷板设计方法，该方法包括：1）确定有源相控阵天线的几何模型；2）确定有源相控阵天线微通道冷板的外形尺寸；3）计算有源相控阵天线阵面的温度分布；4）判断是否满足设计要求。本方法提供了一种利用微通道冷板对天线散热方案，以保证天线能够有效工作并保持高性能。通过考虑高宽比α、宽度W、流体入口速度v和流体入口温度T，利用建模得到不同参数下的温度分布，最终确定参数，与只能凭借经验设计的传统方法相比，本发明可给出最佳设计方案，保证一次满足要求，缩短了设计周期。通过计算阵面温度分布，可判断设计是否满足温度要求，根据温度分布修改参数和流道布局以达到要求，具有工程意义。
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公开(公告)号：CN104537188A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201510022930.1
申请日：2015-01-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于轮廓反演技术的反射面天线面板的功能性设计方法，其整体思路是：首先设计反射面天线的反射面板变形实验，使面板发生明显变形，然后对反射面天线的电性能进行实测，得到天线实测电性能指标，再对反射面天线的反射面板进行实测，得到表面轮廓测试数据，然后以天线电性能指标为目标函数，反演表面轮廓的特征参数，建立包含表面轮廓信息的反射面天线面板模型，实现反射面天线面板的功能性设计。本发明的有益之处在于：由于其考虑到了实际工程中天线面板表面轮廓信息中包含不同分布形式的表面信息，所以，以天线电性能指标为目标函数进行表面轮廓的反演，显著提高了反射面天线反射面设计工作的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103913470A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201410113630.X
申请日：2014-03-24
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01N22/02
Abstract: 本发明涉及一种基于远区电磁场分布的共形承载天线的罩体缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）建立无罩共形承载天线的分析模型；（2）对天线阵面表面的近场分布进行仿真；（3）测量带罩共形承载天线的远场；（4）对带罩共形承载天线的罩体进行网格划分；（5）根据步骤（2）仿真所得天线阵面表面的近场以及步骤（3）所测带罩天线的远场，反求出天线罩罩体各处的透射系数；（6）根据步骤（5）罩体各处的透射系数，反求出天线罩罩体各网格处的材料厚度，获取材料缺陷的形状和位置。本发明由于根据无罩天线的近场和带罩天线的远场来确定共形承载天线的罩体的材料缺陷，因而与现有技术相比，实现对封装后罩体的材料缺陷进行检测。
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公开(公告)号：CN103336862A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310244778.2
申请日：2013-06-19
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于天线技术领域，具体地说是基于支持向量机的夹层微带天线结构设计方法，其特征是：它至少包括十二个步骤在保证力学性能指标满足要求的情况下，建立夹层微带天线的结构参数优化模型，选择出合理的结构参数。它用于指导或辅助设计人员设计夹层微带天线的结构尺寸参数。
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公开(公告)号：CN101267062B
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN200810018106.9
申请日：2008-04-30
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于拟合变形反射面的天线电性能预测方法，主要解决天线设计中机电分离的问题。其过程是：基于天线结构有限元分析，得到反射面变形后的节点位移；根据反射面节点的理论设计坐标和变形后坐标的空间位置关系，对变形反射面进行拟合；利用拟合的反射面，计算天线表面法向误差以及该法向误差导致的相位误差；根据天线口径面的幅度和相位参数，计算天线远区电场分布；依据天线远区电场分布计算天线远区电场方向图，从方向图中得到电参数，实现反射面天线结构位移场与电磁场耦合的电性能预测。本发明可用于指导天线的结构设计及对不同工况下的天线机电性能综合分析与评价。
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公开(公告)号：CN101252226B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200810017886.5
申请日：2008-04-03
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01Q19/10
Abstract: 本发明公开了一种基于变形反射面天线馈源相位中心与远场方向图的函数关系式的馈源定位方法，该方法以天线结构力学分析为基础，确定反射面面变形节点坐标与外部载荷的关系，分别给出表面误差和馈源误差与远场方向图的函数关系式。综合表面误差和馈源误差对反射面天线远场方向图的影响，得到变形反射面天线馈源相位中心与远场方向图的函数关系式，建立最佳电性能情况下寻找反射面天线馈源最佳相位中心的优化模型。求解优化模型，确定馈源的最佳调整量。依据最佳调整量通过调整机构调整馈源，实现馈源的定位。本发明具有明显提高反射面电性能，可用于反射面天线馈源的定位。
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公开(公告)号：CN101252223B
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：CN200810017887.X
申请日：2008-04-03
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种平板裂缝天线阵面平面度的确定方法，主要解决现有方法没有考虑在实际工况中阵面平面度的变形误差和制造误差对电性能影响的问题。本发明的方法以天线结构力学分析为基础，根据所构建的阵面平面度变形误差和制造误差与电磁场远场方向图的函数关系式；分析了结构受力引起的阵面平面度变形误差对电性能的影响关系，同时也分析了阵面平面度制造误差对电性能的影响关系；依据所分析的误差对电性能的影响关系，通过优化的过程合理的分配变形误差和制造误差的比重，以实现对平板裂缝天线阵面平面度比较准确的确定。本发明可用于指导平板裂缝天线阵面平面度的加工、制造以及结构设计，提高平板裂缝天线的整体性能。
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