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公开(公告)号：CN85106007B
公开(公告)日：1988-03-02
申请号：CN85106007
申请日：1985-08-06
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC分类号： G01M11/0271 , G01J9/02 , G01J2009/0261 , G01M11/005
摘要： 偏振条纹扫描数字干涉仪是用于光学检验的仪器，它利用起编器、偏振小孔、菲涅尔相板组成的位相偏振编码器将被测的位相分布φ（Ｘ、Ｙ）编码为不同偏振角分布φ（Ｘ、Ｙ）／２，通过旋转检编器进行条纹扫描，其干涉图由电视摄像机接收，送入微机进行数据处理。发明提供了测量透镜、球面和平面等光学元件的实用的偏振条纹扫描数字干涉仪。该发明的特点是结构简单，操作方便，在一般环境条件下工作，可获得高精密的测量。
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公开(公告)号：CN101008792A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200710004730.9
申请日：2007-01-26
申请人： 佳能株式会社
发明人： 塩出吉宏
IPC分类号： G03F7/20 , G01J4/00 , H01L21/027
CPC分类号： G03F7/706 , G01J4/00 , G01J2009/0261 , G03F7/70566
摘要： 本发明涉及测量方法。一种用于将具有不同偏振方向的多个线性偏振光束照射到目标光学系统上并用于测量目标光学系统的包含双折射量R和快轴Φ的偏振特性的方法包括以下步骤：将具有偏振方向角θ的线性偏振光束照射到目标光学系统上，并获得已透过目标光学系统的光束的重心量P；以及根据P＝－R·cos(2θ－Φ)或P＝R·cos(2θ－Φ)获得双折射量R和快轴Φ。
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公开(公告)号：CN1851437A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200510115075.5
申请日：2005-11-25
申请人： 安捷伦科技有限公司
发明人： 波格丹·沙弗兰耶切
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01M11/337 , G01J9/04 , G01J2009/0261
摘要： 一种用于描述被测设备的特征的方法包括使多个光信号传播经过被测设备，并且将多个光信号与参考光信号合并。多个光信号被与参考光信号混频，并且来自多个光信号与参考光信号的混频的多个光信号之间的相对扰动被确定。在另一个实施例中，调制后的光信号被从本地振荡器提供，并且调制后的光信号被与输入光信号合并。调制后的光信号被与输入信号混频，以提供混频后的信号，并且输入光信号的至少一个偏振分辨的参数被从混频后的信号中抽取出来。
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公开(公告)号：CN1702428A
公开(公告)日：2005-11-30
申请号：CN200510064563.8
申请日：2005-04-13
申请人： 安捷伦科技有限公司
发明人： 约翰·J·伯克曼 , 卢德米拉·M·戈扬斯卡亚 , 肯尼思·J·韦恩 , 朱淼
CPC分类号： G01B9/02057 , G01B9/02003 , G01B9/02007 , G01B9/02049 , G01B9/02072 , G01B2290/70 , G01J2009/0261 , G02B7/006
摘要： 本发明公开了一种改善周期非线性的差分干涉仪。干涉仪系统包括平面镜干涉仪、旋转镜、具有可以被调节并随后被固定的延迟片的延迟片组件、以及回射器。光束在包括平面镜干涉仪、旋转镜、延迟片组件和回射器的光路中行进。延迟片组件可以包括多个轴承、被安放在轴承上的环、被安装到环上的延迟片、以及将环推压抵靠轴承的柱塞。在确定了在系统中产生很少偏振泄漏的方向之后，延迟片通过粘接剂被固定。
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公开(公告)号：CN105466668B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201510982725.X
申请日：2015-12-24
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J1/0437 , G01J2009/0223 , G01J2009/0226 , G01J2009/0261
摘要： 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法之二,该测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前与点光源发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成。本发明测量仪在被测光学系统物面仅需要产生一路标准球面波输出，降低了系统复杂性，提高了光能利用率；该测量仪也降低了系统精密度要求及操作复杂性。
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公开(公告)号：CN85106007A
公开(公告)日：1987-02-25
申请号：CN85106007
申请日：1985-08-06
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC分类号： G01M11/0271 , G01J9/02 , G01J2009/0261 , G01M11/005
摘要： 偏振条纹扫描数字干涉仪是用于光学检验的仪器，它利用起偏器、偏振小孔、四分之一波片组成的位相偏振编码器将被测的位相分布φ(X、Y)编码为不同偏振角分布φ(X、Y)/2，通过旋转检编器进行条纹扫描，其干涉图由电视摄像机接收，送入微机进行数据处理。发明还提供了利用该仪器测量透镜，球面和平面等光学元件的实用光路。该发明的特点是结构简单，操作方便，在一般环境条件下工作，可获得高精密的测量。
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公开(公告)号：CN106385283A
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201610834569.7
申请日：2016-09-20
申请人： 北京航空航天大学
IPC分类号： H04B10/079 , H04B10/50 , H04B10/516 , H04B10/69 , H04B10/70 , H04B10/572 , G01J4/00 , G01J9/02
CPC分类号： H04B10/0795 , G01J4/00 , G01J9/0246 , G01J2009/0253 , G01J2009/0261 , H04B10/503 , H04B10/516 , H04B10/572 , H04B10/691 , H04B10/70
摘要： 一种应用于原子自旋进动检测的抽运光调制解调系统及方法，通过信号处理器产生正弦波或方波电压信号作用于调制器，对抽运光光强、波长进行调制使碱金属原子电子极化率被调制，再采用数字锁相放大器对检测光中的一次谐波待解调信号进行提取，最终实现原子自旋进动信号的测量。本发明显著提高了系统的抗环境干扰能力，减小在测量原子自旋进动角度过程中因外界温度不稳定导致的测量误差，从而可提高系统的长时间稳定性，可用于原子自旋陀螺仪、原子自旋磁强计等仪器对光偏振转角的精密测量，同时还有利于原子自旋陀螺仪的小型化。
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公开(公告)号：CN105466668A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510982725.X
申请日：2015-12-24
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01J9/02 , G01J1/0437 , G01J2009/0223 , G01J2009/0226 , G01J2009/0261 , G01M11/0271
摘要： 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法之二,该测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前与点光源发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成。本发明测量仪在被测光学系统物面仅需要产生一路标准球面波输出，降低了系统复杂性，提高了光能利用率；该测量仪也降低了系统精密度要求及操作复杂性。
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公开(公告)号：CN104932112A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510364569.0
申请日：2015-06-26
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC分类号： G02B27/28 , G01J4/04 , G01J9/02 , G01J2009/0261 , G01J2009/0284 , G02B27/0012
摘要： 一种实时光场重构结构，包括偏振分束器、第一耦合器、第二耦合器、基于3×3耦合器的第一迈克尔逊干涉仪和第二迈克尔逊干涉仪、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、第五光电探测器、第六光电探测器、第七光电探测器、第八光电探测器、数据采集卡以及计算机。本发明能同时解调出待测激光的振幅、相位以及偏振态，并且根据解调出的信号对光场矢量进行重构，不需要额外的控制手段，对待测激光没有任何限制，提高了光场重构的完整性、实时性和可靠性。
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公开(公告)号：CN1930446A
公开(公告)日：2007-03-14
申请号：CN200580006887.4
申请日：2005-03-04
申请人： 瑞尼斯豪公司
发明人： 戴维·罗伯茨·麦克默特里 , 詹姆斯·雷诺兹·亨肖 , 迈克尔·霍默 , 马克·亚德里恩·文森特·查普曼 , 雷蒙德·约翰·查内 , 威廉·埃内斯特·李 , 贾森·肯普顿·斯拉克
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02081 , G01B9/02041 , G01B9/02084 , G01B2290/70 , G01J9/02 , G01J2009/0234 , G01J2009/0261
摘要： 一种干涉测量设备，包括：测量光束(2a、2b)和参考光束(2c、2d)，它们相互作用以产生空间条纹图(24)。设置光学器件(12)，其与空间条纹图(24)相互作用，从而光在空间中被分离到不同方向(30、32、34、36)中。在空间分离光束的两个或更多个方向中的强度调制是相移的。该光学器件可包括例如衍射器件、折射器件或者衍射光学元件。
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