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公开(公告)号：CN115391742B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202211136292.2
申请日：2022-09-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明属于齿距标准器技术领域，为解决传统齿距样板难以加工制造的技术问题，提供了一种齿距量值标定方法、齿距模拟标准器及其设计与制备方法，能够通过标准球模拟出具有齿距量值的标准器，假设采用的标准球的部分圆弧代替目标齿距样板中单齿的渐开线轮廓，根据标准球的水平投影圆与目标齿距样板的分度圆之间的几何关系，计算出水平投影圆的半径以及水平投影圆到坐标原点的距离分别作为标准球的设计半径与标准球的球心到高精度旋转台的中心轴线的设计距离；通过高精度旋转台的旋转角度对设计齿距角进行模拟，得到模拟齿距角；目标齿距样板的分度圆半径作为齿距模拟标准器的分度圆半径；模拟齿距角在分度圆上所对应的弧长即为齿距。
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公开(公告)号：CN117848188A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311704407.8
申请日：2023-12-13
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院 , 重庆理工大学
Abstract: 本发明公开了齿轮的跨棒距或棒间距的测量仪，包括仪器本体，仪器本体包括一对量棒，其特征在于：量棒的上段为圆锥形柱，圆锥形柱的顶端面的直径小于底端面的直径；量棒的下段为与上段同轴的圆柱；仪器本体还包括底部安装板、量棒横向间距调整结构和量棒升降高度调整机构；量棒横向间距调整结构固定安装在底部安装板上，并用于使得一对量棒之间能够沿同一水平直线方向相对靠近或远离；量棒升降高度调整机构用于固定安装在量棒横向间距调整结构上，并用于使得一对量棒保持竖直并能够在竖向上升降或固定。本发明还公开了测量仪的标定方法和使用方法。本发明的优点是：能够更好满足更多种不同型号齿轮(尤其是非标齿轮)的跨棒距或棒间距的测量需求。
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公开(公告)号：CN115406366B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202211040603.5
申请日：2022-08-29
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于原位共角SPR测量单层薄膜参数的ISOA方法，步骤包括：先利用SPR测量装置原位共角测量单层薄膜反射光谱和干涉条纹信息，经数据处理得到入射波长‑反射率和入射波长‑相位差关系曲线，再对改进人群搜索算法的数据初始化，从关系曲线中选取反射光谱及相位差数据，进行归一化处理得到处于同一量级的反射率值与相位差值数据集，作为改进人群搜索算法的输入值，并设置解算终止条件；最后运行改进人群搜索算法基于目标函数进行反演计算，通过搜寻目标函数的最小值来求解参数向量a，即得到n为折射率，k为消光系数，d为厚度。本方法操作方便，经一次运算可得到连续多波长下的薄膜参数，具有精确度高和效率高的优点。
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公开(公告)号：CN115218796B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202211040904.8
申请日：2022-08-29
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于原位共角SPR检测多层薄膜参数的DEABC方法，包括：在原位共角模式下利用SPR测量装置测量多层薄膜样品在连续波长λ范围内入射光的干涉条纹信息和TM偏振波的反射光谱，经处理得到入射波长‑反射率和入射波长‑相位差关系曲线，接着从关系曲线中选取数据进行预处理，作为差分蜂群算法的输入值，并设置解算终止条件，最后采用差分蜂群算法基于目标函数进行反演计算，该目标函数以待测参数为函数参数，并反映反演计算值与实验测得值之间的相近度，以目标函数最小值为寻优方向求解对应的参数向量，即得到所有金属薄膜层在各个波长下的折射率、消光系数和厚度等参数。本发明具有检测方便、求解效率高、精度高的优点。
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公开(公告)号：CN115406366A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202211040603.5
申请日：2022-08-29
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于原位共角SPR测量单层薄膜参数的ISOA方法，步骤包括：先利用SPR测量装置原位共角测量单层薄膜反射光谱和干涉条纹信息，经数据处理得到入射波长‑反射率和入射波长‑相位差关系曲线，再对改进人群搜索算法的数据初始化，从关系曲线中选取反射光谱及相位差数据，进行归一化处理得到处于同一量级的反射率值与相位差值数据集，作为改进人群搜索算法的输入值，并设置解算终止条件；最后运行改进人群搜索算法基于目标函数进行反演计算，通过搜寻目标函数的最小值来求解参数向量a，即得到n为折射率，k为消光系数，d为厚度。本方法操作方便，经一次运算可得到连续多波长下的薄膜参数，具有精确度高和效率高的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119534404A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411565674.6
申请日：2024-11-05
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移和光谱联用的多层薄膜光学特性检测方法，其特征在于：包括S1：测量多层薄膜透射TM偏振波的光点位置信息；S2：数据处理得到入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线；S3：测量多层薄膜的光谱信息；S4：判断多层薄膜的类型：为增反膜时进入S5，为增透膜时进入S6，为分束膜时进入S7；S5：建立增反膜目标函数，计算得到增反膜目标函数最小时的增反膜参数向量；S6：建立增透膜目标函数，计算得到增透膜目标函数最小时的增透膜参数向量；S7：建立分束膜目标函数，计算得到分束膜目标函数最小时的分束膜参数向量。效果：提高了多层薄膜光学特性的测量效率和准确性。
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公开(公告)号：CN115218796A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202211040904.8
申请日：2022-08-29
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于原位共角SPR检测多层薄膜参数的DEABC方法，包括：在原位共角模式下利用SPR测量装置测量多层薄膜样品在连续波长λ范围内入射光的干涉条纹信息和TM偏振波的反射光谱，经处理得到入射波长‑反射率和入射波长‑相位差关系曲线，接着从关系曲线中选取数据进行预处理，作为差分蜂群算法的输入值，并设置解算终止条件，最后采用差分蜂群算法基于目标函数进行反演计算，该目标函数以待测参数为函数参数，并反映反演计算值与实验测得值之间的相近度，以目标函数最小值为寻优方向求解对应的参数向量，即得到所有金属薄膜层在各个波长下的折射率、消光系数和厚度等参数。本发明具有检测方便、求解效率高、精度高的优点。
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公开(公告)号：CN119573588A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411650291.9
申请日：2024-11-19
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移的一维光子晶体参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：利用透射古斯汉欣位移测量装置测量一维光子晶体的透射TM偏振波的光点位置信息；步骤S2：根据光点位置信息，得到一维光子晶体的入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线，并计算得到TM偏振波下的透射古斯汉欣位移；步骤S3：建立一维光子晶体结构参数的评价函数，将透射古斯汉欣位移、基底参数以及膜层折射率信息代入评价函数中，进行反演计算，以一维光子晶体的周期数及周期内各层厚度作为决策参量，根据评价函数的大小判断解的精确度，得到评价函数最小时一维光子晶体的结构参数向量a。效果：能够实现任何基底表面的一维光子晶体的快速、无损检测。
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公开(公告)号：CN119354893A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411465217.X
申请日：2024-10-21
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移和光谱联用的单层薄膜光学特性检测方法，其特征在于：包括S1：测量单层薄膜透射TM偏振波的光点位置信息；S2：数据处理得到入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线；S3：测量单层薄膜的光谱信息；S4：判断单层薄膜的类型：薄膜类型为反射膜时进入S5，薄膜类型为透射膜时进入S6，薄膜类型为分束膜时进入S7；S5：判断单层薄膜为反射膜时，建立反射膜目标函数，计算得到全波段的反射膜参数向量；S6：判断单层薄膜为透射膜时，建立透射膜目标函数，计算得到全波段的透射膜参数向量；S7：判断单层薄膜为分束膜时，建立分束膜目标函数，计算得到全波段的分束膜参数向量。效果：提高了单层薄膜光学特性的测量效率和准确性。
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公开(公告)号：CN116026279A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310213840.5
申请日：2023-03-08
Applicant: 重庆市计量质量检测研究院
Abstract: 本发明公开了一种钣金件多角度焊点分析检测装置，包括工作台、检测组件以及固定夹具，所述固定夹具固设在所述工作台的上端，所述工作台的上端位于所述固定夹具的旁侧固设有驱动装置，所述驱动装置包括驱动箱，所述驱动箱上方滑动设置有滑架，所述检测组件设置有两组分别滑动设置在所述滑架的上下两端，各所述检测组件配设有驱动源能够沿所述滑槽进行移动，所述检测组件的旁侧转动设置有CCD相机，能够对钣金件上的焊点进行外观检测。
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