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公开(公告)号：CN102778198B
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：CN201210249195.4
申请日：2012-05-04
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , A61B1/05 , A61B1/0646 , A61B1/0676 , A61B1/0684 , G01N21/954 , G01N2021/8829 , G02B23/2461
Abstract: 本发明名称为：“用于具有适合相移分析的强度调制元件的探头的条纹投影系统”。公开了一种强度调制元件，用于具有多个光发射器的探头以进行相移分析和测量。该强度调制元件包括由两个相向图案形成的多个光栅元件的多个列。
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公开(公告)号：CN101726263A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910206533.4
申请日：2009-10-10
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , G01N21/954 , G01N2021/9544 , G06T7/521
Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统的系统方面”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间，启用检查光源。在测量模式期间，禁用检查光源，并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中，结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。
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公开(公告)号：CN102401646B
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201110214262.4
申请日：2011-07-19
Applicant: 通用电气公司
Inventor： C·A·本达尔
IPC: G01C3/10
Abstract: 本发明名称为“基于结构光测量的方法”。一种确定到对象(206)的距离的方法能够使用包括第一光发射器(211)和第二光发射器(212)的视频检验装置(100)，其中第一光发射器(211)能够穿过具有至少一个阴影形成元件(289、290、291)的开口(292)发射光。该方法能够包括：在第一光发射器(211)激活而第二光发射器(212)停用时捕获至少一个第一发射器图像(400)，在第二光发射器(212)激活而第一光发射器(211)停用时捕获至少一个第二发射器图像(500)，确定至少一个第一发射器图像(400)中的像素的第一多个亮度值，确定至少一个第二发射器图像(50)中的像素的第二多个亮度值，确定第二多个亮度值与第一多个亮度值的明度比，以及使用该明度比来确定对象距离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102778198A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201210249195.4
申请日：2012-05-04
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , A61B1/05 , A61B1/0646 , A61B1/0676 , A61B1/0684 , G01N21/954 , G01N2021/8829 , G02B23/2461
Abstract: 本发明用于具有适合相移分析的强度调制元件的探头的条纹投影系统，公开了一种强度调制元件，用于具有多个光发射器的探头以进行相移分析和测量。该强度调制元件包括由两个相向图案形成的多个光栅元件的多个列。
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公开(公告)号：CN102735192A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210063764.6
申请日：2012-03-02
Applicant: 通用电气公司
Inventor： C·A·本达尔
CPC classification number: G01B11/24 , G06T7/0002 , G06T7/62 , G06T2207/10028 , G06T2207/10068
Abstract: 本发明涉及用于显示被观察物体的表面的三维视图的方法及装置。公开用于显示被观察物体(202)的表面(210)的三维视图的方法和装置，其中确定并且显示来自感兴趣区域中该被观察物体(202)的整个图像(200)的三维数据的子集来提供该感兴趣区域中增强的细节。
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公开(公告)号：CN101726263B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200910206533.4
申请日：2009-10-10
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/25 , G01N21/954 , G01N2021/9544 , G06T7/521
Abstract: 本发明名称为“关于利用结构光的探头系统”。一种探头系统包括成像器和检查光源。探头系统配置成在检查模式和测量模式中操作。在检查模式期间，启用检查光源。在测量模式期间，禁用检查光源，并投射结构光图案。探头系统还配置成捕获至少一个测量模式图像。在所述至少一个测量模式图像中，结构光图案被投射到物体上。探头系统配置成利用来自所述至少一个测量模式图像的像素值以确定所述物体的至少一个几何尺寸。还提供配置成检测多个图像的两个或更多图像的捕获之间探头与所述物体之间的相对移动的探头系统。
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公开(公告)号：CN102401646A
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN201110214262.4
申请日：2011-07-19
Applicant: 通用电气公司
Inventor： C·A·本达尔
IPC: G01C3/10
Abstract: 本发明名称为“基于结构光测量的方法”。一种确定到对象(206)的距离的方法能够使用包括第一光发射器(211)和第二光发射器(212)的视频检验装置(100)，其中第一光发射器(211)能够穿过具有至少一个阴影形成元件(289、290、291)的开口(292)发射光。该方法能够包括：在第一光发射器(211)激活而第二光发射器(212)停用时捕获至少一个第一发射器图像(400)，在第二光发射器(212)激活而第一光发射器(211)停用时捕获至少一个第二发射器图像(500)，确定至少一个第一发射器图像(400)中的像素的第一多个亮度值，确定至少一个第二发射器图像(50)中的像素的第二多个亮度值，确定第二多个亮度值与第一多个亮度值的明度比，以及使用该明度比来确定对象距离。
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公开(公告)号：CN102840838A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210109238.9
申请日：2012-04-06
Applicant: 通用电气公司
Inventor： C·A·本达尔
CPC classification number: G06T7/0004 , G01B11/24 , G06T2207/10028 , G06T2207/10068 , G06T2207/30108 , G06T2207/30164 , G06T2207/30168
Abstract: 本发明名称为“用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置”。公开一种用于显示观察的物体(202)表面(210)的三维数据质量的指示的方法和装置，其中在与表面点(221、222、223、224)对应的图像(500)的像素(231、232、233、234)上显示叠加层(240、250)，指示那些表面点(221、222、223、224)的三维坐标的预计精确度或可用性。
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