公开(公告)号：CN102778198A

公开(公告)日：2012-11-14

申请号：CN201210249195.4

申请日：2012-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： C·A·本达尔 ,  T·A·基勒克

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/25 ,  G02B27/48

CPC classification number: G01B11/25 ,  A61B1/05 ,  A61B1/0646 ,  A61B1/0676 ,  A61B1/0684 ,  G01N21/954 ,  G01N2021/8829 ,  G02B23/2461

Abstract: 本发明用于具有适合相移分析的强度调制元件的探头的条纹投影系统，公开了一种强度调制元件，用于具有多个光发射器的探头以进行相移分析和测量。该强度调制元件包括由两个相向图案形成的多个光栅元件的多个列。

公开(公告)号：CN102778198B

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201210249195.4

申请日：2012-05-04

Applicant: 通用电气公司

Inventor： C·A·本达尔 ,  T·A·基勒克

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/25 ,  G02B27/48

CPC classification number: G01B11/25 ,  A61B1/05 ,  A61B1/0646 ,  A61B1/0676 ,  A61B1/0684 ,  G01N21/954 ,  G01N2021/8829 ,  G02B23/2461

Abstract: 本发明名称为：“用于具有适合相移分析的强度调制元件的探头的条纹投影系统”。公开了一种强度调制元件，用于具有多个光发射器的探头以进行相移分析和测量。该强度调制元件包括由两个相向图案形成的多个光栅元件的多个列。