基于二硫化锡薄膜的柔性光电探测器件

    公开(公告)号:CN109524478A

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201811327196.X

    申请日:2018-11-08

    Applicant: 许昌学院

    Abstract: 本发明涉及基于二硫化锡薄膜的柔性光电探测器件。本发明提供一种(001)晶面取向的二硫化锡薄膜,其为二硫化锡晶态薄膜,具有(001)晶面方向取向性。还提供一种基于二硫化锡薄膜的光电探测器件,包括权利要求1所述的二硫化锡薄膜,和平行设在二硫化锡薄膜上的两个电极。本发明的二硫化锡薄膜均匀性、致密性好,具有(001)晶面取向,有利于二硫化锡薄膜具有优良的柔性。本发明提供的二硫化锡光电探测器柔性好,可承受弯曲度高,且可承受大量弯曲次数,经过一万次以上弯曲性能基本保持不变。

    基于二硫化锡薄膜的柔性光电探测器件

    公开(公告)号:CN109524478B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201811327196.X

    申请日:2018-11-08

    Applicant: 许昌学院

    Abstract: 本发明涉及基于二硫化锡薄膜的柔性光电探测器件。本发明提供一种(001)晶面取向的二硫化锡薄膜,其为二硫化锡晶态薄膜,具有(001)晶面方向取向性。还提供一种基于二硫化锡薄膜的光电探测器件,包括权利要求1所述的二硫化锡薄膜,和平行设在二硫化锡薄膜上的两个电极。本发明的二硫化锡薄膜均匀性、致密性好,具有(001)晶面取向,有利于二硫化锡薄膜具有优良的柔性。本发明提供的二硫化锡光电探测器柔性好,可承受弯曲度高,且可承受大量弯曲次数,经过一万次以上弯曲性能基本保持不变。

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