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公开(公告)号：CN113624129B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202110356816.8
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开一种尺寸测量仪的实时测量方法，1)初始化步骤、2)实时测量步骤、3)匹配步骤；本发明提供了高兼容、标准化、高效实时匹配检测的一种尺寸测量仪的实时测量方法。
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公开(公告)号：CN110187175B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN201910608688.4
申请日：2019-07-08
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/06
Abstract: 本发明公开了一种石英晶片抛光研磨在线测频系统，包括DDS信号模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、阻抗匹配模块、信号处理模块、MCU控制系统模块和用于为以上模块提供工作电压的电源模块，所述DDS信号模块根据MCU控制系统模块发出指定的扫频指令产生指定频率范围和扫频速度，输出功率的正弦扫频信号，经过射频功率放大模块把DDS信号模块产生的谐振信号进行功率放大，功率放大后的信号连接到π网络接口电路模块，正弦扫频信号通过π网络作用在晶片上使其产生机械振动，同时晶片的机械振动又产生交变电场，当外加的正选扫频信号频率为某一特定值的时候，振幅明显增大，当产生振幅明显增大的信号时，再去捕获有效信号。
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公开(公告)号：CN112284250B
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011103724.0
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分系统及测量方法，其中系统包括操作模块和检测模块，所述操作模块包括系统设置模块以及尺寸测量模块；系统设置模块包括参数配置、试题制作以及模板校准功能；进入系统设置模块需要输入密码；尺寸测量模块包括正面尺寸测量和侧面尺寸测量的功能；尺寸测量评分系统还包括退出系统模块；本发明通过设置尺寸测量界面完成参数配置、试题制作、模板校准以及尺寸测量的功能，实现模板的制作以及待检测零件的精确测量。
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公开(公告)号：CN112162145B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942393.3
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法，自动搜索实现对SC晶片当前频率的搜索，并且根据自动搜索的不同结果进行不同的处理，若指定圈数内未搜索到频率则系统提示搜索异常报警，若搜索到一个频率则进行单频率跟踪测频流程，若搜索到两个频率则进行双频率跟踪测频流程；同时当系统出现测频异常且频率未到达停机阈值时，调用自动搜索功能重新搜索频率；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法。
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公开(公告)号：CN113467664A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110356518.9
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G06F3/0482 , G01B11/00 , G01B11/24
Abstract: 本发明公开一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法，2.1)初始步骤、2.2)用户操作判断步骤、2.3)进入测量步骤、2.4)空模板步骤、2.5)退出取消步骤；本发明提供了多参数测量、容易标准化、高效工作的一种基于模板匹配的尺寸测量仪使用方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110221124B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910472593.4
申请日：2016-12-23
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开了基于扫频数据机制的石英晶片在线研磨的测控方法，包括如下步骤：初始化数据、谐振频率自动搜索流程、基于扫频数据机制的跟踪测频流程、惯性导航流程；本发明的优点在于：石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法，具有抗干扰性强、运行稳定、统计参数多样、全自动化的晶片研磨。
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公开(公告)号：CN110221124A
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201910472593.4
申请日：2016-12-23
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开了基于扫频数据机制的石英晶片在线研磨的测控方法，包括如下步骤：初始化数据、谐振频率自动搜索流程、基于扫频数据机制的跟踪测频流程、惯性导航流程；本发明的优点在于：石英晶片研磨在线测频的自动搜索方法，具有抗干扰性强、运行稳定、统计参数多样、全自动化的晶片研磨。
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公开(公告)号：CN119984207A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510048893.5
申请日：2025-01-13
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明提供了隧道内施工空间定位系统，其包括：采集模块，用于获取隧道顶部螺栓组的深度图像信息；定位模块，基于采集的深度图像信息，定位螺栓组的位置；基于螺栓组的位置信息计算识别螺栓组的角度和螺栓组角度的偏移量；测量模块，基于定位模块获得的螺栓区域，获取螺栓根部深度值，基于螺栓根部值提取螺栓根部背景，计算所有螺栓根部的圆形点，以获得所有应测量尺寸，提高了安装吊柱的准确性。
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公开(公告)号：CN119714123A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411711438.0
申请日：2024-11-27
Abstract: 本发明公开了一种基于双目立体视觉的多视角线激光扫描系统及复杂表面全景测量方法，包括两个相机、线激光器、旋转台、控制器、连接控制器与相机的用于数据处理的计算机、两面用于采集多视角图像的平面镜，两个相机在同一高度上，且存在水平距离差，线激光器固定在旋转台上的旋转支架上等，本发明安装简单方便，安装要求较低，解决了平面镜间光线串扰的问题，在测量过程中无需考虑采集图像的杂散光对于三维测量的影响。另外，测量效率高，装置成本低、性价比高，常规的全景三维测量系统的成本高昂、设置复杂、标定繁琐，本发明所提出的多视角线激光扫描装置使用平面镜实现多视角成像，装置成本低、性价比高。
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公开(公告)号：CN115187655A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210689088.7
申请日：2022-06-16
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G06T7/70
Abstract: 本发明公开了一种菱形像元投影芯片的图案仿真方法，旨在克服现有技术中耗费资源大和误差大等问题，它包括如下步骤：确定菱形像元器件图像的分辨率；在方形像元图像系统中生成仿真图像；将方形像元图像的同一条方形像元的对角像元方向上的方形像元定义为仿真图像的行方向上的像元；将菱形像元器件图像中每一个的菱形像元的位置逐个对应到方形像元图像系统中每一个方形像元的位置，最终确认好仿真图像的位置；将方形像元图像系统中仿真图像的每一个像元的灰度值设置成与对应的菱形像元器件图像的菱形像元的灰度值相一致，最终得到在方形像元图像系统中的仿真图像。
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