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公开(公告)号:CN108701647A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201780013539.2
申请日:2017-01-30
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L21/28
Abstract: 本公开内容的实施方式可包括电镀特征的数种方法,这些特征形成于半导体器件上,诸如沟槽或通孔,该沟槽或介层窗是通过使用钴镀覆浴以单镶嵌或双镶嵌工艺形成。该钴电镀浴可含有“添加剂包”或“添加剂系统”,该“添加剂包”或“添加剂系统”包括某些比例的多种添加剂的组合,而助于高深宽比亚微米特征的金属填充。本公开内容的实施方式提供新的钴镀覆浴方法及化学品,这些方法与化学品包括烷基修饰咪唑、咪唑啉、及咪唑啉啶抑制剂化合物。
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公开(公告)号:CN112105758A
公开(公告)日:2020-12-18
申请号:CN201980031467.3
申请日:2019-05-02
Applicant: 应用材料公司
IPC: C23C16/04 , C23C16/06 , C23C16/14 , C23C16/455 , C23C16/56 , C23C16/448 , C23C28/00 , H01L21/285 , H01L21/768
Abstract: 本案提供一种用于提供具有金属膜的电子装置的设备和方法。本公开内容的一些实施方式利用金属钨层作为衬垫,该衬垫充满包含钴的金属膜。金属钨层具有对钴的良好粘附力,导致增强的钴缝隙填充效能。
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