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公开(公告)号：CN119643584A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202510178324.2
申请日：2025-02-18
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/95
Abstract: 本发明公开了一种基于布里渊光谱的晶圆检测方法及相关设备，涉及晶圆检测技术领域，其中基于布里渊光谱的晶圆检测方法包括以下步骤：根据布里渊光谱信息获取实测半高宽和实测频移；根据实测半高宽、实测频移、标准半高宽和标准频移计算晶格排列规则度，晶格排列规则度用于表征晶圆对应检测位置点处是否存在晶体缺陷。本申请的基于布里渊光谱的晶圆检测方法能解决现有的晶圆检测技术无法实现对晶圆的晶体缺陷进行无损快速准确检测的问题，能无损、快速且准确地检测晶圆的晶体缺陷。
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公开(公告)号：CN118072857B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410464224.1
申请日：2024-04-17
Applicant: 季华实验室
IPC: G16C20/30 , G06F18/24 , G06N3/042 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G16C20/20 , G16C20/70 , G16C20/90
Abstract: 本申请属于配方搭配的技术领域，公开了一种新配方生成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取配方数据库的物质组分关联矩阵信息，通过分子指纹算法和组分图注意力网络，基于各组分的分子结构信息，构建组分表示矩阵，根据配方图注意力网络，结合组分表示矩阵，对物质组分关联矩阵信息进行降维，得到最佳物质表示矩阵，根据最佳物质表示矩阵获取各物质之间的组合得分，并根据组合得分得到新配方，通过分子指纹算法、组分图注意力网络和配方图注意力网络，结合化学结构信息，计算物质组分关联矩阵信息中各物质之间的组合得分，以组成新配方，提高了新配方的生成效率。
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公开(公告)号：CN115575790B
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211587907.3
申请日：2022-12-12
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质，属于芯片检测技术领域，该方法包括：获取微米发光二极管芯片的光谱数据，将所述光谱数据转化为待测光谱向量；确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量，若所述第一角度参量符合预设的检测条件，则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量；确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量，根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测，实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。
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公开(公告)号：CN119964702A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510087291.0
申请日：2025-01-20
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及新材料设计技术领域，特别涉及一种基于电子结构的材料设计方法、装置、设备及存储介质。本发明的基于电子结构的材料设计方法通过引入量子化学计算方法以及前线分子轨道理论，从分子内基团相互作用关系构建分子生成模型，从而使预测的新材料分子遵循所需的电子结构特性，更适用于光电材料领域的设计和研发。
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公开(公告)号：CN119555174A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510112971.3
申请日：2025-01-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种非规则容器非接触式液体重量测量方法及其装置，本发明涉及检测仪器领域，所述非规则容器非接触式液体重量测量方法包括获取容器的图像信息；根据所述图像信息获取所述容器的特征参数；在数据库中查找与所述特征参数相匹配的预设参数；获取与所述预设参数关联的内壁体积‑高度比；检测所述容器内的液位高度；检测所述容器内的液体密度；根据所述内壁体积‑高度比、所述液位高度以及所述液体密度计算所述容器内的液体重量。本发明技术方案能够快速准确确定所述容器的内壁体积‑高度比，避免对容器单独建模带来的人工成本，提高监测效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118802425B
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411282091.2
申请日：2024-09-13
Applicant: 季华实验室
IPC: H04L25/02 , H04B7/0413
Abstract: 本申请涉及一种基站MIMO无线通信系统的信道估计优化方法、装置、设备及介质，其涉及数据处理领域，方法包括：获取各个通信连接请求中的信道前导码；基于通信连接请求中的信道前导码，确定预设的信道估计优化模型中的信道前导码相对应的多个神经元的脉冲发放率；在信道估计优化模型的神经元中，采用泊松分布根据脉冲发放率进行泊松采样，随机生成下一个脉冲发放的时间间隔，当累积的时间间隔达到或超过预设时间间隔阈值时，记录当前时间点相对应的信道前导码的信道脉冲编码；将信道前导码的信道脉冲编码输入至信道估计优化模型中的变分自编码器以重建信道前导码。本申请在提高信道估计的准确性和效率的同时，还显著降低了MIMO无线通信系统的能耗。
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公开(公告)号：CN118035755A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311775571.8
申请日：2023-12-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G06F18/22 , G01N21/65 , G06N3/042 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/0499 , G06N3/048 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种光谱检测方法、装置、设备及可读存储介质，涉及产品检测领域，自适应光谱角神经网络的建模不同样本光谱间的相似度，简化的图卷积神经网络聚合样本光谱邻域相似度信息，多尺度卷积神经网络层提取光谱的局部特征，多头自注意力层并行提取光谱全局特征，包括：基于光谱向量之间的目标光谱相似度构建正则化相似度矩阵；基于所述正则化相似度矩阵提取局部特征，基于所述局部特征提取全局特征；将所述全局特征输入至预设的神经网络模型进行预测，输出得到所述光谱数据中各条光谱对应的预测结果。本申请提高了光谱检测的检测结果准确度、检测效率和稳定性。
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公开(公告)号：CN116429709B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310680666.5
申请日：2023-06-09
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/25 , G01J3/28 , G06F18/10 , G06F18/22 , G06F18/214
Abstract: 本发明公开了一种光谱检测方法、装置及计算机可读存储介质，其方法包括：获取光谱特征矩阵对应的光谱第一角相似度矩阵，并获取所述光谱第一角相似度矩阵对应的正则化拉普拉斯矩阵；基于所述光谱特征矩阵、正则化拉普拉斯矩阵、辅助变量以及稀疏约束噪声，确定光谱检测模型，其中，所述光谱检测模型的输出为去噪光谱特征矩阵；将所述光谱训练数据输入所述光谱检测模型进行迭代训练；若训练后的光谱检测模型收敛，则将训练后的光谱检测模型作为目标光谱检测模型，并将当前迭代的去噪光谱特征矩阵作为目标去噪光谱特征矩阵。本发明通过引入辅助变量对多个约束进行交替迭代优化，以从光谱数据中抽取出有效信息，可以准确地滤除光谱中的噪声。
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公开(公告)号：CN115575790A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211587907.3
申请日：2022-12-12
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质，属于芯片检测技术领域，该方法包括：获取微米发光二极管芯片的光谱数据，将所述光谱数据转化为待测光谱向量；确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量，若所述第一角度参量符合预设的检测条件，则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量；确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量，根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测，实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。
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公开(公告)号：CN119643584B
公开(公告)日：2025-05-20
申请号：CN202510178324.2
申请日：2025-02-18
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/95
Abstract: 本发明公开了一种基于布里渊光谱的晶圆检测方法及相关设备，涉及晶圆检测技术领域，其中基于布里渊光谱的晶圆检测方法包括以下步骤：根据布里渊光谱信息获取实测半高宽和实测频移；根据实测半高宽、实测频移、标准半高宽和标准频移计算晶格排列规则度，晶格排列规则度用于表征晶圆对应检测位置点处是否存在晶体缺陷。本申请的基于布里渊光谱的晶圆检测方法能解决现有的晶圆检测技术无法实现对晶圆的晶体缺陷进行无损快速准确检测的问题，能无损、快速且准确地检测晶圆的晶体缺陷。
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