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公开(公告)号：CN118734726B
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411236351.2
申请日：2024-09-04
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于优化材料配方的技术领域，公开了一种材料配方优化方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：使用孤立森林算法，从各发光材料的材料光谱数据中剔除异常数据，得到样本光谱数据，获取各样本光谱数据的测量光谱强度和实际光谱强度，用以结合光谱强度计算公式，构建透过率计算模型，利用L‑BFGS算法，根据透过率计算模型和不同材料的掺入量与实际光谱强度的函数关系式，结合材料组合对应的CIE坐标与期望坐标的差值，确定多个材料组合的最优配方组合；通过L‑BFGS算法、透过率计算模型、不同材料的掺入量与实际光谱强度的函数关系式、期望坐标和CIE坐标，确定材料组合的最优配方组合，以对材料配方进行优化，提高了材料配方的优化效率。
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公开(公告)号：CN118362371B
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410790923.5
申请日：2024-06-19
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及样品制造实验设备技术领域，本发明公开了一种压力控制热台及其控制方法，包括基座、设于基座上的施力机构、可竖向滑动地设于基座上的导向加压机构、设于基座上的对位机构、设于对位机构的输出端的加热台、以及控制器；施力机构包括升降组件、设于升降组件输出端的活动板、设于活动板上的压力传感器、以及设于活动板上的销轴；导向加压机构包括导向组件、设于导向组件上的下压组件、以及设于下压组件中部的载压板，下压组件与销轴滑动连接，并且销轴底部设有限位块；加热台包括均温板、以及温度传感器。本发明提供的压力控制热台及其控制方法，通过控温控压的方式来实现样品的制备，并且能够放置在显微镜下观察样品的微观反应过程。
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公开(公告)号：CN116333726A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310214679.3
申请日：2023-03-08
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及有机半导体领域，具体涉及一种有机晶体材料、有机晶体材料的制备方法及其应用，包括主体材料和客体材料，所述主体材料的结构如通式（Ⅰ）所示：（Ⅰ），所述客体材料的结构如通式（Ⅱ）所示：（Ⅱ）。本发明公开的一种新型的有机晶体材料，将常见的热活化延迟荧光有机小分子和金属配合物作为主客体材料混合通过溶液法制备无定形薄膜，随后加热退火获得。有机晶体材料的制备方法简单高效。本发明使用的TADF有机小分子具有合成工艺成熟，合成成本低的优势。
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公开(公告)号：CN114998330B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210894978.1
申请日：2022-07-28
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于晶圆检测技术领域，公开了一种无监督的晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取初始晶圆检测数据集；利用预设无监督自编码器为初始晶圆检测数据集中的无标签晶圆检测数据制作伪标签，生成目标晶圆检测数据集；根据目标晶圆检测数据集对预设分类器进行训练，得到训练好的目标分类器；在接收到待检测晶圆数据时，利用目标分类器对待检测晶圆数据进行检测，得到晶圆缺陷检测结果。通过上述方式，为无标签晶圆检测数据制作伪标签，利用有标签数据和伪标签数据对目标分类器进行训练，使得目标分类器学习到不同的缺陷特征，能够识别到未知的缺陷种类，提高了晶圆缺陷的检测精度。
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公开(公告)号：CN114782451B
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202210715388.8
申请日：2022-06-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种工件缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述工件缺陷检测方法包括：获取待测工件的偏振光强信息，依据所述偏振光强信息，确定待测工件对应的总光强信息、对应的偏振度信息以及对应的偏振角信息；对所述总光强信息、所述偏振度信息以及所述偏振角信息进行加权聚合，得到工件偏振特征图像；对所述工件偏振特征图像进行工件边缘轮廓检测，得到边缘轮廓特征信息；依据所述边缘轮廓特征信息，对所述待测工件进行工件缺陷检测，得到工件缺陷检测结果。本申请解决了工件缺陷检测准确度低的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118153692B
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410580190.2
申请日：2024-05-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及多模态数据应用技术领域，公开了一种基于语义的跨模态知识联想方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取跨模态知识及其对应的语言描述作为语义跨模态数据集；构建跨模态知识联想模型，跨模态知识联想模型包括语义mask子模型和融合变换因子生成子模型，语义mask子模型用于对语义跨模态数据集进行遮罩处理生成与语言描述最相关的部分数据，融合变换因子生成子模型用于对语义跨模态数据集进行处理生成变换因子；将语义跨模态数据集输入经过训练的跨模态知识联想模型中，输出符合语言描述的跨模态知识联想。本发明方法能够实现将最符合模型当前任务的跨模态知识联想用于下游任务，大幅提升深度学习模型面对跨模态任务的泛化能力。
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公开(公告)号：CN118408932A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410870052.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种Micro‑LED检测设备及检测方法，属于Micro‑LED检测技术领域，该设备包括运动台、激光器、物镜、反射镜、采集器、半透半反镜、第一灰度相机、第二灰度相机。本申请提供的上述方案，在反射镜处于第一位置时，物镜成像后发出的光经过半透半反镜后，会分别进入到第一灰度相机和第二灰度相机中，后经过图像采集卡发送给计算机；在反射镜处于第二位置时，物镜成像后发出的光会经过反射镜后进入到采集器中，采集器通过标准光谱或色度对光图像进行标定，标定后的光图像经过图像采集卡发送给计算机，计算机再分析、计算标定后的光图像和经过灰度相机处理的光图像，从而实现Micro‑LED快速、高精度检测。
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公开(公告)号：CN118362371A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410790923.5
申请日：2024-06-19
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及样品制造实验设备技术领域，本发明公开了一种压力控制热台及其控制方法，包括基座、设于基座上的施力机构、可竖向滑动地设于基座上的导向加压机构、设于基座上的对位机构、设于对位机构的输出端的加热台、以及控制器；施力机构包括升降组件、设于升降组件输出端的活动板、设于活动板上的压力传感器、以及设于活动板上的销轴；导向加压机构包括导向组件、设于导向组件上的下压组件、以及设于下压组件中部的载压板，下压组件与销轴滑动连接，并且销轴底部设有限位块；加热台包括均温板、以及温度传感器。本发明提供的压力控制热台及其控制方法，通过控温控压的方式来实现样品的制备，并且能够放置在显微镜下观察样品的微观反应过程。
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公开(公告)号：CN116887650A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310828999.8
申请日：2023-07-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种有机晶体膜器件的熔融态相转变制备方法，应用于喷墨打印机，方法包括：在加热板上放置基板，并在基板上放置电极层；将基板加热至预设温度；利用喷头将熔融态的有机材料喷涂于电极层，形成熔融态的有机材料层；将另一基板覆盖并按压于熔融态的有机材料层上，并按照预设时长对熔融态的有机材料层进行梯度式降温至另一预设温度，以形成晶态的有机材料层；在晶态的有机材料层上加盖另一电极层，完成有机晶体膜器件的制备。本发明通过喷墨打印机的喷头并利用熔融态的有机材料制备有机晶体膜器件，避免了有机材料因处于气相时容易扩散而导致的材料损失，且可在常压中进行，避免了抽真空过程，降低了有机晶体膜器件的生产成本。
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公开(公告)号：CN114441149B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202210371679.X
申请日：2022-04-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
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