一种航空摄影陀螺稳定座架控制方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117666363A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202410120648.6

    申请日:2024-01-29

    Abstract: 本发明提供了一种航空摄影陀螺稳定座架控制方法及相关设备,涉及陀螺稳定座架控制技术领域。该航空摄影陀螺稳定座架控制方法包括步骤:获取陀螺稳定座架中方位框架在当前时刻下的实际角位置;利用基于运动学模型的预测控制器计算方位框架在当前时刻下的预测角位置;根据实际角位置和预测角位置计算预测误差;根据实际角位置和预测误差计算最优角速度;根据最优角速度,利用基于动力学模型的滑模控制器获取控制量;根据控制量控制陀螺稳定座架。本发明的航空摄影陀螺稳定座架控制方法能够有效解决非线性问题,有效提高伺服系统稳定性和控制精度,进而有利于实现快速精准的航向跟踪。

    无人机遥感影像自适应配准方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116703704A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310474394.3

    申请日:2023-04-27

    Inventor: 理晨 俞航 徐冲

    Abstract: 本发明公开了一种无人机遥感影像自适应配准方法,包括如下步骤:通过无人机终端生成无人机的可见光影像和高光谱正射影像;由可见光影像得到参考影像,由高光谱正射影像得到待配准影像;分别提取参考影像和待配准影像的SIFT特征形成均匀分布的同名点对;以同名点对为控制点,采用薄板样条插值对高光谱正射影像进行重采样实现粗配准;最后在归一化最小平方距离系数与一阶变形模型的数字图像分析方法中实现精配准,达到亚像素精度的自适应配准,大幅提升配准精度。

    相机时间同步方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119299849A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411761967.1

    申请日:2024-12-03

    Abstract: 本申请属于相机时间同步的技术领域,公开了一种相机时间同步方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:实时获取时间基准装置中的相对时间或绝对时间,通过时间编码规则,将相对时间或绝对时间转换为对应的编码信息,用以调整光源阵列,得到实时调整后的光源阵列信息,同时,控制相机拍摄,使相机拍摄记录有实时调整后的光源阵列信息的拍摄图片,利用时间解码规则,对实时调整后的光源阵列信息进行解码,得到记录有拍摄时间的拍摄图片;通过相对时间或绝对时间调整光源阵列,并对实时调整后的光源阵列信息进行解码,得到记录有拍摄时间的拍摄图片,以对相机进行时间同步,提高了相机的时间同步效率。

    一种航空摄影陀螺稳定座架控制方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117666363B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410120648.6

    申请日:2024-01-29

    Abstract: 本发明提供了一种航空摄影陀螺稳定座架控制方法及相关设备,涉及陀螺稳定座架控制技术领域。该航空摄影陀螺稳定座架控制方法包括步骤:获取陀螺稳定座架中方位框架在当前时刻下的实际角位置;利用基于运动学模型的预测控制器计算方位框架在当前时刻下的预测角位置;根据实际角位置和预测角位置计算预测误差;根据实际角位置和预测误差计算最优角速度;根据最优角速度,利用基于动力学模型的滑模控制器获取控制量;根据控制量控制陀螺稳定座架。本发明的航空摄影陀螺稳定座架控制方法能够有效解决非线性问题,有效提高伺服系统稳定性和控制精度,进而有利于实现快速精准的航向跟踪。

    高光谱数据快速几何检校方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117557479A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311634315.7

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本发明涉及数据检校技术领域,尤其涉及高光谱数据快速几何检校方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取高分辨率可见光面阵影像并进行预处理,得到可见光正射影像;获取高光谱原始影像并进行几何粗校正,得到高光谱粗几何校正射影像;对前述所得的两个影像进行特征提取处理和匹配处理,根据匹配结果构建大量伪控制点,以获取包括地理坐标的点对集合;计算在数字地表模型坐标下的各个扫描像元的真实扫描向量,并计算对应的地理坐标;根据点对集合和计算所得的地理坐标构建代价函数;以代价函数最小为优化目标,迭代求解高光谱几何检校参数,以对高光谱原始影像进行几何校正;本申请公开的方法,可大幅提高几何检校效率,并可降低检校成本。

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