公开(公告)号：CN115083500A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210998070.5

申请日：2022-08-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  余昊杰 ,  杨航 ,  谢祖帅 ,  姚佳飞 ,  王子轩 ,  郭宇锋

IPC: G11C29/10 ,  G11C29/54

Abstract: 本发明公开基于自适应March算法的可重构MBIST方法，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。提出自适应March算法并基于该算法提出一种可重构MBIST电路，根据外部环境和用户指令自动重构出不同算法电路以满足不同故障的检测需求。提出的自适应March算法可以自适应重组出不同复杂程度的算法，从而在算法的时间复杂度和故障覆盖率之间进行动态调整以达到很好的平衡，且静态故障覆盖率高，有效提高动态故障覆盖率。所提出的可重构MBIST电路基于状态机实现，其优势在于内置的不同算法共享绝大部分电路元素，相比拥有同等算法切换功能的电路，节省电路面积。

公开(公告)号：CN112666451B

公开(公告)日：2021-06-29

申请号：CN202110273673.4

申请日：2021-03-15

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  杨涵 ,  周国鹏 ,  宋健 ,  余昊杰 ,  王子轩 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/28 ,  G06F30/367

Abstract: 本发明公开了一种集成电路扫描测试向量生成方法，包括，读入网表文件，生成故障列表，随机测试向量生成模块启动，随机生成测试向量并删除所覆盖到的故障，生成新故障列表；启动基于伪分布式系统的MapReduce框架，分别在映射阶段和化简阶段对所述新故障列表执行自动测试向量生成和故障仿真操作；进行所述故障仿真时，消除冗余测试向量和精准控制覆盖率模块启动，将所述冗余测试向量舍去；若使能所述精准控制覆盖率模块，则判断所述测试向量的生成过程是否满足设定阈值，若满足，则自动停止。达到大幅减少测试成本的目的，通过实验分析，证明了本发明方法在时间及测试向量数量上得到大幅度的减少。

公开(公告)号：CN115083500B

公开(公告)日：2022-11-01

申请号：CN202210998070.5

申请日：2022-08-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  余昊杰 ,  杨航 ,  谢祖帅 ,  姚佳飞 ,  王子轩 ,  郭宇锋

IPC: G11C29/10 ,  G11C29/54

Abstract: 本发明公开基于自适应March算法的可重构MBIST方法，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。提出自适应March算法并基于该算法提出一种可重构MBIST电路，根据外部环境和用户指令自动重构出不同算法电路以满足不同故障的检测需求。提出的自适应March算法可以自适应重组出不同复杂程度的算法，从而在算法的时间复杂度和故障覆盖率之间进行动态调整以达到很好的平衡，且静态故障覆盖率高，有效提高动态故障覆盖率。所提出的可重构MBIST电路基于状态机实现，其优势在于内置的不同算法共享绝大部分电路元素，相比拥有同等算法切换功能的电路，节省电路面积。

公开(公告)号：CN112666451A

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN202110273673.4

申请日：2021-03-15

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  杨涵 ,  周国鹏 ,  宋健 ,  余昊杰 ,  王子轩 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/28 ,  G06F30/367

Abstract: 本发明公开了一种集成电路扫描测试向量生成方法，包括，读入网表文件，生成故障列表，随机测试向量生成模块启动，随机生成测试向量并删除所覆盖到的故障，生成新故障列表；启动基于伪分布式系统的MapReduce框架，分别在映射阶段和化简阶段对所述新故障列表执行自动测试向量生成和故障仿真操作；进行所述故障仿真时，消除冗余测试向量和精准控制覆盖率模块启动，将所述冗余测试向量舍去；若使能所述精准控制覆盖率模块，则判断所述测试向量的生成过程是否满足设定阈值，若满足，则自动停止。达到大幅减少测试成本的目的，通过实验分析，证明了本发明方法在时间及测试向量数量上得到大幅度的减少。