一种嵌入式设备安全启动架构及方法

    公开(公告)号:CN114861191A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210457392.9

    申请日:2022-04-27

    Abstract: 本发明涉及一种嵌入式设备安全启动架构及方法,属于嵌入式设备安全领域。本发明的架构包括嵌入式设备(1)、处理器单元(2)、存储设备单元(6)、密钥生产存储单元(7)以及存储设备(8),所述处理器单元(2)包括加解密单元(3)、密钥管理单元(4)和调试接口封锁单元(5)。本发明在整个嵌入式设备启动过程中,使用密钥的分量加密储存,并且增加了硬件调试接口封锁保护,这增加了嵌入式设备应用程序和关键程序的存储安全。本发明中的密钥管理单元对密钥进行单独管理增加了密钥的安全性,从而保证嵌入式涉笔数据安全。本发明将密钥进行分量存储,不存储在一个存储设备中,可增加攻击者的破解难度。

    一种缩小封装体积的封装堆叠结构

    公开(公告)号:CN110993597A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911271817.1

    申请日:2019-12-12

    Abstract: 本发明涉及一种涉及缩小封装体积的封装堆叠结构,其中,包括:封装基板、控制器晶粒、绝缘支撑垫片、控制器晶粒的键合丝、Flash存储晶粒以及Flash存储晶粒的键合丝;将控制器晶粒粘贴在封装基板上;经过键合工艺将控制器晶粒与封装基板通过键合丝进行电性连接;两片绝缘垫片分别粘贴在控制器晶粒两侧的封装基板上;两颗Flash存储晶粒分别堆叠在绝缘垫片上;Flash存储晶粒通过键合丝和封装基板进行电性连接,Flash存储晶粒为大尺寸晶粒,控制器晶粒为小尺寸晶粒。本发明采用的封装堆叠结构可以有效的缩小封装体积,提高了芯片的可靠性。

    一种多时钟自动切换方法

    公开(公告)号:CN110795289A

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201911038278.7

    申请日:2019-10-29

    Abstract: 本发明涉及一种多时钟自动切换方法,包括:监测主时钟是否发生错误;判别备份时钟工作频率是否正常;监测主时钟是否丢失;通过主时钟判断备份时钟是否丢失;确定时钟是否切换:根据配置寄存器计数器值,对主时钟检测错误进行计数,如果计数值达到配置寄存器值,且主时钟发生错误,需要进行切换;如果主时钟发生了时钟错误,且备份时钟正常,满足切换条件,根据配置寄存器备份时钟的优先级确定对应切换的备份时钟;如果需要切换的备份时钟也发生错误,根据置寄存器备份时钟的优先级切换到次优先级的时钟。

    一种适用于环境试验的测试系统

    公开(公告)号:CN115327275B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202211005595.0

    申请日:2022-08-22

    Abstract: 本发明涉及一种适用于环境试验的测试系统,属于测试领域。本发明的系统包括PC机、测试工装、陪测工装、单端接口板及线缆,测试工装包括主控板和专用接口板,陪测工装包括工装结构和陪测差分板。本发明在多被测对象情况下实现远距离可靠传输,本发明应用范围广,可参与高低温工作试验、高低温存储试验、振动、冲击及离心力(加速度)试验;本发明的陪测工装可靠性高,无论是力学试验测试,还是高温工作、低温工作、高温存储、低温存储等环境试验,差分板均无问题。

    一种适用于严苛环境的PCIE外插卡测试系统

    公开(公告)号:CN115686957A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211272955.3

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 本发明涉及一种适用于严苛环境的PCIE外插卡测试系统,属于工控测试领域。本发明的系统包括:工控机、测试工装(包括一个PCIE外插卡载板)、测试线缆和PCIE转接卡。本发明通信线缆可远距离可靠传输,目前试验线缆长度为1.2米,PCIE Gen3.0×4正确通信;本发明的测试工装是被测设备的载体,由于PCIE金手指形态接口不防水、不耐湿热和不抗振动冲击,测试工装屏蔽或者衰减了试验过程中施加的应力对被测对象的影响,是环境试验或可靠性试验是否成功的有利保障。本发明的测试系统可靠性高,应用范围广。

    一种基于物理页相对温度的SLC闪存磨损均衡方法

    公开(公告)号:CN110531935B

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN201910807810.0

    申请日:2019-08-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于物理页相对温度的SLC闪存磨损均衡方法,其中,包括:闪存控制器上电后,接收到写请求,写请求中带有待写入物理块中待选各页的对应数据,确定待选各页的相对温度数值未超过设定的温度阈值,并从待选各页中选取擦写次数最小的物理页作为待写入物理页;将写请求中带有的对应数据与待写入页中原有数据作比较,包括:对每页的数据写入前后各晶体管翻转情况进行统计,根据浮栅晶体管电气特性,获得对应页的相对温度,将相对温度与物理块PE次数共同作为磨损均衡方法的考核指标。

    一种NVMe原型仿真验证结构

    公开(公告)号:CN109446015B

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN201811255540.9

    申请日:2018-10-26

    Abstract: 本发明涉及NVMe原型仿真验证结构,其中,包括:模拟主机内存用于模拟主机内存;提取数据和打印接收包信息模块用于从数据包里把数据提取出来,执行译码,并把接收到的包信息打印到文件中;解码模块的用于分析接收包和发送包的包头信息;组包模块用于根据包的格式,把要发送的数据或命令组包;模拟RAM用于模拟随机存储器;接收数组用于把接收到的包存到接收数组里,发送数组用于把要发送的数组存到发送数组里;NVMe控制器是要被验证的模块;打印发送包信息模块,用于把发送包的信息打印到文件中。

    一种集成四核DSP及1553B总线控制器的SIP封装电路

    公开(公告)号:CN108763144A

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201810275500.4

    申请日:2018-03-30

    CPC classification number: G06F15/7867 G06F13/385 G06F13/4068

    Abstract: 本发明公开了一种集成四核DSP及1553B总线控制器的SIP封装电路,其中,包括:1553B收发器、用户I/O、配置PROM、ADC、总线驱动、FPGA、JTAG总线、FLASH、四核DSP、EMIF总线和SRAM;FPGA与四核DSP通过EMIF总线双向连接,FPGA与四核DSP通过EMIF总线双向连接,FPGA与四核DSP连接,FLASH通过EMIF总线双向连接FPGA和四核DSP,SRAM通过EMIF总线双向连接FPGA和四核DSP,1553B收发器和FPGA双向连接,配置PROM和FPGA双向连接,ADC和总线驱动单向互联,FPGA和总线驱动单向互联。本发明可在有限空间内集成多种元件裸片,有效减小计算控制器的体积和重量。

    一种SoC系统的分组总线互连架构
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119416726A

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202411434531.1

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明属于芯片设计领域,提出一种SoC系统的分组总线互连架构,包括一条系统总线矩阵SYS_BUS_Matrix、至少1路处理器总线矩阵CBM、至少1路高速外设总线矩阵HPBM、至少1路存储器总线矩阵RBM和1路低速外设总线矩阵SPBM,其中,CBM、HPBM、RBM和SPBM均通过总线桥与SYS_BUS_Matrix连接;CBM上挂载嵌入式处理器,同时CBM连接RMB;HPBM上挂载高速外设,同时HPBM连接RMB;RBM上挂载RAM存储器,同时RBM连接CBM、HPBM;SPBM通过AXI‑AHB桥连接多路AHB总线,SPBM通过AXI‑APB桥连接多路APB总线,同时SPBM连接SYS_BUS_Matrix,AHB总线或APB总线上挂载多路低速外设。本发明能够均衡处理器、高速外设、存储等模块之间总线传输,有效减少高速接口之间的总线竞争,提高数据传输效率,简化芯片后端实现,从而使整个SOC系统性能最优化。

Patent Agency Ranking