化学机械抛光设备的调度方法、装置及化学机械抛光设备

    公开(公告)号:CN114219355A

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202111625689.3

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 本发明公开了化学机械抛光设备的调度方法、装置及化学机械抛光设备,抛光设备包括双侧传递的多个抛光头,该方法包括:获取多个抛光头的调度流程;从调度流程中提取多个抛光头在下一时刻的动作执行信息;根据动作执行信息筛选在下一时刻存在位置重叠的抛光头;根据存在位置重叠抛光头所执行动作的优先级对存在位置重叠的抛光头所对应的调度流程进行调整。本发明通过对抛光头的行为动作进行预判从而调整的调度流程,有效避免了因抛光头工作协调问题可能发生的撞击问题,同时双侧多抛光头可以通过多种组合方式按照调度流程执行动作,有效提高了晶圆在抛光过程中的动作执行效率。

    一种晶圆刷洗压力的控制方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN114815917A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210424383.X

    申请日:2022-04-20

    Abstract: 本发明公开了一种晶圆刷洗压力的控制方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:收集若干组滚刷移位器的移位参数及对应的晶圆压力;根据收集到的移位参数及对应的晶圆压力计算移位参数和晶圆压力的函数关系;在加工晶圆时,根据设定的晶圆压力,利用函数关系计算滚刷移位器的目标移位参数;控制滚刷移位器移动到目标移位参数处。本发明能够按工艺需求设定任意晶圆压力并使滚刷移位器移动,此外,通过晶圆加工数量和偏移量的关系,实时进行压力补偿,避免滚刷不断损耗导致误差变大,提高了刷洗设备的稳定性。

    一种晶圆清洗装置保湿功能的控制方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN115172221A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210888536.6

    申请日:2022-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种晶圆清洗装置保湿功能的控制方法、装置及存储介质,清洗装置中包括多个工位,对于任一工位,该方法包括:判断工位是否处于空闲状态;当工位处于空闲状态时,判断工位上是否有晶圆;当工位上有晶圆时,根据晶圆保湿配方控制清洗装置进行保湿;当工位上无晶圆时,根据无晶圆保湿配方控制清洗装置进行保湿,无晶圆保湿配方和晶圆保湿配方不同。通过实施本发明,判断工位是否处于空闲状态且工位上是否有晶圆,控制工位调取晶圆保湿配方或者调取无晶圆保湿配方,实现不同的保湿方案。由此,采用不同的保湿方案,在无晶圆时与晶圆相关的结构不工作,解决了现有技术中有晶圆和无晶圆时采用相同方式保湿时损耗大成本高的问题。

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