一种运载火箭入轨精度鉴定方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119475570A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411512729.7

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种运载火箭入轨精度鉴定方法,包括:产生各入轨参数偏差的补充样本;分别对每一入轨参数偏差的补充样本与飞行样本进行相容性检验和正态性检验,将通过相容性检验和正态性检验的补充样本和飞行样本作为综合样本;基于综合样本,采用置信区间估计法得到各入轨参数偏差的精度区间;基于综合样本,计算各入轨参数偏差之间的协方差矩阵;根据各入轨参数偏差之间的协方差矩阵得到各入轨参数偏差之间的相关性;基于各入轨参数偏差的精度区间和各入轨参数偏差之间的相关性完成运载火箭入轨精度鉴定。本发明为小子样情况下合理评估和优化运载火箭整体性能、科学决策后续任务方案提供了重要依据,具有十分重要的工程应用价值。

Patent Agency Ranking