公开(公告)号：CN108535210A

公开(公告)日：2018-09-14

申请号：CN201810629782.3

申请日：2018-06-19

Applicant: 北京农业信息技术研究中心

Inventor： 李斌 ,  张永珍 ,  罗长海 ,  陈怡每

IPC: G01N21/3563 ,  G01N21/3581

Abstract: 本发明涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本发明所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。

公开(公告)号：CN208255051U

公开(公告)日：2018-12-18

申请号：CN201820945938.4

申请日：2018-06-19

Applicant: 北京农业信息技术研究中心

Inventor： 李斌 ,  罗长海 ,  张永珍 ,  王姝言 ,  孙晓冬

IPC: G01N21/3563 ,  G01N21/3581

Abstract: 本实用新型涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本实用新型所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利