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公开(公告)号：CN113945828B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202111212953.0
申请日：2021-10-19
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28 , G01R35/00 , G01R19/165
Abstract: 本发明为一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，实现了模拟信号的高度自动化测量，可广泛应用于模拟电路中的直流电压电流的测量与筛选。在IC行业激烈竞争的今天，测试资源非常紧缺，降低测试时间，尽可能减少测试资源的占用，对降低芯片成本具有重要意义。在相同测试成本下，也可通过投入更多测试项，利用丰富的测试手段解决电路设计中难以解决的问题成为可能。本设计实现了片内高度自动化测试，在使用很少的测试资源基础上，可以快速且高精度的完成多项测试。设计仅使用一个测试PAD实现多信号的测试，既减少了PAD面积和封装成本，也防止芯片内部信号直接输出到PAD，提高芯片的安全性。另外，设计具有失调校准功能，以提高测试精度。
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公开(公告)号：CN113315498B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202110606752.2
申请日：2021-05-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: H03K17/284 , H03K17/22
Abstract: 本发明提出了一种高精度POR电路，主要应用于双界面智能卡。随着芯片工艺特征尺寸的持续降低，MOS器件特性变得更加不稳定，传统POR基于器件自身特性，其检测点电压同样变得精度不够，对智能卡类产品的上下电过程造成无法启动的功能风险。本发明针对双界面卡类产品，对POR高精度的检测点电压及非接模式下高精度延迟时间的需求，提出了解决方案。该方案利用了带隙基准电压产生电路(band‑gap)trimming前的输出参考电压，与VCC分压进行比较的方式产生复位信号，提高了检测点电压的精度；同时利用电阻加MOS器件做电阻，结合电容形成RC网络的方式，在需要较长延迟时间的智能卡接触模式，开启电阻和MOS器件；在需要精确且较短延迟时间的非接触模式，仅开启电阻，获得精确的延迟时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113945828A
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202111212953.0
申请日：2021-10-19
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28 , G01R35/00 , G01R19/165
Abstract: 本发明为一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，实现了模拟信号的高度自动化测量，可广泛应用于模拟电路中的直流电压电流的测量与筛选。在IC行业激烈竞争的今天，测试资源非常紧缺，降低测试时间，尽可能减少测试资源的占用，对降低芯片成本具有重要意义。在相同测试成本下，也可通过投入更多测试项，利用丰富的测试手段解决电路设计中难以解决的问题成为可能。本设计实现了片内高度自动化测试，在使用很少的测试资源基础上，可以快速且高精度的完成多项测试。设计仅使用一个测试PAD实现多信号的测试，既减少了PAD面积和封装成本，也防止芯片内部信号直接输出到PAD，提高芯片的安全性。另外，设计具有失调校准功能，以提高测试精度。
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公开(公告)号：CN110943791B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN201911170384.0
申请日：2019-11-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 李博文
Abstract: 本发明提出了一种对于BLE射频收发机系统测试平台以及一种基于该平台的IQ失配测试方法。此测试平台采用BLE RF测试板与BLE FPGA实验板相连，利用一台笔记本电脑的SPI配置软件配置芯片上的RF寄存器；再利用安装在笔记本电脑上的3VT软件读写FPGA中数字基带的寄存器配置字，完成FPGA的配置。之后利用Signal Generator发送BLE数据包，通过读取FPGA内寄存器值计算接收到数据包数量进行BLE RF芯片接收机性能测试；利用带有频谱仪接收数据，并通过其上的BLE插件进行BLE RF芯片发射机性能测试。基于该平台可实现一种IQ失配测试方法，根据BLE协议，分别利用在channel频点和镜像频点处输入单tune信号的方式，再利用公式计算IMRR，即IQ mismatch程度参量。此平台可以实现BLE射频收发机系统的深入测试分析，为BLE射频收发机系统Debug阶段提供了良好的测试条件，同时IQ失配测试方法可在没有基带正交信号测试接口时进行失配计算。
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公开(公告)号：CN113315498A
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202110606752.2
申请日：2021-05-27
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: H03K17/284 , H03K17/22
Abstract: 本发明提出了一种高精度POR电路，主要应用于双界面智能卡。随着芯片工艺特征尺寸的持续降低，MOS器件特性变得更加不稳定，传统POR基于器件自身特性，其检测点电压同样变得精度不够，对智能卡类产品的上下电过程造成无法启动的功能风险。本发明针对双界面卡类产品，对POR高精度的检测点电压及非接模式下高精度延迟时间的需求，提出了解决方案。该方案利用了带隙基准电压产生电路(band‑gap)trimming前的输出参考电压，与VCC分压进行比较的方式产生复位信号，提高了检测点电压的精度；同时利用电阻加MOS器件做电阻，结合电容形成RC网络的方式，在需要较长延迟时间的智能卡接触模式，开启电阻和MOS器件；在需要精确且较短延迟时间的非接触模式，仅开启电阻，获得精确的延迟时间。
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公开(公告)号：CN110943791A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911170384.0
申请日：2019-11-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 李博文
Abstract: 本发明提出了一种对于BLE射频收发机系统测试平台以及一种基于该平台的IQ失配测试方法。此测试平台采用BLE RF测试板与BLE FPGA实验板相连，利用一台笔记本电脑的SPI配置软件配置芯片上的RF寄存器；再利用安装在笔记本电脑上的3VT软件读写FPGA中数字基带的寄存器配置字，完成FPGA的配置。之后利用Signal Generator发送BLE数据包，通过读取FPGA内寄存器值计算接收到数据包数量进行BLE RF芯片接收机性能测试；利用带有频谱仪接收数据，并通过其上的BLE插件进行BLE RF芯片发射机性能测试。基于该平台可实现一种IQ失配测试方法，根据BLE协议，分别利用在channel频点和镜像频点处输入单tune信号的方式，再利用公式计算IMRR，即IQ mismatch程度参量。此平台可以实现BLE射频收发机系统的深入测试分析，为BLE射频收发机系统Debug阶段提供了良好的测试条件，同时IQ失配测试方法可在没有基带正交信号测试接口时进行失配计算。
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公开(公告)号：CN216560877U
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202122517870.4
申请日：2021-10-19
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28 , G01R35/00 , G01R19/165
Abstract: 本实用新型为一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，实现了模拟信号的高度自动化测量，可广泛应用于模拟电路中的直流电压电流的测量与筛选。在IC行业激烈竞争的今天，测试资源非常紧缺，降低测试时间，尽可能减少测试资源的占用，对降低芯片成本具有重要意义。在相同测试成本下，也可通过投入更多测试项，利用丰富的测试手段解决电路设计中难以解决的问题成为可能。本设计实现了片内高度自动化测试，在使用很少的测试资源基础上，可以快速且高精度的完成多项测试。设计仅使用一个测试PAD实现多信号的测试，既减少了PAD面积和封装成本，也防止芯片内部信号直接输出到PAD，提高芯片的安全性。另外，设计具有失调校准功能，以提高测试精度。
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