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公开(公告)号：CN113358946A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110667258.7
申请日：2021-06-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法，包括：N倍频器，输出毫米波太赫兹信号；毫米波/太赫兹双定向耦合器，耦合输出参考信号及测试信号；第一毫米波/太赫兹谐波混频器，对参考信号下变频为中频参考信号；第二毫米波/太赫兹谐波混频器，对测试信号下变频为中频测试信号；毫米波/太赫兹定向耦合器，耦合输出噪声功率；M倍频器；毫米波/太赫兹二次谐波混频器，将噪声功率下变频为中频噪声信号；射频/微波开关，切换测试通道。本发明解决了毫米波/太赫兹频段放大器芯片单次连接同时测量噪声系数和S参数的难题，并将测试参考面校准至探针尖处，真正实现了单次连接，单次校准，测试精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114325094B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202111681561.9
申请日：2021-12-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明提供一种相位信息测量装置及方法，所述测量装置包括：至少一路相位信息测量电路，所述相位信息测量电路包括：功分器，用于对输入信号进行功率分配，生成第一功分信号及第二功分信号；峰值检测电路，连接所述功分器的第一输出端，用于提取所述第一功分信号的峰值电压并转换成数字信号；现场可编程门阵列、阈值控制电路、高速甄别器、第一时间标定电路、过零检测电路、高速触发器、第二时间标定电路、选择器及计数器。本发明的相位信息测量装置可以包括多路相位信息测量电路，并将相位信息转化为时间信息，利用周期信号幅度相位转化的原理进行时间测量，对200MHz以下的信号能够做到高精度的测量。
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公开(公告)号：CN113358946B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202110667258.7
申请日：2021-06-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法，包括：N倍频器，输出毫米波太赫兹信号；毫米波/太赫兹双定向耦合器，耦合输出参考信号及测试信号；第一毫米波/太赫兹谐波混频器，对参考信号下变频为中频参考信号；第二毫米波/太赫兹谐波混频器，对测试信号下变频为中频测试信号；毫米波/太赫兹定向耦合器，耦合输出噪声功率；M倍频器；毫米波/太赫兹二次谐波混频器，将噪声功率下变频为中频噪声信号；射频/微波开关，切换测试通道。本发明解决了毫米波/太赫兹频段放大器芯片单次连接同时测量噪声系数和S参数的难题，并将测试参考面校准至探针尖处，真正实现了单次连接，单次校准，测试精度高。
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公开(公告)号：CN114325094A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111681561.9
申请日：2021-12-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明提供一种相位信息测量装置及方法，所述测量装置包括：至少一路相位信息测量电路，所述相位信息测量电路包括：功分器，用于对输入信号进行功率分配，生成第一功分信号及第二功分信号；峰值检测电路，连接所述功分器的第一输出端，用于提取所述第一功分信号的峰值电压并转换成数字信号；现场可编程门阵列、阈值控制电路、高速甄别器、第一时间标定电路、过零检测电路、高速触发器、第二时间标定电路、选择器及计数器。本发明的相位信息测量装置可以包括多路相位信息测量电路，并将相位信息转化为时间信息，利用周期信号幅度相位转化的原理进行时间测量，对200MHz以下的信号能够做到高精度的测量。
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公开(公告)号：CN112636843A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011520529.8
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块及在片测试系统，包括：微波开关，将激励信号发送至第一或第二倍频器；放大器，对第二倍频信号进行放大；定向耦合器，将信号传输至双定向耦合器；双定向耦合器，将定向耦合器的输出信号的一部分直通输出，另一部分耦合输出作为参考信号，并将测试件的反馈信号通过另一耦合支路耦合输出；衰减器，对第一倍频信号进行衰减得到线性参数，将第二倍频信号直接输出得到非线性参数；第一混频器，产生参考中频信号；第二混频器，产生测试中频信号。本发明采用微波开关切换的方式获得小信号和大信号，同时设置在片高低温探针台，进而在高低温环境下完成毫米波太赫兹放大器芯片的线性和非线性参数幅相误差校准及连续频率扫描测试。
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公开(公告)号：CN112636843B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202011520529.8
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块及在片测试系统，包括：微波开关，将激励信号发送至第一或第二倍频器；放大器，对第二倍频信号进行放大；定向耦合器，将信号传输至双定向耦合器；双定向耦合器，将定向耦合器的输出信号的一部分直通输出，另一部分耦合输出作为参考信号，并将测试件的反馈信号通过另一耦合支路耦合输出；衰减器，对第一倍频信号进行衰减得到线性参数，将第二倍频信号直接输出得到非线性参数；第一混频器，产生参考中频信号；第二混频器，产生测试中频信号。本发明采用微波开关切换的方式获得小信号和大信号，同时设置在片高低温探针台，进而在高低温环境下完成毫米波太赫兹放大器芯片的线性和非线性参数幅相误差校准及连续频率扫描测试。
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