超导电路以及超导芯片检测系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117825929A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410021067.7

    申请日:2024-01-05

    Abstract: 本发明提供一种超导电路以及超导芯片检测系统,包括:偏置电流输入输出模块以及超导功能器件模块;超导功能器件模块包括M个位于不同电流域的功能单元;各功能单元均有i对电流端口;偏置电流输入输出模块中包括M个供电单元;各供电单元与各功能单元一一对应设置,用于为对应的功能单元供不同大小的偏置电流;各供电单元包括P个电流输入通道以及P个电流输出通道;其中,各功能单元的i个输入端口中至少有两个输入端口连接至同一输入通道;各功能单元的i个输出端口中至少有两个输出端口连接至同一输出通道。本发明将不同电流域下的功能单元进行分类,将同一电流域下的供电通道合并为一路供电,进而实现了对超导电路芯片的供电通道优化。

    超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统

    公开(公告)号:CN113049908A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202110442272.7

    申请日:2021-04-23

    Abstract: 本申请提供的一种超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统,所述系统包括:两台可编程高精度直流电流源,为待测单元提供激励电流;可编程高精度电压表,测量待测单元电压;可编程开关矩阵,分别接入各可编程高精度直流电流源和可编程高精度电压表,并连接到一或多个待测单元;低通滤波模块,分别接于两台可编程高精度直流电流源、及可编程高精度电压表与可编程开关矩阵之间,以滤除高频噪声;上位机,用于与可编程模块进行通讯交互;接线端子板,与测试治具连接以装载待测单元。本申请能够提高超导SFQ标准工艺参数线下检测的精度和效率。

    一种集成超导器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN113257987B

    公开(公告)日:2022-12-23

    申请号:CN202110525255.X

    申请日:2021-05-08

    Abstract: 本发明提供一种集成超导器件及其制备方法,该集成超导器件包括衬底及位于衬底上的超导纳米线单光子探测器与超导单磁通量子电路,其中,超导纳米线单光子探测器包括超导曲折纳米线;超导单磁通量子电路包括电感层、约瑟夫森结及电阻层,电感层及电阻层均与约瑟夫森结电连接,且电感层与超导曲折纳米线在水平面上的投影部分重叠以形成互感,用于传递光子产生的脉冲信号。本发明将两种超导器件集成到同一个芯片上,无需进行跨芯片的信号传输,从而消减了噪声和系统复杂性,同时也为使用两种器件的片上系统(SOC)的构建提供了方便。

    一种集成超导器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN113257987A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110525255.X

    申请日:2021-05-08

    Abstract: 本发明提供一种集成超导器件及其制备方法,该集成超导器件包括衬底及位于衬底上的超导纳米线单光子探测器与超导单磁通量子电路,其中,超导纳米线单光子探测器包括超导曲折纳米线;超导单磁通量子电路包括电感层、约瑟夫森结及电阻层,电感层及电阻层均与约瑟夫森结电连接,且电感层与超导曲折纳米线在水平面上的投影部分重叠以形成互感,用于传递光子产生的脉冲信号。本发明将两种超导器件集成到同一个芯片上,无需进行跨芯片的信号传输,从而消减了噪声和系统复杂性,同时也为使用两种器件的片上系统(SOC)的构建提供了方便。

    超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统

    公开(公告)号:CN113049908B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202110442272.7

    申请日:2021-04-23

    Abstract: 本申请提供的一种超导SFQ标准工艺参数线下自动检测系统,所述系统包括:两台可编程高精度直流电流源,为待测单元提供激励电流;可编程高精度电压表,测量待测单元电压;可编程开关矩阵,分别接入各可编程高精度直流电流源和可编程高精度电压表,并连接到一或多个待测单元;低通滤波模块,分别接于两台可编程高精度直流电流源、及可编程高精度电压表与可编程开关矩阵之间,以滤除高频噪声;上位机,用于与可编程模块进行通讯交互;接线端子板,与测试治具连接以装载待测单元。本申请能够提高超导SFQ标准工艺参数线下检测的精度和效率。

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