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发明公开
超导电路以及超导芯片检测系统审中-实审

公开(公告)号：CN117825929A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202410021067.7

申请日：2024-01-05

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 赵文博 , 任洁 , 李凌云 , 牛明慧

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种超导电路以及超导芯片检测系统，包括：偏置电流输入输出模块以及超导功能器件模块；超导功能器件模块包括M个位于不同电流域的功能单元；各功能单元均有i对电流端口；偏置电流输入输出模块中包括M个供电单元；各供电单元与各功能单元一一对应设置，用于为对应的功能单元供不同大小的偏置电流；各供电单元包括P个电流输入通道以及P个电流输出通道；其中，各功能单元的i个输入端口中至少有两个输入端口连接至同一输入通道；各功能单元的i个输出端口中至少有两个输出端口连接至同一输出通道。本发明将不同电流域下的功能单元进行分类，将同一电流域下的供电通道合并为一路供电，进而实现了对超导电路芯片的供电通道优化。

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