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公开(公告)号：CN104062620B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201410338806.1
申请日：2014-07-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种功率校准测试系统，包括设定目标功率与目标频段的系统设置装置、连接于所述系统设置装置与功率传感器测量输出功率的功率计、连接于所述功率计产生微波信号的微波矢量网络分析仪、连接于所述微波矢量网络分析仪的倍频器、连接于所述倍频器的三端口定向耦合器、连接于所述微波矢量网络分析仪及所述三端口定向耦合器的谐波混频器。本发明通过实施闭环反馈回路，实现了对待测件输入端口参考面输入功率的实时闭环的监控和调整，可实现任何频段内的功率实时闭环功率校准和电路、器件的精确测量，大大提高了系统的通用型、有效性、一致性及精确性。
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公开(公告)号：CN104124922A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410373614.4
申请日：2014-07-31
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03B5/32
Abstract: 本发明提供一种3mm波段信号源及其应用，其中，所述3mm波段信号源至少包括：压控振荡器，用于产生微波信号；U波段倍频器，连接于所述压控振荡器，用于将所述压控振荡器产生的微波信号进行倍频；U波段低噪声放大器，连接于所述U波段倍频器，用于将所述U波段倍频器的输出信号进行放大；W波段倍频器，连接于所述U波段低噪声放大器，用于将所述U波段低噪声放大器的输出信号进行倍频；W波段低噪声放大器，连接于所述W波段倍频器，用于将所述W波段倍频器的输出信号进行放大。本发明的3mm波段信号源，采用成熟的低频振荡源结合倍频方式，不仅可以获得较好的性能，调谐带宽较宽，而且可以使结构更紧凑、成本更低。
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公开(公告)号：CN102207545B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201110139547.6
申请日：2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明公开了一种微波/毫米波矢量调制器传输特性的自动测试系统及方法，该系统包括小信号传输特性测试系统，以及大信号传输特性测试系统；所述大信号传输特性测试系统包括大信号功率压缩特性测试系统和大信号相位压缩特性测试系统；本发明配置灵活，不仅适用于各种毫米波频段传输特性的自动测试，而且能够全面实现微波/毫米波矢量调制器大信号条件下与小信号条件下的传输特性自动测试；此外，本发明还克服了目前国内微波/毫米波矢量调制器在大信号相位压缩特性与大信号功率压缩特性测试手段与自动测试系统缺乏的困难，同时避免了手工测试时的低效率、精确度低、不确定因素多等缺点。
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公开(公告)号：CN102207545A
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：CN201110139547.6
申请日：2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明公开了一种微波/毫米波矢量调制器传输特性的自动测试系统及方法，该系统包括小信号传输特性测试系统，以及大信号传输特性测试系统；所述大信号传输特性测试系统包括大信号功率压缩特性测试系统和大信号相位压缩特性测试系统；本发明配置灵活，不仅适用于各种毫米波频段传输特性的自动测试，而且能够全面实现微波/毫米波矢量调制器大信号条件下与小信号条件下的传输特性自动测试；此外，本发明还克服了目前国内微波/毫米波矢量调制器在大信号相位压缩特性与大信号功率压缩特性测试手段与自动测试系统缺乏的困难，同时避免了手工测试时的低效率、精确度低、不确定因素多等缺点。
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公开(公告)号：CN104092473A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410373596.X
申请日：2014-07-31
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种3mm波段接收机及其应用，其中，所述3mm波段接收机至少包括：接收天线，用于接收射频信号；低噪声放大器，用于将所述接收天线接收到的射频信号进行放大；本振信号源，用于产生本振信号；正交混频器，用于将所述低噪声放大器的输出信号和所述本振信号源产生的本振信号进行混频，产生并输出两路正交的中频信号；正交耦合器，用于将所述正交混频器的两路输出信号进行功率合成，产生并输出一路单边带信号；中频放大器，用于将所述正交耦合器输出的单边带信号进行放大。本发明可以大大降低成本和实现难度，同时改变正交混频器的I/Q输出端口和正交耦合器的两个输入端口的连接次序可以实现单边带输出，可以很好地抑制镜像信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104062620A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410338806.1
申请日：2014-07-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种功率校准测试系统，包括设定目标功率与目标频段的系统设置装置、连接于所述系统设置装置与功率传感器测量输出功率的功率计、连接于所述功率计产生微波信号的微波矢量网络分析仪、连接于所述微波矢量网络分析仪的倍频器、连接于所述倍频器的三端口定向耦合器、连接于所述微波矢量网络分析仪及所述三端口定向耦合器的谐波混频器。本发明通过实施闭环反馈回路，实现了对待测件输入端口参考面输入功率的实时闭环的监控和调整，可实现任何频段内的功率实时闭环功率校准和电路、器件的精确测量，大大提高了系统的通用型、有效性、一致性及精确性。
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公开(公告)号：CN104034925A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410287392.4
申请日：2014-06-24
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种W波段多端口平面电路测试夹具，该测试夹具至少包括：具有腔体的夹具本体，所述腔体中放置有微带传输线；在所述夹具本体上设置有与所述微带传输线方向一致的第一端口和第二端口；在与所述第一端口、第二端口所在的中心线方向垂直的夹具本体上设置有至少一个第三端口。本发明的测试夹具上设置有多个输入输出端口，夹具腔体内的微带部分可连接需要测试的电路或芯片，易于进行多种不同电路和芯片的测试。将输入输出端的波导接口通过波导到微带的转换结构实现由波导结构到平面电路的转换。本发明可独立通用，易于加工，体积小，损耗小，装卸方便，可轻松的实现高频电路或芯片的测试工作。
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公开(公告)号：CN103986489A
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201410226027.2
申请日：2014-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H04B1/16
Abstract: 本发明提供一种频率扩展结构，所述频率扩展结构包括混频器以及巴伦结构；其中：所述混频器包括RF输入端口、LO输入端口及两个输出端口，待处理信号输入到所述RF输入端口，本振信号输入到所述LO输入端口，两个输出端口分别输出I/Q两路信号；所述巴伦结构包括隔离输出端口、中频输出端口及两个输入端口，两个输入端口分别连接所述混频器的两个输出端口，所述隔离输出端口连接匹配负载，所述中频输出端口输出中频信号。本发明的一种频率扩展结构，可以有效的降低待处理信号的噪声，减小变频时的变频损耗，获得比较好的噪声系数，实现频率变换的功能且输出的中频信号为单边带信号，从而大大提高了信号的精确度，满足后续处理的要求。
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公开(公告)号：CN103986489B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201410226027.2
申请日：2014-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H04B1/16
Abstract: 本发明提供一种频率扩展结构，所述频率扩展结构包括混频器以及巴伦结构；其中：所述混频器包括RF输入端口、LO输入端口及两个输出端口，待处理信号输入到所述RF输入端口，本振信号输入到所述LO输入端口，两个输出端口分别输出I/Q两路信号；所述巴伦结构包括隔离输出端口、中频输出端口及两个输入端口，两个输入端口分别连接所述混频器的两个输出端口，所述隔离输出端口连接匹配负载，所述中频输出端口输出中频信号。本发明的一种频率扩展结构，可以有效的降低待处理信号的噪声，减小变频时的变频损耗，获得比较好的噪声系数，实现频率变换的功能且输出的中频信号为单边带信号，从而大大提高了信号的精确度，满足后续处理的要求。
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公开(公告)号：CN104122442A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410354326.4
申请日：2014-07-24
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种毫米波自由振荡源自动测试系统及测试方法，其中，所述毫米波自由振荡源自动测试系统至少包括：待测毫米波自由振荡源；直流电压源，连接于所述待测毫米波自由振荡源；定向耦合器，其输入端口连接于所述待测毫米波自由振荡源；衰减器，连接于所述定向耦合器的耦合输出端口；混频器，连接于所述衰减器；频谱分析仪，连接于所述混频器；功率传感器，连接于所述定向耦合器的直通输出端口；功率计，连接于所述功率传感器。本发明能够通过单次连接就可以实现毫米波自由振荡源多个性能参数同步测试，并能同步保存测试数据以便后续处理，可实现毫米波全频段内毫米波自由振荡源输出频率、输出功率、直流功耗的自动化测试。
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