一种驱动电路、驱动方法及微反射镜阵列

    公开(公告)号:CN110347082A

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201910629209.7

    申请日:2019-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种驱动电路,所述驱动电路包括逻辑控制单元、数模选择器、数模转换器、支路选择器和电压输出支路;所述电压输出支路与微反射镜连接;每个所述数模转换器连接有多个所述电压输出支路;所述数模选择器连接有多个所述数模转换器;所述支路选择器设置于所述逻辑控制单元和所述电压输出支路之间,所述支路选择器用于选通对应的电压输出支路工作;所述逻辑控制单元与所述数模选择器,所述逻辑控制单元还与所述电压输出模块连接。本发明还公开了一种驱动方法及微反射镜阵列。采用本发明,具有能够降低电路的功耗和面积,有利于降低IC的成本;以及实现微反射镜阵列的偏转角度连续可调和偏转姿势长时间保持的优点。

    一种半导体开关器件的工作结温监测系统和方法

    公开(公告)号:CN116754915A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310702533.3

    申请日:2023-06-14

    Abstract: 本发明涉及一种半导体开关器件工作结温监测系统、监测方法及过温保护方法。所述监测系统包括控制单元、驱动单元、电压检测单元和模数转换单元;其中,驱动单元与半导体开关器件的栅极连接;电压检测单元的第一采集端口、第二采集端口分别与半导体开关器件的栅极、源极连接,用来获取栅极电压并输出给模数转换单元;模数转换单元用来将所述栅极电压转化为数字信号,生成栅极电压数据输出给控制单元;控制单元对电压数据进行分析得到关断米勒平台电压,进一步分析得到半导体开关器件的结温。本发明能够快速准确的监测半导体开关器件工作结温,并为该开关器件提供过温保护,能够有效防止器件烧毁,保证器件所在电路系统安全稳定的工作。

    一种驱动电路、驱动方法及微反射镜阵列

    公开(公告)号:CN110347082B

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN201910629209.7

    申请日:2019-07-12

    Abstract: 本发明公开了一种驱动电路,所述驱动电路包括逻辑控制单元、数模选择器、数模转换器、支路选择器和电压输出支路;所述电压输出支路与微反射镜连接;每个所述数模转换器连接有多个所述电压输出支路;所述数模选择器连接有多个所述数模转换器;所述支路选择器设置于所述逻辑控制单元和所述电压输出支路之间,所述支路选择器用于选通对应的电压输出支路工作;所述逻辑控制单元与所述数模选择器连接,所述逻辑控制单元还与所述电压输出支路连接。本发明还公开了一种驱动方法及微反射镜阵列。采用本发明,具有能够降低电路的功耗和面积,有利于降低IC的成本;以及实现微反射镜阵列的偏转角度连续可调和偏转姿势长时间保持的优点。

    一种过流检测电路及保护装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118549697A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410526874.4

    申请日:2024-04-29

    Abstract: 本发明涉及一种过流检测电路及保护装置。其中,过流检测电路包括:第一采样模块,用来提取半导体开关的栅极电压;第二采样模块,用来提取所述半导体开关的漏极电压;分析模块,用来比较所述栅极电压和第一参考电压的大小,以及所述漏极电压和第二参考电压的大小,当所述栅极电压大于所述第一参考电压且所述漏极电压大于所述第二参考电压时生成过流信号;所述第一参考电压大于所述半导体开关的米勒平台电压,且随所述半导体开关结温的增加而减小。本发明能够准确、迅速的检测过流现象,且能适应高温变化。

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