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公开(公告)号：CN118604468A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410995473.3
申请日：2024-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请提供一种电磁场复合探头、电磁测量方法和电磁测量装置，涉及电磁测量技术领域，该电磁场复合探头包括第一感应线圈和第二感应线圈，第一感应线圈具有第一端口和第二端口，第二感应线圈具有第三端口和第四端口，第一端口、第二端口、第三端口和第四端口分别用于输出两个感应线圈共同感应探测区域沿两个方向的电磁场生成的第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号，第一电信号、第二电信号、第三电信号和第四电信号用于确定沿两个方向的电磁场强度。本申请的电磁场复合探头可探测两个方向的电磁场分量，能够提高电磁场测量时的探测效率。
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公开(公告)号：CN112285611B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202010983672.4
申请日：2020-09-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及失效分析技术领域，具体公开一种器件失效分析定位方法，包括：对扫描探头进行校准，获取校准数据；控制扫描探头对待测器件进行扫描，并获得第一参数信息，第一参数信息用于表征待测器件扫描高度平面的电磁场信息；根据第一参数信息和校准数据，确定待测器件目标高度平面的电磁场信息；根据待测器件目标高度平面的电磁场信息，确定待测器件表面的电学分布；根据待测器件表面的电学分布，确定待测器件的失效位置。基于电磁注入和探测的原理，结合待测器件表面的电磁场信息实现对待测器件的失效位置的分析，相对于传统的失效分析方法而言，成本较低，且无需对待测器件进行破坏，整体失效定位方法可靠性较高。
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公开(公告)号：CN118033497A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156024.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场测量探头、方法、装置和系统。属于电磁探测技术领域，所述电磁场测量探头包括：连接器和叠层设置的多层电路板；其中，多层电路板包括第一环路板和第二环路板。本申请中的第一环路板上具有第一差分环路，第一差分环路用于探测干扰源的第一电磁信号，并将第一电磁信号输出至连接器。本申请中的第二环路板上具有第二差分环路，第二差分环路用于探测干扰源的第二电磁信号，并将第二电磁信号输出至连接器。基于本申请的电磁场测量探头可同时测量电场分量和磁场分量，降低了测量电场分量和磁场分量时的复杂度，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN109655770B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201910092916.7
申请日：2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种差分磁场探头，包括中层介质板、第一磁场探测部以及第二磁场探测部；中层介质板夹设于第一磁场探测部与第二磁场探测部之间，且第一磁场探测部中设有磁场探测线的端部、第二磁场探测部中设有磁场探测线的端部分别与中层介质板机械连接；其中，第一磁场探测部用于感应外界磁场产生第一电信号，并将第一电信号输出；第二磁场探测部用于感应外界磁场产生第二电信号，并将第二电信号输出；第一电信号和第二电信号组成差分信号，采用差分共模抑制设计，对应产生并输出组成差分信号的第一信号和第二信号，利用差分信号滤除在探测磁场过程中的干扰信号，从而提高了差分磁场探头的电场抑制比。
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公开(公告)号：CN112526221B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202011154645.2
申请日：2020-10-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场复合探头和探测系统。所述电磁场复合探头，包括设有若干屏蔽接地通孔的PCB板，所述PCB板包括信号探测部和信号传输部；所述信号探测部包括硅基探头，所述硅基探头上设置有一探测线圈，所述探测线圈与所述信号传输部相连接构成一探测环路，所述探测环路用于探测待测件的电磁场得到得到射频信号；所述信号传输部，与所述信号探测部相连接，用于将得到的所述射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。由于所述硅基探头上能够设计尺寸很小的探测环路，因而能够较好地提高所述电磁场复合探头的探测灵敏度，同时还能提高所述电磁场复合探头的空间分辨率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115032476A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210435547.9
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种射频器件的数据处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，基板测试数据为对封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据；获取装设于封装基板的射频元件的射频测试数据，射频测试数据为对射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合；根据基板测试数据，对射频测试数据进行去嵌入处理，得到目标射频器件的射频特性数据。采用本方法能够提高射频器件的数据处理效率。
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公开(公告)号：CN110456189B
公开(公告)日：2022-02-15
申请号：CN201910669976.0
申请日：2019-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种近场屏蔽效能测试装置、系统及方法，利用设置在基板表面上方的微带线和带状线所形成的场线耦合效应，进行电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。同时，由于带状线和微带线均可工作至高频，能够支持高频处电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。基于此，测试人员可将矢量网络分析仪的各端口分别连接至微带线的第一端、带状线的第一端和/或带状线的第二端，使矢量网络分析仪获取到各端口间的耦合传输系数，以分析微带线和带状线间的场线耦合效应，对比加载或未加载待测试样时的场线耦合效应，得到电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的测量结果，即待测试样的近场屏蔽效能测试结果。
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公开(公告)号：CN114019337A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111233595.1
申请日：2021-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种屏蔽件测量装置与测量系统，包括微带线、匹配负载、复合探头和网络分析仪，网络分析仪将电磁信号发送至微带线后，根据法拉第电磁感应定律，复合探头中将会产生电磁波，并通过两个输出端传输至网络分析仪，根据差模和共模理论，在复合探头两个输出端传输的电磁波均包含电场和磁场，由此网络分析仪可以得到在有屏蔽件和无屏蔽件存在时，微带线与复合探头之间的耦合传输系数，并根据耦合传输系数得到屏蔽件的电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能，实现近场环境下电场与磁场屏蔽效能的同时测量，使用可靠。
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公开(公告)号：CN114019276A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111275341.6
申请日：2021-10-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开关于一种近场探头空间分辨率的表征方法、计算机设备及校准件。该方法包括：用磁场探头扫描被测物的zi平面，得到所述被测物磁场探头输出的第一场强数据；用磁场探头扫描微带线校准件的Zj平面，得到所述微带线校准件磁场探头输出的第二场强数据；根据平面波谱变换方式，将所述第一场强数据和第二场强数据变换到平面波谱域；对所述微带线校准件进行仿真得到Zj平面的参考场强数据；根据所述第一波谱域数据、第二波谱域数据和参考场数据计算得到被测物的场强数据；基于所述被测物的场强数据的值表征空间分辨率的场强值。利用本公开方案可以精确的表征出近场探头空间分辨率的值。
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公开(公告)号：CN113900058A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111083991.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质，方法包括对所述近场探头施加近场，获取所述近场探头在第一角度条件下的所述近场的第一特征参数，以及所述近场探头的第一总输出信号和第二总输出信号；将所述第一总输出信号和第二总输出信号通过校准矩阵、所述第一特征参数进行表征，构建第一传递模型；获取所述近场探头在第二角度条件下的所述近场的第二特征参数，以及所述近场探头的第三总输出信号和第四总输出信号；构建第二传递模型；根据所述第一传递模型和第二传递模型计算获得所述校准矩阵的参数因子。本公开消除了第一传输链路和第二传输链路不对称产生的影响，提高了近场探头扫描的准确度。
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