具有芯片ID生成电路的半导体器件及多芯片封装

    公开(公告)号:CN106971751B

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN201610917264.2

    申请日:2016-10-20

    Abstract: 提供了一种包括芯片标识(ID)生成电路的半导体器件。半导体器件可以是包括多个存储芯片的多芯片封装,并且每个存储芯片包括被配置为选择性地修改相应存储芯片的芯片ID的芯片ID生成电路。芯片ID生成电路通过使用模式寄存器测试存储芯片的芯片ID来确定存储芯片的芯片ID,并且通过使用至少两个熔断组来选择性地编程存储芯片的芯片ID。当存储芯片被确定为有缺陷的芯片或者被选择为停止其使用时,芯片ID生成电路可以阻止存储芯片的芯片ID的输出。

    存储器件刷新操作
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117476066A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202310201085.9

    申请日:2023-03-01

    Abstract: 在存储器件中,控制电路在随机时间处检测并确定攻击者行地址,该攻击者行地址指示存储单元阵列的攻击者行。攻击者行地址或从该攻击者行地址导出的值存储在队列中。控制电路响应于目标刷新命令,基于攻击者行地址来控制一个或多个受害者行的刷新操作。

    存储器装置及其修复方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112735504A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202010946856.3

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 提供了存储器装置及其修复方法。存储器装置包括行解码器、列解码器和修复控制电路,修复控制电路被配置为:(i)将行地址与存储的故障行地址进行比较,(ii)将列地址与存储的故障列地址进行比较,(iii)当行地址对应于故障行地址时控制行解码器激活多条冗余字线中的至少一条,以及(iv)当列地址对应于故障列地址时控制列解码器激活多条冗余位线中的至少一条。修复控制电路在修复操作期间根据输入的地址来改变修复单元。

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