半导体封装件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111128937B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN201911029210.2

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 本发明提供一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:框架,包括布线层,并且具有在底表面上设置有止挡层的凹入部;半导体芯片,具有其上设置有连接垫的有效表面和与有效表面相对的无效表面,无效表面设置在凹入部中并面向止挡层;第一连接部,位于连接垫上;第二连接部,位于最上面的布线层上;加强件,位于框架的上表面上,并围绕第二连接部的至少一部分,加强件与第二连接部间隔开;包封剂,覆盖框架和半导体芯片中的每个的至少一部分,并填充凹入部的至少一部分;以及连接结构,位于框架和半导体芯片上,并包括电连接到第一连接部和第二连接部的重新分布层。

    具有垂直沟道的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN109494220B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN201810639708.X

    申请日:2018-06-20

    Abstract: 本公开提供一种半导体器件及其制造方法,所述半导体器件包括:衬底;垂直沟道结构,包括在第一方向上延伸的一对有源鳍及夹置在所述一对有源鳍之间的绝缘部分,所述第一方向垂直于所述衬底的上表面;上源极/漏极,设置在所述垂直沟道结构上;下源极/漏极,设置在所述垂直沟道结构下方及所述衬底上;栅极电极,设置在所述上源极/漏极与所述下源极/漏极之间且环绕所述垂直沟道结构;以及栅极介电层,设置在所述栅极电极与所述垂直沟道结构之间。所述栅极电极与所述上源极/漏极之间在所述第一方向上的间隔可小于所述栅极电极与所述下源极/漏极之间在所述第一方向上的间隔。本公开的半导体器件具有适于按比例缩放的结构。

    半导体封装件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111128937A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911029210.2

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 本发明提供一种半导体封装件,所述半导体封装件包括:框架,包括布线层,并且具有在底表面上设置有止挡层的凹入部;半导体芯片,具有其上设置有连接垫的有效表面和与有效表面相对的无效表面,无效表面设置在凹入部中并面向止挡层;第一连接部,位于连接垫上;第二连接部,位于最上面的布线层上;加强件,位于框架的上表面上,并围绕第二连接部的至少一部分,加强件与第二连接部间隔开;包封剂,覆盖框架和半导体芯片中的每个的至少一部分,并填充凹入部的至少一部分;以及连接结构,位于框架和半导体芯片上,并包括电连接到第一连接部和第二连接部的重新分布层。

    具有垂直沟道的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN109494220A

    公开(公告)日:2019-03-19

    申请号:CN201810639708.X

    申请日:2018-06-20

    Abstract: 本公开提供一种半导体器件及其制造方法,所述半导体器件包括:衬底;垂直沟道结构,包括在第一方向上延伸的一对有源鳍及夹置在所述一对有源鳍之间的绝缘部分,所述第一方向垂直于所述衬底的上表面;上源极/漏极,设置在所述垂直沟道结构上;下源极/漏极,设置在所述垂直沟道结构下方及所述衬底上;栅极电极,设置在所述上源极/漏极与所述下源极/漏极之间且环绕所述垂直沟道结构;以及栅极介电层,设置在所述栅极电极与所述垂直沟道结构之间。所述栅极电极与所述上源极/漏极之间在所述第一方向上的间隔可小于所述栅极电极与所述下源极/漏极之间在所述第一方向上的间隔。本公开的半导体器件具有适于按比例缩放的结构。

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