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公开(公告)号:CN104576614A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410398653.X
申请日:2014-08-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L23/544 , H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2884
Abstract: 本发明提供了一种半导体器件、半导体器件的测试结构和测试半导体器件的方法。可提供这样的测试结构,其包括彼此分离的第一焊盘和第二焊盘以及连接在第一焊盘与第二焊盘之间的第一测试元件和第二测试元件,第一测试元件的特征参数的第一值与第二测试元件的该特征参数的第二值不同。
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公开(公告)号:CN1166645A
公开(公告)日:1997-12-03
申请号:CN96122620.X
申请日:1996-10-09
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 李一权
CPC classification number: G06F1/1616 , G06F1/1664 , H01H2223/05
Abstract: 本发明涉及的是可以分开两部分的可分开式键盘和具有这种键盘的计算机。这个发明特别地是为了笔记本式计算机或膝上式计算机的。本发明的一个实质特点是,使用者可以控制两个分开键盘的分开程度和角度。其他特点有,其设计使得使用者可以感觉到键盘在分开,或锁入几个可以间隔分开位置之一,设计还可以防止分开的键盘发生偏歪或摇摆。
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公开(公告)号:CN1109954C
公开(公告)日:2003-05-28
申请号:CN96122620.X
申请日:1996-10-09
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor: 李一权
CPC classification number: G06F1/1616 , G06F1/1664 , H01H2223/05
Abstract: 本发明涉及的是可以分开两部分的可分开式键盘和具有这种键盘的计算机。这个发明特别地是为了笔记本式计算机或膝上式计算机的。本发明的一个实质特点是,使用者可以控制两个分开键盘的分开程度和角度。其他特点有,其设计使得使用者可以感觉到键盘在分开,或锁入几个可以间隔分开位置之一,设计还可以防止分开的键盘发生偏歪或摇摆。
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