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公开(公告)号：CN101688836A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200780053706.2
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/6408 , G01N2021/6441
Abstract: 一种FRET检测方法和检测装置，其中，在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时，获得预先被存储在存储装置的校准信息，所述校准信息至少包括：测量对象样品的荧光中，供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外，利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率，求出供体荧光成分的FRET荧光寿命，且求出FRET效率。
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公开(公告)号：CN101622339A
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200880006269.3
申请日：2008-06-11
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N15/147 , C12M47/04 , G01N2015/149
Abstract: 一种具有细胞分级分离处理功能的流式细胞仪和活细胞分级分离处理方法，其中，朝向含有活细胞群的样品液流照射测量用激光，接受测量用激光的照射，分别获取由样品液流的各个活细胞分别所发出的散射光和荧光中的至少一种光信息，根据所获取的光信息，分别判别出与各个光信息相对应的活细胞是不需要的活细胞还是目标活细胞，根据判别结果，仅对在样品液的活细胞群中被判别为不需要的活细胞的活细胞施加脉冲电压，使不需要的活细胞受到损伤而变为死细胞。
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公开(公告)号：CN101939633B
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN200980104324.7
申请日：2009-02-04
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01N15/1459 , G01N21/51 , G01N2015/149 , G01N2021/4707 , G01N2021/6482
Abstract: 提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，其中，接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光，通知测量对象物通过测量点的情况，且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面，通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
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公开(公告)号：CN102597746A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201080042653.6
申请日：2010-09-13
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N15/147 , G01N2015/0038
Abstract: 本发明提供一种FRET测量方法及装置，能够求出在标记作为测量对象的活细胞的蛋白质的供体分子中与受体分子结合且发生FRET的供体分子的比例，其中，对于第一分子的浓度和第二分子的浓度比不同的多个预先测量样品，计算出第一分子的荧光寿命，并计算出第一分子的荧光寿命的最小值；照射对强度进行了时间调制的激光，并测量出测量样品被激光照射而发出的荧光；利用所测量的荧光信号，计算出第一分子的荧光寿命；利用第一分子的荧光寿命的最小值和所计算出的第一分子的荧光寿命，计算出测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。
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公开(公告)号：CN101622339B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200880006269.3
申请日：2008-06-11
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N15/147 , C12M47/04 , G01N2015/149
Abstract: 一种具有细胞分级分离处理功能的流式细胞仪和活细胞分级分离处理方法，其中，朝向含有活细胞群的样品液流照射测量用激光，接受测量用激光的照射，分别获取由样品液流的各个活细胞分别所发出的散射光和荧光中的至少一种光信息，根据所获取的光信息，分别判别出与各个光信息相对应的活细胞是不需要的活细胞还是目标活细胞，根据判别结果，仅对在样品液的活细胞群中被判别为不需要的活细胞的活细胞施加脉冲电压，使不需要的活细胞受到损伤而变为死细胞。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101688837A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200780053717.0
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6419
Abstract: 一种FRET检测方法及装置，其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时，首先，将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上，且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上，接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后，并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
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公开(公告)号：CN102713575A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180005789.4
申请日：2011-01-13
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01J3/02 , G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N21/53 , G01N21/645 , G01N2021/6491
Abstract: 本发明涉及一种荧光检测装置和荧光检测方法。荧光检测装置能够提高测量对象物受激光照射时发出的荧光的测量精度。该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，包括：激光光源，向测量对象物照射激光；第一受光部，接收测量对象物受激光照射时的散射光；第二受光部，接收测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，对应第一受光部所接收的所述散射光强度，对第二受光部所接收的所述荧光信号进行加权平均。
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公开(公告)号：CN102713574A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180005407.8
申请日：2011-01-05
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64 , G01N15/14 , G01N33/483
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1429
Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法，荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光，并输出输出电平被调节的荧光信号，信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合，生成包括相位和强度信息的荧光数据，分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差，对于所计算出的第一相位偏差，进行与输出电平的调节条件相应的校正，以计算出第二相位偏差，分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。
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公开(公告)号：CN101688837B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200780053717.0
申请日：2007-08-30
Applicant: 三井造船株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6419
Abstract: 一种FRET检测方法及装置，其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时，首先，将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上，且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上，接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后，并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
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公开(公告)号：CN101960289A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200980107755.9
申请日：2009-02-18
Applicant: 三井造船株式会社
CPC classification number: G01N21/6408 , G01N15/1427 , G01N2015/1438
Abstract: 本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
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