发明公开
- 专利标题: 一种HEMT器件及其制备方法
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申请号: CN202310642924.0申请日: 2023-06-01
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公开(公告)号: CN116525658A公开(公告)日: 2023-08-01
- 发明人: 李敏 , 龚谦 , 吴亮 , 钱蓉 , 马灵美
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 余明伟
- 主分类号: H01L29/10
- IPC分类号: H01L29/10 ; H01L29/08 ; H01L29/66 ; H01L29/778
摘要:
本发明提供一种HEMT器件及其制备方法,HEMT器件包括:部分被去除的衬底层;位于所述衬底层上的外延层,外延层包括成核层,成核层与衬底层接触;源电极区和漏电极区位于外延层上方的两侧;漏电极区设置有图形化得到的空白区域,空白区域贯通外延层并延伸至衬底层被去除的部分。本发明通过衬底层的部分被去除,可以避免被去除部分的衬底层和成核层之间形成导电层,降低衬底层引入的寄生电阻,减少射频损耗;同时,利用在源漏电极区及其外延层中贯穿的空白区域,可以提高器件的散热能力,控制热效应;另外,设置衬底层为低阻硅衬底,避免高阻硅基GaN外延材料的弯曲问题,以扩展晶圆尺寸。
IPC分类: